安捷伦科技有限公司专利技术

安捷伦科技有限公司共有1064项专利

  • 一种设备,包括:    透明到半透明的基底;    多个固态光发射器,其安装在所述基底上,以主要发射远离所述基底的光;    透明到半透明的密封剂,其覆盖所述光发射器;以及    反射涂层,其被涂覆到所述密封剂的表面,以将所述多个光发射...
  • 一种电气继电器,包括两个支撑导电液体(126)的可湿电触头(118、120)。执行器(130、132或140)的动作使不可湿开关指状物(114)在两个电触头之间的第一和第二位置之间移动。在第一位置中,开关指状物准许导电液体(126)桥接...
  • 一种电气继电器,具有两个可湿电触头(118和120),每个都支撑导电液体(126)。执行器(130、132或140)的动作使可湿开关指状物(114)从未偏转位置移动到第一和第二位置。在第一位置中,开关指状物(114)触及导电液体(126...
  • 本发明提供了一种用于在半导体衬底上形成温度补偿电阻器的方法。在半导体衬底上形成电阻器元件。在电阻器元件的末端形成终端触点。形成温度补偿配置,所述温度补偿配置选自电阻器元件中与终端触点相间隔并且在终端触点中间的放大横向部分;以及与电阻器元...
  • 本发明公开了一种具有增强的光谱发射的发光二极管闪光模块。发光二极管(“LED”)器件包括多个LED。所述多个LED中的每个LED与所述多个LED中的至少另一个LED相邻。并且所述个LED中的至少一个LED具有大于50nm的半高宽的辐射。
  • 本发明提供了一种具有隔室的发光二极管显示器。显示段包括载板、附接于载板的第一发光二极管,以及附接于载板的第二发光二极管。在第一发光二极管和第二发光二极管之间,在载板上布置有中间反射器结构。中间反射器结构具有靠近第一发光二极管的第一中间反...
  • 本发明公开了一种由控制单元、存储器单元和输入/输出单元组成的半导体特性评估装置中的数据管理方法,包括选择包括用于测试多个晶片类型的测试程序在内的工作空间的步骤;将所选的工作空间中的测试结果存储为历史的步骤;以及从存储的测试结果的历史中搜...
  • 本发明公开了一种半导体测试系统,包括:输入器;显示器;多个测试单元;存储器,其中存储了指定所述测试单元的操作过程的多个应用和与所述应用相关的多个分类;和控制器,其具有以下功能:显示所述分类,将与基于来自所述输入器的输入选择的分类相关的应...
  • 本发明公开了一种以空心的、充满气体的玻璃或陶瓷微球体制造的半导体衬底,这些微球体在干燥后或焙烧后的基质中被粘合在一起。微球体可以是涂覆有玻璃的微球体,其通过烧结外部玻璃层被粘合在一起。半导体表面可以通过给表面上釉变光滑。
  • 本发明公开了一种用于探测测试访问点结构的扭转夹具探头的方法和装置,该扭转夹具探头用于从焊珠探头的表面清除氧化物、残余物或其他污染物,并在电路内测试过程中探测印刷电路板上的焊珠探头。
  • 本发明公开了一种用于对被测器件进行可靠性测试的方法和使用该方法的装置,所述方法包含以下步骤:第一步骤,在将第一电压施加到被测器件达预定时间之后施加第二电压,并测量流经该被测器件的电流;第二步骤,对同一被测器件接连进行两次或更多次第一步骤...
  • 本发明公开了一种具有形成光可以从其发射的凹部的多个交叠的面板的发光装置。在一个实施例中,发光装置包括基底,所述基底具有i)多个交叠的面板,其相对于与所述交叠的面板相交的假想平面形成锐角,和ii)形成在所述交叠的面板的交叠部分之间的多个凹...
  • 本发明公开了一种发光板。在一个实施例中,发光板包括基板和安装到所述基板的多个发光元件。所述多个发光元件中的每一个产生具有基本均匀强度区域的光照图案,所述基本均匀强度区域在至少约60°的辐射角度内延伸。一个或多个光调节器邻近基板定位,用于...
  • 本发明公开了一种采用成像阻焊层的方法和电路结构。在一个实施例中,在电路结构上淀积可成像材料。然后使可成像材料曝光于辐射图案,从而使可成像材料的部分聚合。然后去除可成像材料的未聚合部分,以界定具有焊剂淀积区域的阻焊层。然后在焊剂淀积区域中...
  • 本发明公开了一种在集成电路器件和其它部件之间分配高频信号和低频信号的封装。封装包括具有厚膜互连的厚膜衬底和具有印刷电路互连的印刷电路板。公开了一种用于分配高频信号和低频信号的微电路系统。微电路系统包括集成电路器件、具有厚膜衬底和印刷电路...
  • 本发明公开了一种对探测器(14)和测试头(13)进行连接的接口(100),该探测器(14)具有与显示面板(12)上的电极盘相接触的接触探针(15),该测试头(13)向电极盘施加测试信号并检测来自电极盘的输出信号。接口(100)包括功能板...
  • 本发明公开了一种干涉仪,它对于垂直位移测量提供了大的动态范围。在操作中,物体上的测量反射器将测量光束反射到上覆的波罗棱镜,物体上的参考反射器将参考光束返回干涉仪。干涉仪中的第二波罗棱镜可以将用于第二次通过的参考光束返回到参考反射器,而测...
  • 本发明公开了一种改进的球栅阵列封装。该装置包括设置在球栅阵列(“BGA”)封装中的集成电路,该球栅阵列封装在至少一个拐角上具有未分配信号的互连部分。
  • 一种用于基质辅助激光解吸电离质谱仪的衬底(16)。该衬底具有一主体(109),该主体(109)具有支撑表面(107)和固定在支撑表面上的氮化物化合物层。氮化物化合物的主要重量含量来自氮化钛、氮化锆和氮化铪的组。
  • 本发明提供了一种和质谱仪一起使用的装置和方法。本发明的多模式电离源(2)提供一个或多个大气压电离源(3,4)。这些源可以是电喷射电离源、大气压化学电离源和/或大气压光电离源,并且被用于电离来自样品(21)的分子。还公开了一种使用多模式电...