一种电能计量芯片的验证方法技术

一种电能计量芯片的验证方法，其特征在于，包括：获取测试向量；根据所述测试向量对待测芯片进行配置，并获取测试向量对应的测试数据；将所述测试数据与预先设置的参考结果进行比较，根据比较结果判断所述待测芯片的数字功能是否正常。

【技术实现步骤摘要】
一种电能计量芯片的验证方法
本专利技术涉及芯片验证领域，尤其涉及一种电能计量芯片的验证方法。
技术介绍
随着芯片的复杂度越来越高，电能计量芯片的验证工作也越来越重要。目前，技术人员普遍使用的验证方法是人工验证，通过人工配置相关的计量寄存器，人工读取计量数据，将计量值和理论值由人工通过表格进行对比和判断。人工验证明显降低了验证的速度，对于一个复杂的逻辑门电路而言，研发过程中60～70%的时间用于验证，这大大降低了芯片上市的速度。因此，如何快速、准确的完成电能计量芯片的验证工作，已成为亟待解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种电能计量芯片的验证方法，以解决现有技术中人工验证电能计量芯片速度慢，降低了芯片上市的速度的问题，其具体方案如下：一种电能计量芯片的验证方法，包括：获取测试向量；根据所述测试向量对待测芯片进行配置，并获取测试向量对应的测试数据；将所述测试数据与预先设置的参考结果进行比较，根据比较结果判断所述待测芯片数字功能是否正常。进一步的，所述获取测试向量具体包括：获取测试值，并进行遍历和组合，根据所述遍历和组合后的测试值生成测试向量；将所述测试向量保存至测试向量库中，所述测试向量库中包括若干用于测试芯片的数字功能的测试向量；从所述测试向量库中读取需要测试的测试向量。进一步的，判断所述待测芯片数字功能是否正常之前，还包括：从所述测试向量库中选择已完成测试的测试向量的下一个测试向量，进行配置，得到测试数据，并根据测试数据得到比较结果，直至需要测试的测试向量测试完成，根据各比较结果综合判断所述待测芯片数字功能是否正常。进一步的，根据所述测试向量对待测芯片进行配置，并获取测试向量对应的测试数据，具体为：根据所述测试向量对待测芯片进行配置，间隔预定时间后，获取测试向量对应的测试数据。进一步的，根据所述测试向量对待测芯片进行配置，具体包括：每个测试向量对待测芯片进行预定次数的配置。进一步的，将所述测试数据与预先设置的参考结果进行比较，根据比较结果判断所述待测芯片数字功能是否正常，具体包括：根据多组测试数据计算多组测试数据的跳差、平均值，以及平均值与参考结果之间的误差；根据各项数值的通过阈值，判断多组测试数据的各项数值是否通过测试；判断所述待测芯片数字功能是否正常。进一步的，将所述测试数据与预先设置的参考结果进行比较，得到比较结果之后，还包括：对测试数据及参考结果进行存储。进一步的，还包括：根据不同的测试目的，选择不同的测试向量。进一步的，还包括：根据不同的测试目的，选择不同的配置次数，得到不同组数的测试数据。进一步的，对待测芯片进行配置具体包括：通过串口通信对待测芯片进行配置。从上述技术方案可以看出，本专利技术公开的电能计量芯片的验证方法，通过获取测试向量信息，根据该信息对待测芯片进行配置，并获取测试向量对应的测试数据，根据测试数据与参考结果进行比较，得到比较结果，根据比较结果判断实时待测芯片是否正常。本方案通过自动读取测试向量，自动配置芯片，自动比较测试结果，实现了电能计量芯片验证的自动化，提高了芯片验证的速度及准确性，避免了人工比较的过程，减轻了技术人员的劳动量，提高了工作效率，进一步加快了电能计量芯片上市的速度。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例公开的一种电能计量芯片验证方法的流程图；图2为本专利技术实施例公开的一种获取测试向量的方法的流程图；图3为本专利技术实施例公开的一种判断芯片是否正常的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本实施例公开了一种电能计量芯片的验证方法，其流程图如图1所示，包括：步骤S11、获取测试向量；测试向量用于测试电能计量芯片的数字功能是否正常，实现对电能计量芯片的FPGA（FieldProgrammableGateArray，现场可编程门阵列）验证。芯片的数字功能可以具体为逻辑和功能等数字上的实现。步骤S12、根据测试向量对待测芯片进行配置，并获取测试向量对应的测试数据；读取测试向量，将测试向量的信息转换成待测芯片的寄存器数据，将这些数据写入相应的寄存器，通过串口通信方式完成对芯片的配置，通过串口通信方式完成对芯片的读操作，即获取测试向量对应的测试数据。步骤S13、将测试数据与预先设置的参考结果进行比较，根据比较结果判断待测芯片数字功能是否正常。FPGA板上有信号发生源，提供多路信号源，并可以通过配置分别调整信号幅度、相位、频率等。电能计量芯片可以根据输入激励信号的变化以及校正值大小电压直流值、电压有效值、电流直流值、电流有效值、功率值等寄存器数据，并且可以通过某种通讯方式取得这些寄存器数据，具体的通讯方式与电能计量芯片的通信接口相关，可以具体为SPI（SerialPeripheralInterface，串行外设接口）、UART（UniversalAsynchronousReceiver/Transmitter，通过异步收发传输器）等，但是，PC机一般有UART口，没有SPI口，对于UART可以直接通过上位机软件实现PC机遇被测芯片的通讯；对于没有串口芯片，需要通过其它硬件实现通讯转换，如STM32验证底板，基于PC机的上位机软件通过UART口发送命令给STM32验证底板的UART，告知需要配置的寄存器以及读取的寄存器，STM32验证底板与被测芯片通过SPI通讯往某些寄存器配置数据以及取得某些寄存器数据，再通过UART口发送给PC机。。输入各通道的激励信号的表现形式为：式中，F为模拟信号的频率，N为通道的个数，Ai为第i个通道信号的幅度，t为时间，为输入第i个通道的原始信号的初始相位。根据测试向量值及计算公式计算功率、有效值等参考结果。假设U=Uamp×sin(2πFt)，其中，Uamp为电压通道信号幅度，IAamp为IA通道信号幅度，IBamp为IB通道信号幅度，为IA相对于U之间的夹角，为IB相对于U之间的夹角。则A路有功功率为：A路无功功率为：电压有效值为：RU=Uamp/SQRT(2)×A2，A路电流有效值为：RI=IAamp/SQRT(2)×A2，B路电流有效值为：RIB=IBamp/SQRT(2)×A2，B路有功功率为：B路无功功率为：根据参考结果与测试数据的比较，得出比较结果，并根据比较结果判断待测芯片的数字功能是否正常。若误差在阈值范围之内，则标注为TRUE，若在误差范围之外，则标注为FAIL。本实施例公开的电能计量芯片的验证方法，通过获取测试向量信息，根据该信息对待测芯片进行配置，并获取测试向量对应的测试数据，根据测试数据与参考结果进行比较，得到比较结果，根据比较结果判断实时待测芯片是否正常。本方案通过自动读取测试向量，自动配置芯片，自动比较测试结果，实现了电能计量芯片验本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电能计量芯片的验证方法，其特征在于，包括：获取测试向量；根据所述测试向量对待测芯片进行配置，并获取测试向量对应的测试数据；将所述测试数据与预先设置的参考结果进行比较，根据比较结果判断所述待测芯片的数字功能是否正常。

【技术特征摘要】
1.一种电能计量芯片的验证方法，其特征在于，包括：获取测试向量，具体为：根据遍历和组合后的测试值生成测试向量；将所述测试向量保存至测试向量库中，所述测试向量库中包括若干用于测试芯片的数字功能的测试向量；从所述测试向量库中读取需要测试的测试向量；其中，测试向量包括：各通道信号源幅度、相位、直流偏置以及频率、有效值校正值、功率校正值及角差校正值的信息，在生成测试向量时，选择其中一项信息，其他信息的值保持不变，仅调整该项信息的值，组合形成该项信息的测试值，遍历该项信息的测试值，遍历完之后存放在一个文件夹中，再选择遍历下一项信息的测试值，直至遍历完全部信息的测试值；根据所述测试向量对待测芯片进行配置，并获取测试向量对应的测试数据；将所述测试数据与预先设置的参考结果进行比较，根据比较结果判断所述待测芯片的数字功能是否正常。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，判断所述待测芯片数字功能是否正常之前，还包括：从所述测试向量库中选择已完成测试的测试向量的下一个测试向量，进行配置，得到测试数据，并根据测试数据得到比较结果，直至需要测试的测试向量测试完成，根据各比较结果综合判断所述待测芯片数字功能是否正常。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄苏芳，杨昆，孔泉，
申请(专利权)人：万高杭州科技有限公司，
类型：发明
国别省市：