本发明专利技术公开一种天线测试装置及其天线测试单元。天线测试装置用以测试一电子装置的无线传输效果，包括一平台、一发射单元、一补偿单元以及一测试区。发射单元形成于该平台之上，其中，一馈入信号馈入至该发射单元。补偿单元形成于该平台之上，其中，一辐射场形成于该发射单元与该补偿单元之间。测试区位于该发射单元以及该补偿单元之间，其中，该电子装置置于该测试区以进行测试。
【技术实现步骤摘要】
天线测试装置及其天线测试单元
本专利技术涉及一种天线测试装置，特别是涉及一种可携式电子装置的近场测试的天线测试装置。
技术介绍
针对可携式电子装置的天线测试，目前一般使用耦合式天线、水平天线以及指向性天线进行测试。然而，使用耦合式天线进行测试时，会因为测试天线太小或是距离太远而发生补偿过大的问题。使用水平天线进行测试时，会因为测试天线的辐射角度过大而有补偿不稳定的问题。使用指向性天线进行测试时，会因为测试天线的辐射角度较小而辐射强度过大，而造成辐射折射的问题。
技术实现思路
本专利技术即为了欲解决现有技术的问题而提供的一种天线测试装置，用以测试一电子装置的无线传输效果，包括一平台、一发射单元、一补偿单元以及一测试区。发射单元形成于该平台之上，其中，一馈入信号馈入至该发射单元。补偿单元形成于该平台之上，其中，一辐射场形成于该发射单元与该补偿单元之间。测试区位于该发射单元以及该补偿单元之间，其中，该电子装置置于该测试区以进行测试。本专利技术的实施例也提供一种天线测试单元，应用于上述天线测试装置，该天线测试单元包括一接地元件以及一辐射体。辐射体包括一本体、一第一辐射体单元以及一第二辐射体单元。第一辐射体单元连接该本体，该第一辐射体单元包括一第一翼形部以及一第二翼形部，其中，该第一翼形部的形状对称该第二翼形部的形状。第二辐射体单元连接该本体，该第二辐射体单元包括一第一段部以及一第二段部，该第一段部朝该第一翼形部延伸，该第二段部朝该第二翼形部延伸。应用本专利技术实施例的天线测试装置，可以近场测试的方式对电子装置进行测试，特别是，可提供高、中、低频段的宽频测试。并且，由于使用形状对称的补偿单元，因此，通过发射单元与补偿单元之间的耦合，以补偿接收不足的辐射空间，可提供完全辐射测试的功倉泛。【附图说明】图1是本专利技术第一实施例的天线测试装置；图2是本专利技术第二实施例的天线测试装置；图3是本专利技术第三实施例的天线测试装置；以及图4是本专利技术第四实施例的天线测试装置。主要元件符号说明1、2、3、4?天线测试装置；10?发射单元；20?补偿单元；30?平台；31?测试区；101?接地元件；102?辐射体；110?第一辐射体单元；111、111’ ?第一翼形部；112、112’ ?第二翼形部；113?第一延伸部；1131?第一延伸端；1132?第一弯折边缘；114?第二延伸部；1141?第二延伸端；1142?第二弯折边缘；115、115’ ?第一弯折部；116、116’ ?第二弯折部；120?第二辐射体单元；121?第一段部；122?第二段部；123?连接段部；124?第一延伸段部；125?第二延伸段部；130 ?本体；131?本体缺口；140?馈入部；E?电子装置。【具体实施方式】参照图1，其是显示本专利技术第一实施例的天线测试装置1，用以测试一电子装置E的无线传输效果。天线测试装置I包括一平台30、一发射单元10、一补偿单元20以及一测试区31。发射单元10形成于该平台30之上，其中，一馈入信号馈入至该发射单元10。补偿单元20形成于该平台30之上，其中，一辐射场形成于该发射单元10与该补偿单元20之间。测试区31位于该发射单元10以及该补偿单元20之间，其中，该电子装置E置于该测试区31以进行测试。在本专利技术的实施例中，该发射单元10的形状与该补偿单元20的形状，相对于该测试区31而大致彼此对称。在此以发射单元10为例，说明本专利技术实施例的天线测试单元(发射单元10及补偿单元20)的构造。发射单元10包括一接地元件101以及一辐射体102。辐射体102包括一本体130、一第一辐射体单元110以及一第二辐射体单元120。第一辐射体单元110连接该本体130，该第一辐射体单元110包括一第一翼形部111以及一第二翼形部112，其中，该第一翼形部111的形状对称该第二翼形部112的形状。第二辐射体单元120连接该本体130，该第二辐射体单元120包括一第一段部121以及一第二段部122，该第一段部121朝该第一翼形部111延伸，该第二段部122朝该第二翼形部112延伸。该第二辐射体单元120还包括一连接段部123，该连接段部123连接该本体130，该第一段部121、该第二段部122以及该连接段部123形成一 T形结构。该T形结构位于一中心线C之上，该第一翼形部111以及该第二翼形部112相对该中心线C而彼此对称。该第一辐射体单元110还包括一第一延伸部113以及一第二延伸部114，该第一延伸部113连接该第一翼形部111与该本体130，该第二延伸部114连接该第二翼形部112与该本体130。该第一段部121与该第一延伸部113平行，该第二段部122与该第二延伸部114平行。该第一段部121与该第一延伸部113之间存在一第一稱合间隙gl,同样的，该第二段部122与该第二延伸部114之间存在一第二耦合间隙g2。第一耦合间隙gl可与第二耦合间隙g2相等或不同，在此实施例中，第一耦合间隙gl以及第二耦合间隙g2约介于7mm^9mm 之间。该第一段部121与该接地元件101之间存在一第一耦合间距dl，同样的，该第二段部122与该接地元件101之间存在一第二耦合间距d2。第一耦合间距dl可与第二耦合间距d2相等或不同，在此实施例中，第一耦合间距dl以及第二耦合间距d2约介于2mm至5mm之间。本体130与该接地元件101之间也存在耦合间距d3以及耦合间距d4，如图1所示，耦合间距d3可与耦合间距d4相等或不同，在此实施例中，耦合5mm之间。在图1的实施例中，该第一延伸部113包括一第一延伸端1131，该第一翼形部111连接该第一延伸端1131,该第一延伸端1131与该第一翼形部111的交接处存在一第一弯折边缘1132，该第二延伸部114包括一第二延伸端1141，该第二翼形部112连接该第二延伸端1141，该第二延伸端1141与该第二翼形部112的交接处存在一第二弯折边缘1142。一馈入部140形成于该本体130。间距d3以及耦合间距d4约介于2mm至如图1所显示的，馈入部140与第一翼形部111或第二翼形部112的端部之间存在路径P1，路径Pl的长度约等于一高频信号(例如1.7GHz^2.7GHz)的二分之一波长。馈入部140与第一延伸端1131或第二延伸端1141之间存在路径P2，路径P2的长度约等于一中频信号(例如1.4GHz^l.6GHz)的四分之一波长。馈入部140与第一段部121或第二段部122的端部之间存在路径P3，路径P3的长度约等于一低频信号(例如700MHz~960MHz)的四分之一波长。由此，可提供高、中、低频段的宽频测试信号。应用本专利技术实施例的天线测试装置，可以近场测试的方式对电子装置进行测试，特别是，可提供高、中、低频段的宽频测试。并且，由于使用形状对称的补偿单元，因此，通过发射单元与补偿单元之间的耦合，以补偿接收不足的辐射空间，可提供完全辐射测试的功倉泛。参照图2，其是 显示本专利技术第二实施例的天线测试装置2，相较于第一实施例，其特点在于，该第二辐射体单元120还包括一第一延伸段部124以及一第二延伸段部125，该第一延伸段部124连接并垂直于该第一段部121，该第二延伸段部125连接并垂直于该第二段部122。此外，该第一本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种天线测试单元，包括：接地元件；以及辐射体，包括：本体；第一辐射体单元，连接该本体，该第一辐射体单元包括第一翼形部以及第二翼形部，其中，该第一翼形部的形状对称该第二翼形部的形状；以及第二辐射体单元，连接该本体，该第二辐射体单元包括第一段部以及第二段部，该第一段部朝该第一翼形部延伸，该第二段部朝该第二翼形部延伸。
【技术特征摘要】
2012.08.13 TW 1011291441.一种天线测试单元，包括: 接地元件；以及 福射体，包括: 本体； 第一辐射体单元，连接该本体，该第一辐射体单元包括第一翼形部以及第二翼形部，其中，该第一翼形部的形状对称该第二翼形部的形状；以及 第二辐射体单元，连接该本体，该第二辐射体单元包括第一段部以及第二段部，该第一段部朝该第一翼形部延伸，该第二段部朝该第二翼形部延伸。2.如权利要求1所述的天线测试单元，其中，该第二辐射体单元还包括连接段部，该连接段部连接该本体，该第一段部、该第二段部以及该连接段部形成一 T形结构。3.如权利要求2所述的天线测试单元，其中，该T形结构位于一中心线之上，该第一翼形部以及该第二翼形部相对该中心线而彼此对称。4.如权利要求3所述的天线测试单元，其中，该第二辐射体单元还包括第一延伸段部以及第二延伸段部，该第一延伸段部连接并垂直于该第一段部，该第二延伸段部连接并垂直于该第二段部。5.如权利要求1所述的天线测试单元，其中，该第一辐射体单元还包括第一延伸部以及第二延伸部，该第一延伸部连接该第一翼形部与该本体，该第二延伸部连接该第二翼形部与该本体。6.如权利要求5所述的天线测试单元，其中，该第一段部与该第一延伸部平行，该第二段部与该第二延伸部平行。7.如权利要求6所述的天线测试单元，其中，该第一段部与该第一延伸部之间存在一耦合间隙。8.如权利要求6所述的天线测试单元，其中，该第一延伸部包括第一延伸端，该第一翼形部连接该第一延伸端，该第一延伸端与该第一翼形部的交接处存在一第一弯折边缘，该第二延伸部包括第二延伸端，该第二翼形部连接该第二延伸端，该第二延伸端与该第二翼形部的交接处存在一第二弯折边缘。9.如权利要求6所述的天线测试单元，其中，该第一段部与该接地元件之间存在一耦合间距。10.如权利要求1所述的天线测试单元，其中，该第一辐射体单元还包括第一弯折部以及第二弯折部，该第一弯折部连接该第一翼形部，该第二弯折部连接该第二翼形部。11.一种天线测试装置，用以测试一电子装置的无线传输效果，包括: 平台； 发射单元，形成于该平台之上，其中，一馈入信号馈入至该发射单元； 补偿单元，形成于该平台之上，其中，一辐射场形成于该发射单元...
【专利技术属性】
技术研发人员：周震宇，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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