本发明的电子部件试验装置（１０）具备：使ＩＣ器件移动并按压到插座３０１上的接触臂（３１２）；控制接触臂（３１２）的控制装置（３１６）；向控制装置（３１６）指示接触臂（３１２）的按压扭矩的指示部件（３２１）；从测试器（２０）取得在按照由指...

本发明的电子部件试验装置将被试验ＩＣ的输入输出端子推压到测试头的插座（５０）进行测试；其中：具有至少包括推压基座（３４）、引导推压基座（３４）、推压块（３１）、支承座３２、及２个弹簧（３６、３８）的推压组件（３０）；该推压基座（３４）可...

本发明提供一种ＴＣＰ处理装置以及ＴＣＰ处理装置中的连接端子的对位方法。利用第２照相机（６ｂ）对被测试ＴＣＰ的测试焊盘（Ｐ）进行拍照以取得该测试焊盘（Ｐ的坐标数据，同时对探针卡（８）的探针（８１）进行拍照以取得该探针（８１）的坐标数据，根...

本发明的装卸装置备有能与ＤＳＡ（５０１）的下面（５０２）卡合并可直线运动地被保持着的卡合轴（５２２）、供给使卡合轴（５２２）做直线运动的驱动力的气缸（５２１）、设在气缸（５２１）与卡合轴（５２２）之间并把从促动器输入的驱动力传递给卡合轴...

在本发明的ＴＣＰ处理机（２）中，使用对每个规定的ＴＣＰ附加了多个对准标记（５２）的载带作为载带（５），在每次确定试验对象的ＴＣＰ的位置信息时，通过照相机（６ｂ）试着进行该ＴＣＰ的第一对准标记（５２１）的图像识别，在无法进行该第一对准标记...

一种偏振模式色散测量器件减小了测量偏振模式色散τ↓［ＰＭＤ］所需的时间。一个偏振控制器（１２）允许一个第一（第二）入射光以一个偏振分离器（１６）中的一个ｐ偏振轴线（ｓ偏振轴线）将一个合成入射光施加到一个被测的目标（３０）上。因此，当被测...

提供了一种失真测量设备，包括记录布里渊散射光的光谱的布里渊散射光光谱记录单元，所述布里渊散射光是作为提供入射光的结果在光纤中生成的；峰值频率近似单元，获取布里渊散射光的光谱取最大值的近似的峰值频率；峰值频率推导单元，推导光谱在一频率范围...

本发明即使不使用接收频带宽的光接收器，也能测定布里渊散射光。散射光测定装置（１）具有：连续光源（１０），产生连续光；光脉冲发生器（１４），将连续光转换为脉冲光；光移频器（２０），接收连续光并输出移位光，该移位光具有连续光、具有比连续光的...

一种最适用于检验或观测极微小而精密器件外观的照明装置，和一种使用该照明装置的器件外观自动检验装置。该照明装置包括一个具有排列在照相机透镜周围的许多个亮度可控的发光元件的照射构架和一个用于控制每个上述发光元件的亮度的照度控制机构；而该器件...

一种能使受测ＩＣ有充分长的吸热散热时间的ＩＣ处理机。在转台上同心圆状呈Ｎ列形成圆形排列的定位凹部，依次把受测ＩＣ供给最外周或最内周定位凹部排列的定位凹部，随着转台的旋转，受测ＩＣ每转一周，则移换到其他定位凹部排列的定位凹部，受测ＩＣ转Ｎ...

在利用真空拾取头吸取和输送ＩＣ的机械手中，设置控制系统，如果真空拾取头未能抓住ＩＣ而引起阻塞，则取走阻塞的ＩＣ而无需打开恒温室门。阻塞检测装置（２２Ｂ）检测到发生阻塞，则中断机械手的工作，随后启动移动控制装置（２２Ｃ），把真空拾取头移至...

一种气体回收装置。其中的发热元件冷却罩（５）在通过覆盖装在基板（４）上的ＩＣ器件（４４）在内部使冷却液流通，可以使冷却液与ＩＣ器件（４４）接触。在发热元件冷却罩（５）中，从发热元件冷却罩（５）内部容易发生气体积存的气体积存部到流通的冷却...