株式会社爱德万测试专利技术

株式会社爱德万测试共有332项专利

  • 一种电子器件试验装置,具有:多个测试单元(520);搬入移载单元(510),在多个被试验电子器件被搬入测试单元之前从客户托盘(4C)向测试托盘(4T)进行移载;以及分类移载单元(530),依照多个被试验电子器件的测试结果从测试托盘向客户...
  • 在具有多个连接器的情况下,也可同时容易且可靠地插拔所有连接器。作为将插座板(10)中具有的多个连接器装卸到对应的主板(20)侧的多个连接器的工卡模具,包括:接合器(30),和与插座板(10)的连接器配置面不同的半导体零件装载面侧对向配置...
  • 本发明提供一种IC输送装置,该装置在具有向上倾斜表面的定位槽部分内具有使得置于定位槽部分内的半导体器件可以在水平方向移动的间隙。导引部围绕器件吸取装置,以利用吸力提取置于定位槽部分内的半导体器件。所述导引部导引器件吸取装置,以使其可以利...
  • 装配有冷却器的印刷电路板,其中在印刷路板上布置成矩阵形式的电子器件用密封盒覆盖,该密封盒与印刷电路板保持不透液体的接触,并具有从在盒中制成的入口到出口的冷却剂通道。在冷却剂通道中设置挡板,以改变冷却剂流动方向,使其受到扰动且温度均匀。
  • 在一个IC测试装置中,设置有第一模拟比较器(4a)和第二模拟比较器(4b),它们用于比较来自受测试的IC的一个I/O插脚和一个输出专用插脚的响应波形;和一个选择器(25),它用于选择来自两个模拟比较器的输出中的任何一个。通过用选择器在该...
  • 一种能够从托盘收存容器中自动地取出搭载有被试验IC的托盘并供给IC试验装置的托盘取出装置,和能够把托盘收存到托盘收存容器中的托盘收存装置。用第一连接钩支承托盘,把升降装置抵接于托盘底面并解除第一连接钩的接合,同时把第二连接钩移动到接合位...
  • 一种具有埋入的光纤的光纤嵌埋层被提供来作为多层电布线板的一层,该多层电布线板包括一母板,母板中固定有一电回路。光纤嵌埋层上形成一孔,以暴露光纤的一端,其上提供有一45°的反射表面,所以从上述光纤出来的光被沿垂直于布线板平面的方向反射,并...
  • 测定GMSK调制用设备(DUT)的测定相位误差的试验装置。其特征在于: 一种GMSK通讯设备的试验装置, 设置AD变换器以接收I(t)、Q(t)两个正交信号分量,并将其分别量化为数字信号Ia(t)和Qa(t); 设置偏...
  • 校正正交调制器的偏移误差。一种装置包括:第一校正信号输出单元(50),它基于来自180°相位放大器(27)的本地信号(相位:0°)或来自180°相位放大器(23)的相移本地信号(相位:180°)而输出第一校正信号;第二校正信号输出单元(...
  • 对通过正交调制得到的RF信号不进行正交解调地进行校正。具有:同相乘法器(14I),将同相校正用用户信号和规定的本地频率的同相本地信号(Lo)混合,输出同相转换信号,该同相校正用用户信号由具有同相校正用信号输出器(32I)输出的正弦波电压...
  • 本发明的目的是提供一种装置,实现简化编码域增益数据和与之相关数据的显示。一种当解调具有不同扩展码长度的信道被多路复用到其上的信号时,用于显示各预定信道多信号物理量的物理量显示装置1,该装置包括:一用于存储将被显示的显示对象信道和显示对象...
  • 同时显示多种码层的码域功率。显示区(312a,312b,312e,312h,312i,及312j)含有相应于扩展码长W16、W8、W4的宽度,并都经过染色。因此,即使在一张条形图上同时显示多种码层上的测量数据,例如码域功率,也能够区别码...
  • 一种抑制因温度变化而引起的电源噪声、漂移和定时颤动和漂移的并行光信号传输装置。并行光信号传输装置具有输出与激光驱动器11预定比例的驱动电流对应的电流值作为直流参考电流的参考电流源4,激光驱动器11安装在传输侧。并行光信号传输装置还具有发...
  • 提供一种对定时精度高且周期不定并存在直流成分的信号也能够高精度地进行光传输的光传输方式。在发送侧具有:上升沿检测电路1,检测传输信号波形的上升沿;传输用脉冲产生电路2,产生传输用脉冲信号(b)、该传输用脉冲信号(b)以该检测定时为界,由...
  • 例如,在频谱分析器中省略防止图像信号输入的预选择器,藉此预置测量频率范围之外的图像信号可以被抑制。中频Fi在预置测量频率范围内设置为从F1到F2。扫描该扫描信号的频率部分F1+Fi到F2+Fi以确定第一测量数据,扫描该扫描信号的频率部分...
  • 本发明是关于一种资料传送装置、光电转换电路以及测试装置。该资料传送装置,是利用光传送进行资料通讯,此装置包括发送部及光电转换电路。发送部是将所传送的电通讯资料转换成光通讯资料并送出。光电转换电路是接收光通讯资料且将所接收的光通讯资料转换...
  • 一种用于校准时间误差的模/数(A-D)转换装置(100,120,130)包括:模拟信号输入部分(10);多个模拟-数字转换器(12);提供同步采样时钟信号或提供交替采样时钟信号的采样时钟信号发生器(14);根据同步采样时钟信号,对A-D...
  • 一种用于校准时间误差的模/数(A-D)转换装置(100,120,130)包括:模拟信号输入部分(10);多个模拟-数字转换器(12);提供同步采样时钟信号或提供交替采样时钟信号的采样时钟信号发生器(14);根据同步采样时钟信号,对A-D...
  • 一种半导体集成电路装置,由包含由至少一个逻辑元件构成的、需要向传送的信号提供高精度的延迟时间的电路的第一半导体电路部,和设于所述第一半导体电路部的附近、向传送的信号提供的延迟时间的精度不高也可的第二半导体电路部,作为一个半导体集成电路而...
  • 本发明经过对输出段的消耗功率进行检测,对检出的功率进行补偿控制,实现了附加较为稳定的波形振幅和输出时限温度补偿的驱动电路。为达到此目的,设有温度检测装置,用来检测输出元件的温度变化;设有输出时限温度补偿装置,用来接收来自温度检测装置的温...