微波元件测试装置及微波元件测试调整机构制造方法及图纸

本实用新型专利技术提出一种微波元件测试装置及微波元件测试调整机构，该机构包含一座体、至少一个滑导件、至少一个连杆和至少一个弹压件。座体具有至少一个容置部与至少一个开孔。连杆包含一第一端部与一第二端部，其中第一端部穿置于滑导件中，使该连杆得以保持相同方向的平滑运动。弹压件位于连杆的第二端部侧，并压抵于该连杆。弹压件与连杆的第二端部容置于座体的容置部，而滑导件嵌置于座体的开孔上。本实用新型专利技术提出的微波元件测试装置及微波元件测试调整机构，可使测试装置作上下与偏移调整以容纳微波元件的制造公差，并在测试后仍保持在一定的中心位置，而且不会因为长时间的使用而发生偏移。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种微波元件测试装置，特别是关于一种微波元件测试装置及微波元件测试调整机构。
技术介绍
最终产品的测试是产品质量管理最重要且不可忽略的一环，在面对多样化和以客制化为主的厂商，用于最终产品测试的测试装置就要能适应不同规格产品来进行测试，所以在这样的状况下测试装置的可调整性便十分重要。除了测试装置要能适应不同规格产品而调整外，产品本身生产时所产生的误差在测量时也需要注意。例如，通讯产品之中以铸造方式来制造的导波件，因采用铸造的方法来制造，故制成的导波件会有较大的生产误差。在测量具有这种导波件的微波元件时，测量装置就要能够容许这类大的误差存在，使其在测量时不至于影响到测量值的正确性。图1显示一传统的微波元件测试装置示意图。微波元件11的测试是由测试接头12与导波管13的组合来接收并引导微波元件11所产生的收/发微波信号，被引导的信号再经由仪器测量并分析以判断微波元件11的性能是否符合规格。为使测试接头12能适应微波元件11在铸造中产生的尺寸误差，因此在导波管13的一端设置硅胶14。由于硅胶14的弹性与易变形的特性，使测试接头12得以在一定范围之内作偏移，通过此偏移来容纳微波元件11的尺寸误差。可是，这样的传统测试装置在使用一段时间后，由于硅胶14的变形，使得测试接头12无法在测试结束后偏移回到中心位置，很容易在下次测试时被卡在元件接口15处而造成无法测量的状况，如图1所示。此外，以上述的偏移方式所能容纳的制造误差是有限的，如误差过大的话测试接头12将无法密合元件接口15而使微波外泄，影响到测试结果。鉴于上述问题，本技术针对微波元件测试装置及微波元件测试调整-->机构提出一种新的整合设计，以消除传统测试装置的问题。
技术实现思路
本技术的目的在于，提供一种能有效确保测量准确性的微波元件测试调整机构和微波元件测试装置。本技术提出一种微波元件测试调整机构，该调整机构包含一座体、至少一个滑导件、至少一个连杆和至少一个弹压件。座体具有至少一个容置部与至少一个开孔。连杆包含一第一端部与一第二端部，其中该连杆穿置于该滑导件中，使该连杆得以保持相同方向的平滑运动。弹压件位于连杆的第二端部侧，且压抵于该连杆，而该弹压件为一可回复的弹性体。该弹压件与该第二端部容置于该容置部，且该滑导件嵌置于该开孔。本技术提出一种微波元件测试装置，其包含一微波元件测试调整机构、一连接模块、一导波管与一测试接头。连接模块与连杆的第一端部的底部相锁固。导波管具有一上凸缘、一下凸缘与一管道部，其中该管道部固夹于该连接模块。测试接头具有一接头管部与一接头凸缘，其中接头凸缘与导波管下凸缘锁固，且该接头管部固夹于连接模块。本技术的有益效果在于：1.本技术提出的微波元件测试装置及微波元件测试调整机构，可使测试装置作上下与偏移调整以容纳微波元件的制造公差，并在测试后仍保持在一定的中心位置，而且不会因为长时间使用后而发生偏移。2.本技术的调整机构中的弹压件的使用可使滑导件与连杆稳固，并可提供一固定的压抵力，使测试时的电磁波不泄漏，确保测量时的准确性。附图说明图1显示一传统的微波元件测试装置示意图；图2A为本技术一实施例的微波元件测试装置的示意图；图2B为图2A的微波元件测试装置的分解示意图；图3A为图2A沿3-3剖面线的剖面图；图3B显示弹压件使用非金属材料的实施例；图4为嵌合部的机构示意图；及-->图5为图2A的导波管与测试接头部分的右侧视图。其中，附图标记说明如下：11微波元件          12测试接头13导波管            14硅胶15元件接口20测试装置          21测试接头22第一夹持件        23连接板24导波管            25第二夹持件26连杆              27第一端部28第二端部          29环凸30滑导件            31固定板32开孔              33座体34第一嵌合部        35、35′弹压件36第二嵌合部        37嵌合座40调整机构          41容置部42螺钉              43螺孔44螺钉50连接模块          51上凸缘52凹部              53螺钉54下凸缘            55管道部56接头凸缘          57接头管部58、59、60螺钉具体实施方式图2A为本技术一实施例的微波元件测试装置的示意图。测试装置20中测试接头21与导波管24分别由第一夹持件22与第二夹持件25所固夹，而第一夹持件22与第二夹持件25以并列夹持的排列方式固定于连接板23的两个相对边。多根连杆26的一端固定在第二夹持件25上，且另一端穿设于嵌置在座体33上的滑导件30。座体33和嵌合座37相互嵌合并连结，使座体33与其下所连结的组合体得以被提撑，该组合体包含如测试接头21与-->导波管24等。图2B为图2A的微波元件测试装置的分解示意图。如图2B所示，连接模块50包含第一夹持件22、第二夹持件25和连接板23。第一夹持件22与第二夹持件25均由两个元件所构成，而所述第一夹持件22与第二夹持件25分别固夹测试接头21与导波管24。调整机构40中的连杆26穿置于滑导件30中，使该连杆26依靠该滑导件30而保持固定方向上的平滑运动。滑导件30可包含如滑座、导套或轴承，而轴承可使用铁氟龙线性轴承、线性气浮式轴承或线性滚珠轴承等。连杆26上介于弹压件35与滑导件30之间设有一环凸29，该环凸29与该连杆26可为一体成型。座体33包含开孔32与容置部41，而弹压件35设置在容置部41中。弹压件35为一可回复的弹性体，其包含如实施例所示的弹簧，但也可包含非金属如橡胶、硅胶等。座体33的上方具有第一嵌合部34，其与位于嵌合座37上的第二嵌合部36相对应。当第一嵌合部34与第二嵌合部36相互嵌合后，座体33即可被提撑住且可以沿一方向移动。图3A为图2A沿3-3剖面线的剖面图。参照图2A、图2B和图3A所示，测试装置20的垂直调整依赖于弹压件35，本实施例中的弹压件35使用弹簧。弹压件35安置在座体33的容置部41内，并套设在容置于容置部41中的连杆26的第二端部28上，且和连杆26上的环凸29相抵接。容置部41包含一开孔32，而滑导件30嵌置在开孔32中，并以螺钉42将环套在滑导件30上的固定板31锁固在座体33上，使得抵靠于滑导件30上的环凸29可对弹压件35做稍许抵压，以稳固整个组合使其在移动中不致晃动。在测试铸造的微波元件11时，每个元件接口15在高度上会有些误差，而此误差通常可达0.1～0.2毫米，而弹压件35即可让测试接头21作微幅上下调整以容许这些误差的存在。在测试当时，受压缩的弹压件35所产生的弹压力也可让测试接头21得以紧压元件接口15，使电磁波不外漏而影响测试结果。铸造的微波元件11在水平方向上的误差通常可能会有0.05～0.1毫米，而针对此类误差可使用间隙公差较大的滑导件30，这种滑导件30会使连杆26得以偏移一微小的角度θ来容纳元件接口15的误差，或者可使用自动调整轴心的滑导件30来达到这一目的。以本实施例而言，滑导件30本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微波元件测试调整机构，其特征在于，该微波元件测试调整机构包含：　一座体，其具有至少一个容置部与至少一个开孔；　至少一个滑导件；　至少一个连杆，其包含一第一端部与一第二端部，其中该连杆穿置于该滑导件中，使该连杆得以保持相同方向的平滑 运动；以及　　至少一个弹压件，其位于该连杆的第二端部侧，且压抵于该连杆，其中该弹压件为一可回复的弹性体；　其中，该弹压件与该第二端部容置于该容置部，且该滑导件嵌置于该开孔。

【技术特征摘要】
1.一种微波元件测试调整机构，其特征在于，该微波元件测试调整机构包含：一座体，其具有至少一个容置部与至少一个开孔；至少一个滑导件；至少一个连杆，其包含一第一端部与一第二端部，其中该连杆穿置于该滑导件中，使该连杆得以保持相同方向的平滑运动；以及至少一个弹压件，其位于该连杆的第二端部侧，且压抵于该连杆，其中该弹压件为一可回复的弹性体；其中，该弹压件与该第二端部容置于该容置部，且该滑导件嵌置于该开孔。2.根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于：该连杆上设置有：一环凸，其位于该弹压件与该滑导件间且抵靠于该滑导件，并使该连杆保持一固定位置。3.根据权利要求2所述的微波元件测试调整机构，其特征在于：该连杆与该环凸一体成型。4.根据权利要求2所述的微波元件测试调整机构，其特征在于：该弹压件为一弹簧，且该弹压件套设于该第二端部，且抵接于该环凸上。5.根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于：该弹压件为橡胶件或硅胶件，且该弹压件抵接于该第二端部的顶部。6.根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于：该滑导件为铁氟龙线性轴承、线性气浮式轴承、线性滚珠轴承或滑座。7.根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于：该滑导件为一线性轴承，其间隙公差约在0.03～0.05毫米之间。8.根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于：该滑导件包含可自动调整轴心的线性轴承。9.根据权利要求1所述的微波元件测试调整机构，其特征在于，该微波元件测试调整机构还包含一嵌合座，该嵌合座与该座体相互嵌合，使得该座体可被提撑，且可在一方向上移动。10.根据权利要求9所述的微波元件测试调整机构，其特征在于：该座体具有一第一嵌合部，并且该嵌合座具有一与该第一嵌合部相对应的一第二嵌合部，该第一嵌合部与该第二嵌合部相互嵌合。11.根据权利要求10所述的微波元件测试调整机构，其特征在于：该第一嵌合部与该第二嵌合部的嵌合方式包含燕尾型、工字型和山型的配合。12.一种微波元件测试装置，其特征在于，该微波元件测试装置包含：一微波元件测试调整机构，包含：一座体，其具有至少一个容置部与至少一个开孔；至少一个连杆，其包含一第一端部与一第二端部，其中该连杆穿置于该滑导件中，使该连杆得以保持单一方向的平滑运动；及至少一个弹压件，其位于该连杆的第二端部侧，且压抵于该连杆，其中该弹压件为一可回复的弹...

【专利技术属性】
技术研发人员：古世良，梁竣杰，
申请(专利权)人：台扬科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]