本发明专利技术公开了一种模块产品测试工装，包括底座和放置于该底座一侧的测试架，所述底座包括支撑架和定位块，在支撑架的下方设置有多个支座，所述支撑架的上表面开设有多个定位孔，所述定位块通过定位销插入至定位孔内定位；所述测试架上设置有单排测试PIN针和双排测试PIN针，所述单排测试PIN针或双排测试PIN针外接数据线。本发明专利技术具有如下有益效果：（1）通过定位设置，将模块产品快速对位精准，并实现一次性固定到位，节省了设置时间，提高了生产效率；（2）本发明专利技术工装整体设计精致占用空间少，同时配有单排及双排测试接口，方便选择使用；（3）设置两种接口，适合所有此结构产品的测试，应用范围广。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种模块产品测试工装，包括底座和放置于该底座一侧的测试架，所述底座包括支撑架和定位块，在支撑架的下方设置有多个支座，所述支撑架的上表面开设有多个定位孔，所述定位块通过定位销插入至定位孔内定位；所述测试架上设置有单排测试PIN针和双排测试PIN针，所述单排测试PIN针或双排测试PIN针外接数据线。本专利技术具有如下有益效果：（1）通过定位设置，将模块产品快速对位精准，并实现一次性固定到位，节省了设置时间，提高了生产效率；（2）本专利技术工装整体设计精致占用空间少，同时配有单排及双排测试接口，方便选择使用；（3）设置两种接口，适合所有此结构产品的测试，应用范围广。【专利说明】一种模块产品测试工装
本专利技术涉及一种测试工装，尤其涉及一种模块产品测试工装。
技术介绍
模块产品做成成品后都要进行100%功能测试，测试过程中如出现对位不准极易影响生产效率或烧坏产品，提高生产成本。同时由于模块产品品种多，对应的测试工装也多，占用大量空间来存放，浪费所属公司资源。
技术实现思路
本专利技术的目的是解决现有技术中测试对位不准及浪费空间存放的问题，提供一种模块产品测试工装。本专利技术的技术方案是:一种模块产品测试工装，包括底座和放置于该底座一侧的测试架，所述底座包括支撑架和定位块，在支撑架的下方设置有多个支座，所述支撑架的上表面开设有多个定位孔，所述定位块通过定位销插入至定位孔内定位；所述测试架上设置有单排测试PIN针和双排测试PIN针，所述单排测试PIN针或双排测试PIN针外接数据线。优选的，所述支撑架的中间中空。优选的，所述支撑架的截面为U型。优选的，所述定位孔沿支撑架的长度方向开设有至少一排。优选的，所述定位孔沿支撑架的长度方向开设两排。优选的，所述支座为四个，对称设置在支撑架的四角。优选的，所述单排测试PIN针和双排测试PIN针相对设置在测试架的两侧，其针孔向上。本专利技术具有如下有益效果:(1)通过定位设置，将模块产品快速对位精准，并实现一次性固定到位，节省了设置时间，提闻了生广效率；(2)本专利技术工装整体设计精致占用空间少，同时配有单排及双排测试接口，方便选择使用；(3)通过设置PITCH2.54mm或PITCH2.0mm两种接口，适合所有此结构产品的测试，应用范围广。【专利附图】【附图说明】图1为本专利技术放置模块产品测试示意图；图2为本专利技术底座的俯视图；图2a为图2的正视图；图3为本专利技术测试架的俯视图；图3a为图3的正视图。【具体实施方式】为了使本专利技术实现的技术手段、技术特征、专利技术目的与技术效果易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本专利技术。如图1所示为本专利技术的一种模块产品测试工装，包括底座100和放置于该底座100一侧的测试架200，使用时将模块产品300放置在底座100和测试架200的上方，并进行定位，模块产品300连接测试机。如图2和2a所示，底座100包括支撑架101和定位块102，支撑架101的中间为中空，支撑架101的截面为U型。在支撑架101的下方四个角落处设置有四个支座103，在支撑架101的上表面开设有多个定位孔104，该定位孔104沿支撑架101的长度方向开设有上下两排。本专利技术的定位块102通过定位销105插入至定位孔104内进行定位；由于不同的模块产品300的规格不同，跟进跟进定位孔104的选择以定位不同模块产品300的位置。如图3和3a所示，本专利技术的测试架200上设置有单排测试PIN针201和双排测试PIN针202，单排测试PIN针201和双排测试PIN针202相对设置在测试架200的两侧，其针孔向上；单排测试PIN针201或双排测试PIN针202外接数据线203。本专利技术针对不同产品只需更换数据线203，制作方便，成本低，能节约大量测试架200的成本。综上所述仅为本专利技术较佳的实施例，并非用来限定本专利技术的实施范围。即凡依本专利技术申请专利范围的内容所作的等效变化及修饰，皆应属于本专利技术的技术范畴。【权利要求】1.一种模块产品测试工装，包括底座和放置于该底座一侧的测试架，其特征在于:所述底座包括支撑架和定位块，在支撑架的下方设置有多个支座，所述支撑架的上表面开设有多个定位孔，所述定位块通过定位销插入至定位孔内定位；所述测试架上设置有单排测试PIN针和双排测试PIN针，所述单排测试PIN针或双排测试PIN针外接数据线。2.根据权利要求1所述的模块产品测试工装，其特征在于:所述支撑架的中间中空。3.根据权利要求1或2所述的模块产品测试工装，其特征在于:所述支撑架的截面为U型。4.根据权利要求3所述的模块产品测试工装，其特征在于:所述定位孔沿支撑架的长度方向开设有至少一排。5.根据权利要求4所述的模块产品测试工装，其特征在于:所述定位孔沿支撑架的长度方向开设两排。6.根据权利要求1所述的模块产品测试工装，其特征在于:所述支座为四个，对称设置在支撑架的四角。7.根据权利要求1所述的模块产品测试工装，其特征在于:所述单排测试PIN针和双排测试PIN针相对设置在测试架的两侧，其针孔向上。【文档编号】G01R1/04GK103713164SQ201310754073【公开日】2014年4月9日 申请日期:2013年12月31日 优先权日:2013年12月31日 【专利技术者】丁玉龙, 曹文锋, 任立海, 余远辉, 蔡楚珊, 唐纯德, 李超, 韩喆, 徐长远 申请人:深圳晶华显示器材有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种模块产品测试工装，包括底座和放置于该底座一侧的测试架，其特征在于：所述底座包括支撑架和定位块，在支撑架的下方设置有多个支座，所述支撑架的上表面开设有多个定位孔，所述定位块通过定位销插入至定位孔内定位；所述测试架上设置有单排测试PIN针和双排测试PIN针，所述单排测试PIN针或双排测试PIN针外接数据线。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：丁玉龙，曹文锋，任立海，余远辉，蔡楚珊，唐纯德，李超，韩喆，徐长远，
申请(专利权)人：深圳晶华显示器材有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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