提供一种能够将天线单体或带有天线的设备以OTA(OverTheAir)进行评价的试验装置。试验装置(100)将天线元件(12)或具备天线元件(12)的设备作为DUT(10)以OTA进行检查。前端单元(200)包括与DUT(10)的天线元件(12)的辐射面上的多个地点对置设置的多个电场检测元件(212)。多个电场检测元件(212)能够在各自对应的地点处一齐检测出DUT(10)形成的电场。测试器主体(110)从前端单元(200)接收多个检测信号来对DUT(10)进行评价。号来对DUT(10)进行评价。号来对DUT(10)进行评价。
【技术实现步骤摘要】
天线阵列的试验装置
[0001]本专利技术涉及天线阵列的解析、评价。
技术介绍
[0002]伴随着无线通信的大容量化，基带信号及RF信号的宽带化不断进展。在第五代移动通信系统、下一代的无线LAN中，利用毫米波频带的载波信号，传送达到几百MHz～几GHz的宽带的基带信号。在这样的高速通信中，采用MIMO(multiple
‑
input and multiple
‑
output)。
[0003]在先技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2004
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012468号公报
[0006]专利文献2：国际公开WO2020
‑
091071号公报
[0007]专利文献3：日本特开2018
‑
009840号公报
[0008]专利文献4：日本特开2009
‑
276092号公报
[0009]专利文献5：日本特开2019
‑
113355号公报
技术实现思路
[0010]专利技术要解决的课题
[0011]本公开是在上述的状况下作出的专利技术，其某方案的例示性目的之一在于提供一种能够通过OTA(Over The Air)来评价天线单体或带有天线的设备的试验装置。
[0012]用于解决课题的方案
[0013]本公开的方案涉及将天线元件或具备天线元件的设备作为被试验设备的试验装置。试验装置具备：前端单元，其包括与被试验设备的天线元件的辐射面上的多个地点对置设置的多个电场检测元件，所述多个电场检测元件能够在各自对应的地点处一齐检测出被试验设备形成的电场，所述前端单元发送表示多个地点的电场的多个检测信号；以及测试器主体，其从前端单元接收多个检测信号来检查被试验设备。
[0014]需要说明的是，将以上的构成要素的任意的组合、本专利技术的构成要素、表现在方法、装置等之间相互置换的方案作为本专利技术的方案也是有效的。
[0015]专利技术效果
[0016]根据本专利技术的某方案，通过向现有的测试器主体追加前端单元，由此能够将天线单体或带有天线的设备以OTA进行评价。
附图说明
[0017]图1是表示实施方式的试验装置的图。
[0018]图2是实施例1的试验装置的框图。
[0019]图3是实施例2的试验装置的框图。
[0020]图4是实施例3的试验装置的框图。
[0021]图5是说明基于数字化仪进行的欠采样的图。
[0022]图6是实施例4的试验装置的框图。
[0023]图7是实施例5的试验装置的框图。
[0024]符号说明
[0025]100 试验装置
[0026]10 DUT
[0027]12 天线元件
[0028]110 测试器主体
[0029]112 接口模块
[0030]120 正交解调器
[0031]130 信号处理部
[0032]132 校准处理部
[0033]134 近场
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远场转换处理部
[0034]200 前端单元
[0035]210 检测元件阵列
[0036]212 电场检测元件
[0037]220 前端电路
[0038]230 降频转换器
[0039]232 振荡器
[0040]234 分配器
[0041]236 混频器电路
[0042]240 数字化仪
[0043]242 振荡器
[0044]244 分配器
[0045]246 滤波器
[0046]248 A/D转换器
[0047]250 接口模块
[0048]260 正交解调器
[0049]270 数字化仪
[0050]280 光源
[0051]282 发光单元
[0052]290 受光元件
具体实施方式
[0053](实施方式的概要)
[0054]说明本公开的若干的例示性的实施方式的概要。该概要作为后述的详细的说明的前置，以实施方式的基本的理解为目的，简化说明一个或多个实施方式的若干的概念，没有限定专利技术或公开的广度。而且，该概要不是能想到的全部实施方式的涵盖性的概要，没有限
定实施方式的不可或缺的构成要素。为了简便起见，“一实施方式”有时用作指代本说明书公开的一个实施方式(实施例或变形例)或多个实施方式(实施例或变形例)。
[0055]该概要不是能想到的全部实施方式的广泛的概要，既不想确定全部实施方式的重要的要素或重要的要素，也不想划分一部分或全部的方案的范围。其唯一的目的是作为在后提示的更详细的说明的前置，将一个或多个实施方式的若干的概念以简化的方式提示。
[0056]一实施方式的试验装置将天线元件或具备天线元件的设备作为被试验设备进行试验。试验装置具备：前端单元，其包括与被试验设备的天线元件的辐射面上的多个地点对置设置的多个电场检测元件，所述多个电场检测元件能够在各自对应的地点处一齐检测出被试验设备形成的电场，所述前端单元发送表示多个地点的电场的多个检测信号；以及测试器主体，其从前端单元接收多个检测信号来检查被试验设备(天线元件)。
[0057]前端单元作为对一般的半导体设备进行试验时的性能板的替代来发挥功能，通过包含多个电场检测元件的前端单元与测试器主体的组合来构成试验装置。从前端单元对测试器主体以测试器主体支持的方式传送检测信号，由此，能够有效利用现有的测试器主体，将天线单体或带有天线的设备以OTA进行试验。
[0058]在一实施方式中，多个检测信号可以是对多个电场检测元件的输出进行下变频而得到的信号。在前端单元中，将表示电场的检测信号的频率降低至测试器主体能够处理的频带进行传送，由此能够实现仅利用了现有的测试器主体的接口的试验。
[0059]在一实施方式中，前端单元可以将多个检测信号进行数字化而向测试器主体发送。在该情况下，测试器主体能够利用其自身具备的数字模块来接收数字化的多个检测信号并进行处理。
[0060]在一实施方式中，多个电场检测元件可以是多个光电(EO：Electro
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Optic)传感器。通过使用利用了光电效应的光电传感器，由此能够不扰乱被试验天线的状态地测定电场。
[0061]在一实施方式中，前端单元可以包括：将以与被试验设备辐射的电场的第一频率不同的第二频率调制后的光向多个光电传感器照射的光源；以及与多个光电传感器对应且分别生成与向多个光电传感器中的对应的一个光电传感器作用后的探测光对应的光检测信号的多个受光元件。多个检测信号可以对应于多个光检测信号。光检测信号成为将第一频率、第二频率作为本振频率并对RF信号进行了下转换的信号。
[0062]在一实施方式中，前端单元可以包括：将包含第一波长和第二波长的探测光向多个光电传感器照射的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种试验装置，其将天线元件或具备天线元件的设备作为被试验设备，其特征在于，所述试验装置具备：前端单元，其包括与所述被试验设备的所述天线元件的辐射面上的多个地点对置设置的多个电场检测元件，所述多个电场检测元件能够在各自对应的地点处一齐检测出所述被试验设备形成的电场，所述前端单元发送表示所述多个地点的电场的多个检测信号；以及测试器主体，其从所述前端单元接收所述多个检测信号来检查所述被试验设备。2.根据权利要求1所述的试验装置，其特征在于，所述多个检测信号是对所述多个电场检测元件的输出进行下变频而得到的信号。3.根据权利要求1或2所述的试验装置，其特征在于，所述前端单元将所述多个检测信号进行数字化而向所述测试器主体发送。4.根据权利要求1或2所述的试验装置，其特征在于，所述多个电场检测元件是多个光电传感器。5.根据权利要求4所述的试验装置，其特征在于，所述前端单元包括：光源，其将以与所述被试验设备辐射的电场的第一频率不同的第二频率调制后的探测光向所述多个光电传感器照射；以及多个受光元件，其与所述多个光电传感器对应，分别生成与向所述多个光电传感器中的对应的一个光电传感器作用后的所述探测光对应的光检测信号，所述多个检测信号基于所述多个受光元件生成的多个所述光检测信号而得到。6.根据权利要求4所述的试验装置，其特征在于，所述前端单元包括：光源，其将包含第一波长和第二波长的探测光向所述多个光电传感器照射；以及多个受光元件，其与所述多个光电传感器对应，分别生成与向所述多个光电传感器中的对应的一个光电传感器作用后的所述探测光对应的光检测信号，所述多个检测信号基于所述多个受光元件生成的...
【专利技术属性】
技术研发人员：浅见幸司，增田伸，
申请(专利权)人：株式会社爱德万测试，
类型：发明
国别省市：
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