一种元器件自动测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术属于电子元器件的测试设备技术领域，尤其涉及一种元器件自动测试装置。它包括与逻辑控制器PLC连接的送料机构、收料及前后测试机构和上下测试机构，所述收料及前后测试机构包括前后测试针、收料手抓、与前后测试针连接的前后测试气缸、与收料手抓连接的收料气缸。本实用新型专利技术的自动测试装置取代传统的手工耐压测试，能防止在测试、加压过程中人为错测、安全隐患的现象发生，这大大提高了生产效率，起到减员节耗、安全生产的效果。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子元器件的生产设备
，尤其涉及一种元器件自动测试装置。
技术介绍
电阻温度特性是发热元件的基本特性之一，它是指在规定的电压下，发热元件的电阻值及其他电性能参数，现有的测试仪器不适合发热元器件的测试，现有的发热元器件一般都用手工测试。众所周知，手工测试效率低、容易出错，且分选容易出错。本技术的耐压测试定位装置取代传统的手工耐压测试，能防止在测试、加压过程中人为错测，并有安全隐患的现象发生，这大大提高了生产效率，起到减员节耗、安全生产的效果。
技术实现思路
针对现有技术缺陷，本技术解决的技术问题是解决手工测试效率低，误差大的问题。本技术是通过以下技术方案实现的：一种元器件自动测试装置，包括与逻辑控制器PLC连接的送料机构、收料及前后测试机构和上下测试机构，所述收料及前后测试机构包括前后测试针、收料手抓、与前后测试针连接的前后测试气缸、与收料手抓连接的收料气缸。进一步：在上述元器件自动测试装置中，所述的送料机构包括送料手抓与送料手抓连接的送料气缸。它还包括与送料气缸和收料气缸连接的移位上下气缸。移位上下气缸与移位气缸连接。所述定位机构包括检料光纤、到料光纤和产品定位槽、推料气缸和由推料气缸控制的推料杆。所述的上下测试机构包括上下测式针以及与上下测试针连接的上下测试气缸。移位上下气缸同时连接送料气缸和收料气缸，使送料气缸和收料气缸同时动作，即送料手爪与收料手爪同时动作。与现有技术相比，上述元器件自动测试装置，包括与逻辑控制器PLC连接的定位机构、送料机构、收料及前后测试机构和上下测试机构，所述收料及前后测试机构包括前后测试针、收料手抓、与前后测试针连接的前后测试气缸、与收料手抓连接的收料气缸，本技术的自动测试装置取代传统的手工耐压测试，能防止在测试、加压过程中人为错测、安全隐患的现象发生，这大大提高了生产效率，起到减员节耗、安全生产的效果。附图说明图1是本技术的结构示意图；其中：1前测试针、2后测试针、3收料手抓、4前后测试气缸、5收料气缸、6送料手抓、7送料气缸、8检料光纤、9到料光纤、10产品定位槽、11推料气缸、12推料杆、13上测式针、14下测式针、15上下测试气缸、16移位上下气缸、17移位气缸。具体实施方式为了便于本领域技术人员的理解，下面结合附图对本技术作进一步的描述。如附图1：一种元器件自动测试装置，包括与逻辑控制器PLC连接的定位机构、送料机构、收料及前后测试机构和上下测试机构，所述收料及前后测试机构包括前后测试针1、2、收料手抓3、与前后测试针连接的前后测试气缸4、与收料手抓连接的收料气缸5。它还包括与送料气缸和收料气缸连接的移位上下气缸16。所述的送料机构包括送料手抓6、与送料手抓连接的送料气缸7，所述定位机构包括检料光纤8、到料光纤9和产品定位槽10、推料气缸11和由推料气缸控制的推料杆12。所述的上下测试机构包括上下测式针13、14以及与上下测试针连接的上下测试气缸15。当发热片被测被银面在上下两面时：发热片被送进产品定位槽10上，到料光纤9检测到位后，将信号输送给PLC控制器，推料气缸11动作，检料光纤8检测产品被银面，发出信号给PLC控制器，移位上下气缸16动作，送料气缸7动作，送料手爪6把第一片发热片夹紧，收料气缸5动作，把发热片输送到收料及前后测试机构，前后测试气缸4不动作不测试，等待下次收料，收料气缸5、收料手爪3松开，移位上下气缸16上升，移位气缸17动作，进行下一次的送料，收料气缸5把第一个发热片送到上下测试定位机构进行测试，测试完毕后，上下测试针13、14松开，第一发热片掉落到料盒。当发热片的被银面在前后面时：发热片被送进产品定位槽10上，到料光纤9检测到位后，将信号输送给PLC控制器，推料气缸11动作，检料光纤8检测产品不是被银面，发出信号给PLC控制器，移位上下气缸16动作，送料气缸7动作，送料手爪6把第一片发热片夹紧，收料气缸5动作，把发热片输送到收料及前后测试机构，前后测试气缸4动作，前后测试针1、2进行前后方向测试，测试完毕后，前后测试针1、2松开，发热片完整，收料气缸5、收料手爪夹走到上下测试位置放落料盒，第一发热片掉落到料盒。上述实施例中提到的内容为本技术较佳的实施方式，并非是对本技术的限定，在不脱离本技术专利技术构思的前提下，任何显而易见的替换均在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种元器件自动测试装置，包括与逻辑控制器PLC连接的定位机构、送料机构、收料及前后测试机构和上下测试机构，其特征在于：所述收料及前后测试机构包括前后测试针(1、2)、收料手抓(3)、与前后测试针连接的前后测试气缸(4)、与收料手抓连接的收料气缸(5)。

【技术特征摘要】
1.一种元器件自动测试装置，包括与逻辑控制器PLC连接的定位机构、送料机构、收料及前后测试机构和上下测试机构，其特征在于：所述收料及前后测试机构包括前后测试针(1、2)、收料手抓(3)、与前后测试针连接的前后测试气缸(4)、与收料手抓连接的收料气缸(5)。2.根据权利要求1所述的元器件自动测试装置，其特征在于：所述的送料机构包括送料手抓(6)、与送料手抓连接的送料气缸(7)。3.根据权利要求2所述的元器件自动测试装置，其特征在于：它还包括与送料气缸和...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁顺进，孔祥坚，何鉴森，
申请(专利权)人：肇庆市众一自动化设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44