本发明提供一种即使在插座的数量增加的情况下，也能够抑制烧录试验的品质的降低的烧录板。烧录板(20)具备基板(40)、安装于基板(40)的多个插座(70A1～70T

提供一种能够将天线单体或带有天线的设备以OTA(OverTheAir)进行评价的试验装置。试验装置(100)将天线元件(12)或具备天线元件(12)的设备作为DUT(10)以OTA进行检查。前端单元(200)包括与DUT(10)的天线元...

提供能抑制异物向DUT附着的测试用载具。以收容有DUT(90)的状态被搬运的测试用载具(1)具备：DUT吸附保持用的贯通孔(64)，与DUT(90)对置配置；以及可动阀(70)，伴随贯通孔(64)的吸引而开闭贯通孔(64)，可动阀(70...

本发明提供使控制系统的响应特性优化的磁场发生器的控制装置、试验装置以及磁场控制方法。控制装置具备基于磁场传感器(40)的检测值来控制磁场产生器(30)的磁场控制电路(60)，在磁场控制电路(60)中，输入有磁场产生器(30)产生的磁场的...

本发明调整激光光束输出装置的输出。激光光束输出装置(1)具备：激励激光器(10)，将规定波长(W1)的激光光束作为规定频率的第一脉冲(P1)输出；声光调制器(12)，接受第一脉冲(P1)，针对第一脉冲的每一个将光路决定为2个光路(OP1...

纳米孔设备(100)具有细孔(104)及电极对(106、108)。电流测定部(202)将与电压设定指令(SET_V)对应的偏压电压(Vb)向电极对(106、108)之间施加，并且生成与流过纳米孔设备(100)的电流信号(Is)对应的数字...

本发明在对取得荧光的装置进行试验时，不易受到经年劣化的影响。体模(1)具备接受激励光并输出与激励光的强度对应的电信号的电信号输出部(2)、接受电信号(电流信号I)并产生与电信号对应的响应光的响应光产生部(4)。其中，响应光的波长与荧光体...

本发明提供一种难以被体液妨碍地取得荧光的内窥镜。内窥镜(2)具备：激励光源(22a)，其产生激励光；物镜(L1)，其接收前哨淋巴结(SLN)接收激励光而产生的荧光；以及筒状体(244)，其保持物镜(L1)。物镜(L1)配置在筒状体(24...

本发明的课题在于提供一种能够实现在器件的上表面具有天线的DUT的试验的低成本化的电子部件按压装置。为此，电子部件按压装置(6)用于具有器件天线(12)的DUT(10)的试验，能够与具有接触臂(21)的电子部件处理装置(2)连接，并且能够...

本发明提供一种能够实现运转率的提高和占有空间的缩小的电子部件处理装置。对DUT(200)进行处理的电子部件处理装置(10)具备分别安装与测试器(7)连接的测试头(5A～5D)的多个接触单元(60A～60D)，各个接触单元(60A～60D...

本发明的课题在于，提供一种能够针对用户的要求以低成本使规格最佳化的电子部件处理装置。对DUT(200)进行操作的电子部件处理装置(10)具备：多个接触单元(60A～60D)，在将DUT搭载于测试托盘(110)的状态下，向设置于与测试器(...

本发明提供一种光超声波测量装置、方法、程序、记录介质，一边补偿使测量装置与测量对象接触时的测量对象的表面形状的变动，一边进行测量对象的测量。光超声波测量装置具有：超声波脉冲输出部，其输出超声波脉冲；脉冲光输出部，其输出脉冲光；反射波测量...

本发明在照射某波长的脉冲光后立即照射其他波长的脉冲光。激光输出装置(1)具有：将规定波长(Wl)的激光输出为规定频率的第一脉冲(P1)的激励激光器(10)；接受第一脉冲(P1)，针对每个第一脉冲将光路决定为多个光路(OPl、OP2)的某...

本发明提供一种能够实施基于近场的OTA测试的电子部件操作装置。处理装置(2)是具备接触臂(21)的处理装置(2)，该接触臂(21)能够使具有设备天线(12a)的DUT(10A)移动，并将DUT(10A)按压于插座(60A)，接触臂(21...

本发明提供一种能够高精度地实施具有天线的DUT的OTA测试的电子部件处理装置、电子部件测试装置及插座。电子部件处理装置具备：恒温槽；使DUT移动并将其按压于插座的处理器；与恒温槽相邻配置的电波暗室；配置于电波暗室的内部的测试天线；和能够...

本发明提供一种能够实施具有天线的DUT的基于近场的OTA测试的电子部件装置。电子部件测试装置(1)具备能够与DUT(10)电连接的插座(5)、载板(4)以及测试器(3)，插座(5)具备：顶部插座(60)，其配置为与DUT(10)的上表面...

本发明提供光学试验用装置和光学测定器具的试验方法。不再现设想实际进行测定的实际环境就能够进行光学测定器具的试验。光学试验用装置在对光学测定器具进行试验时使用，该光学测定器具向入射对象提供来自光源的入射光脉冲，取得入射光脉冲被该入射对象反...

本发明提供一种能够实现成本降低的电子部件处理装置。处理器(2)具备将DUT(5)按压于测试头(3)的插座(32)的臂(20)，臂(20)具备与DUT(5)接触的推动器(22)、以及经由推动器(22)对DUT(5)进行加热的加热器(21)...

本发明提供一种光学试验用装置，防止在取得反射光的器具的试验时，该器具与测量对象的距离变长。在试验光学测量器具(2)时使用光学试验用装置(1)，光学测量器具(2)将来自光源(2a)的入射光提供到入射对象(4)，并取得入射光被入射对象(4)...

本发明提供能实现低成本化的中介板以及插座。插座(20)具备：第一接触探针(21)，其具有能与DUT(90)的第一端子(91)接触的第一端部；第二接触探针(22)，其具有能与DUT(90)的第二端子(92)接触的第二端部；以及内侧壳体(2...