【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试设备领域，特别涉及一种器件用电监测电路和芯片测试系统。
技术介绍
1、在芯片的生产中，当芯片封装完成后，都需要送入测试工序进行测试验证，以确定芯片是否合格。
2、目前，芯片测试方案通常都是将芯片放置到测试座中，以对芯片的各项功能是否正常进行测试。由于不同领域对采用的芯片有不同等级的功耗要求，然而现有的芯片测试方案在测试过程中，无法实时获得芯片的用电数据，不能得到芯片的功耗情况，因此，无法根据芯片的功耗大小区分芯片的应用等级。
技术实现思路
1、本技术提供一种器件用电监测电路和芯片测试系统，旨在实现在芯片测试过程中监测芯片的用电数据，从而测试得到芯片的功耗情况。
2、为实现上述目的，本技术提出的器件用电监测电路，包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，所述检测单元包括：
3、采样负载，用于串接在所述器件的电源输入端；
4、监测子单元，电连接所述采样负载和所述主控单元，所述监测子单元通过监测所述采样...
【技术保护点】
1.一种器件用电监测电路，其特征在于，包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，所述检测单元包括：
2.根据权利要求1所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述主控单元包括至少一条I2C总线，每一条所述I2C总线均电连接多个所述监测子单元。
3.根据权利要求2所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述监测子单元具有地址引脚组，各个监测子单元的地址引脚组的接线均不同。
4.根据权利要求1所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述监测子单元具有第一差分输入端和第二差分输入端，所述第一差分输入端和第二差分输入端分别电...
【技术特征摘要】
1.一种器件用电监测电路，其特征在于，包括主控单元和至少一个检测单元，每一个检测单元均用于单独检测一个器件，所述检测单元包括：
2.根据权利要求1所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述主控单元包括至少一条i2c总线，每一条所述i2c总线均电连接多个所述监测子单元。
3.根据权利要求2所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述监测子单元具有地址引脚组，各个监测子单元的地址引脚组的接线均不同。
4.根据权利要求1所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述监测子单元具有第一差分输入端和第二差分输入端，所述第一差分输入端和第二差分输入端分别电连接所述采样负载的两端。
5.根据权利要求4所述的器件用电监测电路，其特征在于，所述检测单元还包括滤波子单元，所述滤波子单元电连接所述第一差分输入端和所述第二差分输入端。
6.根据权利要求5所述的器件用电监测电路，...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐永刚，徐怡静，刘冲，李振华，衡阳，
申请(专利权)人：成都态坦测试科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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