【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种新型芯片检测装置。
技术介绍
芯片检测装置是一种对芯片的性能进行检测的装置,其通常包括箱体,所述箱体包括底壁、前壁、后壁、上盖以及两侧壁,所述箱体内设置有芯片检测电路板组,所述后壁上设置有散热风扇组,所述芯片检测电路板组包括若干数量的平行并间隔设置的芯片检测电路板,所述散热风扇组包括呈平行排列的若干数量的散热风扇。然而现有的芯片检测装置,存在结构不稳定、使用不方便的缺点。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足,本技术的目的在于提供一种结构稳定、使用方便的新型芯片检测装置。为实现上述目的,本技术提供了如下技术方案:一种新型芯片检测装置,包括箱体,所述箱体包括底壁、前壁、后壁、上盖以及两侧壁,所述箱体内设置有芯片检测电路板组,所述后壁上设置有散热风扇组,所述芯片检测电路板组包括若干数量的平行并间隔设置的芯片检测电路板,所述散热风扇组包括呈平行排列的若干数量的散热风扇,所述上盖包括外盖体与内盖体,所述外盖体上设置有与箱体一侧的侧壁相铰接的铰接轴,所述内盖体上设置有若干数量的过线孔,所述内盖体上还固定设置有束线板,所述束线板上设置有束线孔,所述外盖体的一端与内盖体的一端铰接连接,外盖体的另一端与内盖体的另一端通过螺钉相连接,所述芯片检测电路板组的前后两侧分别设置有前支撑架与后支撑架,所述前支撑架与后支撑架分别设置有中梁,所述中梁上设置有插孔,所述芯片检测电路板的中部两侧分别设置有插入所述插孔的定位插块,所述芯片检测电路板的顶部两侧分别设置有卡块,所述前支撑架与后支撑架的顶部分别设置有与所述卡块相配合的卡边。本技术技术方案,将导线整理在外盖体与内盖体之间,外 ...
【技术保护点】
一种新型芯片检测装置,包括箱体,所述箱体包括底壁、前壁、后壁、上盖以及两侧壁,所述箱体内设置有芯片检测电路板组,所述后壁上设置有散热风扇组,所述芯片检测电路板组包括若干数量的平行并间隔设置的芯片检测电路板,所述散热风扇组包括呈平行排列的若干数量的散热风扇,其特征在于:所述上盖包括外盖体与内盖体,所述外盖体上设置有与箱体一侧的侧壁相铰接的铰接轴,所述内盖体上设置有若干数量的过线孔,所述内盖体上还固定设置有束线板,所述束线板上设置有束线孔,所述外盖体的一端与内盖体的一端铰接连接,外盖体的另一端与内盖体的另一端通过螺钉相连接,所述芯片检测电路板组的前后两侧分别设置有前支撑架与后支撑架,所述前支撑架与后支撑架分别设置有中梁,所述中梁上设置有插孔,所述芯片检测电路板的中部两侧分别设置有插入所述插孔的定位插块,所述芯片检测电路板的顶部两侧分别设置有卡块,所述前支撑架与后支撑架的顶部分别设置有与所述卡块相配合的卡边。
【技术特征摘要】
1.一种新型芯片检测装置,包括箱体,所述箱体包括底壁、前壁、后壁、上盖以及两侧壁,所述箱体内设置有芯片检测电路板组,所述后壁上设置有散热风扇组,所述芯片检测电路板组包括若干数量的平行并间隔设置的芯片检测电路板,所述散热风扇组包括呈平行排列的若干数量的散热风扇,其特征在于:所述上盖包括外盖体与内盖体,所述外盖体上设置有与箱体一侧的侧壁相铰接的铰接轴,所述内盖体上设置有若干数量的过线孔,所述内盖体上还固定设置有束线板,所述束线板上设置有束线孔,所述外盖体的一端与内盖体的一端铰接连接,外盖体的另一端与内盖体的另一端通过螺钉相连接,所述芯片检测电路板组的前后两侧分别设置有前支撑架与后支撑架,所述前支撑架与后支撑架分别设置有中梁...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱陈焜,
申请(专利权)人:温州睿芯电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:浙江;33
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