射频泄漏测试系统的微波元器件机箱技术方案

本实用新型专利技术提供一种射频泄漏测试系统的微波元器件机箱，包括机箱外壳、电源模块、宽带功率放大器、定向耦合器、若干个隔离器以及若干个端口，所述电源模块、宽带功率放大器、定向耦合器、隔离器均设置在外壳内，若干个端口分布在外壳的前面板和后面板上，所述电源模块一端接220V电源，另一端连接到宽带功率放大器、定向耦合器、隔离器，所述宽带功率放大器输入端接信号源，输出端连接定向耦合器，每个隔离器均具有一个输入端口和一个输出端口。本实用新型专利技术的优点在于：提高输入混响室的信号功率，能明显提高系统测试的动态范围；提高信号输入功率，而且可以提高系统的稳定，减小系统回波功率对系统信号源和功率放大器的影响。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供一种射频泄漏测试系统的微波元器件机箱，包括机箱外壳、电源模块、宽带功率放大器、定向耦合器、若干个隔离器以及若干个端口，所述电源模块、宽带功率放大器、定向耦合器、隔离器均设置在外壳内，若干个端口分布在外壳的前面板和后面板上，所述电源模块一端接220V电源，另一端连接到宽带功率放大器、定向耦合器、隔离器，所述宽带功率放大器输入端接信号源，输出端连接定向耦合器，每个隔离器均具有一个输入端口和一个输出端口。本技术的优点在于：提高输入混响室的信号功率，能明显提高系统测试的动态范围；提高信号输入功率，而且可以提高系统的稳定，减小系统回波功率对系统信号源和功率放大器的影响。【专利说明】射频泄漏测试系统的微波元器件机箱
本技术涉及测试系统，特别是用于电连接器的电磁屏蔽效能测试的射频泄漏测试系统的微波兀器件机箱。
技术介绍
现代电子系统复杂度不断提高，电子设备间及内部之间的电缆也越来越多。有些电子产品具有较高的电磁兼容性要求，由于电连接器的结构特点，电子系统中电磁干扰主要是电缆造成，采用屏蔽电缆可以有效地抑制电磁干扰。屏蔽效能反映屏蔽电缆和电连接器屏蔽电磁波的能力。射频泄漏测试系统就是用于测试电连接器屏蔽效能的设备。因此对屏蔽电缆和电连接器的屏蔽效能的测量可以很好地解决系统电磁兼容问题。
技术实现思路
本技术的所要解决的技术问题在于提供一种用于电连接器电磁屏蔽效能测试的射频泄漏测试系统的微波元器件机箱。本技术采用以下技术方案解决上述技术问题的:一种射频泄漏测试系统的微波元器件机箱，包括机箱外壳、电源模块、宽带功率放大器、定向耦合器、若干个隔离器以及若干个端口，所述电源模块、宽带功率放大器、定向耦合器、隔离器均设置在外壳内，若干个端口分布在外壳的前面板和后面板上，所述电源模块一端接220V电源，另一端连接到宽带功率放大器、定向耦合器、隔离器，所述宽带功率放大器输入端接信号源，输出端连接定向率禹合器，每个隔离器均具有一个输入端口和一个输出端口。优化的，该射频泄漏测试系统的微波元器件机箱包括4只隔离器，分别为第一隔离器、第二隔离器、第三隔离器、第四隔离器。具体的，所述若干个端口包括位于外壳前面板的:A端口、B端口、Cl?C4端口、Dl?D4端口、E端口、F端口、G端口和H端口，以及位于外壳后面板的:1端口、J端口、K端口。具体的，各端口的连接关系如下:A端口连接宽带功率放大器输入端，是信号源输入端口 ；B端口:定向I禹合器输出端口 ；Cl?C4端口:第一至第四隔离器输入端口 ；Dl?D4端口:第一至第四隔离器输出端口，用半刚性电缆连接至信号发射端口 E。E端口:信号发射端口，在机箱内部与后面板上的信号发射端口 I直连；F端口:定向耦合器耦合输出端口；G端口:测试信号接收端口，机箱内部与后面板上测试信号接收端口 J直连；H端口:参考信号接收端口，在机箱内部与后面板上参考信号接收端口 K直连；I端口:信号发射端口，通过测试电缆与外部的混响室信号发射端口连接；J端口:测试信号接收端口，通过测试电缆与外部的混响室测试信号接收端口连接;K端口:参考信号接收端口，通过测试电缆与外部混响室参考信号接收端口连接。优化的，所述微波元器件机箱的外壳外部四周孔缝处采用铝箔密封。优化的，所述微波元器件机箱的内部采用屏蔽腔体分割。本技术的优点在于:1、系统中采用宽带功率放大器，提高输入混响室的信号功率，能明显提高系统测试的动态范围。2、在微波元器件机箱中加入隔离器，不仅能提高定向耦合器整体方向性指标，进一步提高信号输入功率，而且可以提高系统的稳定，减小系统回波功率对系统信号源和功率放大器的影响。同时隔离器采用分频段的方法，可以覆盖宽频段的测试范围。 3、微波元器件机箱采用电磁屏蔽设计，减小大功率信号谐波对小功率信号测量的影响，进一步提闻系统测试的动态范围。【专利附图】【附图说明】图1为本技术微波元器件机箱的平面布局图。图2为微波元器件机箱的前面板图。图3为微波元器件机箱的后面板图。【具体实施方式】以下结合附图对本技术进行详细的描述。微波元器件机箱是整个射频泄漏测试系统的核心组成部分。请参阅图1所示，本技术射频泄漏测试系统的微波元器件机箱包括机箱外壳、电源模块、宽带功率放大器、定向耦合器、若干个隔离器以及若干个端口，所述电源模块、宽带功率放大器、定向I禹合器、隔离器均设置在外壳内，若干个端口分布在外壳的前面板和后面板上。所述电源模块一端接220V电源，另一端连接到宽带功率放大器、定向耦合器、隔离器，给这些元器件供电。所述宽带功率放大器输入端接信号源，输出端连接定向耦合器。每个隔离器均具有一个输入端口和一个输出端口。所述宽带功率放大器采用I~20GHz微波功率放大器，其主要技术指标包括:增益:30dB ;平坦度:±5dB ;饱和功率:33dBm (I ~18GHz) ；32dBm (18 ~20GHz);电源:2.6Ai+10Vo所述定向耦合器实现输入信号功率的监测。由于系统中定向耦合器主要做监测输入功率之用，只要定向耦合器的耦合度指标确定，则耦合度具体数值对系统性能并没有影响。本技术采用一只定向耦合器覆盖全频段，可以减少切换频段时的人工操作，带来测试操作上的很大便利，同时保证系统的连接状态的稳定。选用了 Agilent公司出品的型号为Agilent87300B的规格产品，其耦合度C=IOdB,方向性D16dB。结合后续的隔离器，可使得整体方向性大大高于20dB。由于I只隔离器无法覆盖全频段，本技术中采用了 4只隔离器分段覆盖工作频段，分别为第一隔离器、第二隔离器、第三隔离器、第四隔离器，第一隔离器、第二隔离器、第三隔离器、第四隔离器的频段分别是:1~2GHz、2~4GHz、4~8GHz和8~20GHz。作为一个具体的例子，四个隔离器采用的产品为成都泰格公司和美国DITOM公司产品，型号(频段范围、隔离度)分别为:TGG-100(1 ~2GHz, 19dB)、TGG_301 (2 ~4GHz, 18dB)、TGG_402 (4 ~8GHz，19dB)和D3I8020 (8~20GHz, 15dB)。在工作频率范围内，其整体隔离度I≥15dB。所述若干个端口包括位于外壳前面板的:A端口、B端口、Cl~C4端口、Dl~D4端口、E端口、F端口、G端口和H端口，以及位于外壳后面板的:1端口、J端口、K端口，各端口的作用和连接关系如下所述:A端口，信号源输入端口 ；B端口，定向稱合器输出端口；Cl~C4端口:第一至第四隔离器输入端口，分别为I~2GHz、2~4GHz、4~8GHz和8~20GHz四个频段隔离器的输入端口 ；Dl~D4端口:第一至第四隔离器输出端口，分别为I~2GHz、2~4GHz、4~8GHz和8~20GHz四个频段隔离器的输出端口，使用中需根据测试频段，把不同频段的输出端口用半刚性电缆连接至信号发射端口 E。E端口:信号发射端口，通过此端口把发射信号送入机箱，在机箱内部与后面板上的信号发射端口I直连；F端口:监测信号接收端口，即定向I禹合器I禹合输出端口，通过此端口把定向I禹合器耦合输出的信号送至 监测接收机，用于监测输入混响室中的测试信号功率；G端口:测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种射频泄漏测试系统的微波元器件机箱，其特征在于：包括机箱外壳、电源模块、宽带功率放大器、定向耦合器、若干个隔离器以及若干个端口，所述电源模块、宽带功率放大器、定向耦合器、隔离器均设置在外壳内，若干个端口分布在外壳的前面板和后面板上，所述电源模块一端接220V电源，另一端连接到宽带功率放大器、定向耦合器、隔离器，所述宽带功率放大器输入端接信号源，输出端连接定向耦合器，每个隔离器均具有一个输入端口和一个输出端口。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王笃文，刘振华，王烁，李景峰，王忠华，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第三十八研究所，
类型：实用新型
国别省市：