一种检测装置、液晶滴注系统及液晶滴注控制方法制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种检测装置、液晶滴注系统及液晶滴注控制方法，涉及显示技术领域。可以实现对液晶量的实时检测与滴注控制，从而提高产品质量及生产效率，降低生产成本。该液晶滴注系统包括滴注机以及滴注检测设备，滴注机向对盒成型的阵列基板和彩膜基板之间滴注液晶；滴注检测设备检测阵列基板和彩膜基板之间已注入液晶的量，以便根据已注入液晶的量调节下一批对盒成型的阵列基板和彩膜基板之间的液晶滴注。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术实施例提供，涉及显示
。可以实现对液晶量的实时检测与滴注控制，从而提高产品质量及生产效率，降低生产成本。该液晶滴注系统包括滴注机以及滴注检测设备，滴注机向对盒成型的阵列基板和彩膜基板之间滴注液晶；滴注检测设备检测阵列基板和彩膜基板之间已注入液晶的量，以便根据已注入液晶的量调节下一批对盒成型的阵列基板和彩膜基板之间的液晶滴注。【专利说明】
本专利技术涉及显示
，尤其涉及。
技术介绍
TFT-LCD(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,薄膜晶体管-液晶显示器〕由阵列基板和彩膜基板构成。在阵列基板和彩膜基板中采用0DF〔0ne Drop Filling,液晶滴注法)来实现液晶填充，然后通过控制液晶的偏转，从而实现对光线强弱的控制，再通过彩膜基板，实现图像显示。在现有的液晶显示器的制造エ艺中，阵列基板和彩膜基板之间的液晶量需要根据设计要求以及实际エ艺过程中的细微调整来确定。在加工过程中，液晶的填充量存在上限和下限，该上限和下限的中心值为标准填充值。当液晶量趋近于或低于填充量的下限时，基板之间的液晶量较少，液晶对基板的支撑作用减小，从而使得阵列基板与彩膜基板之间用于起支撑作用的PS (Photo Spacer，柱状隔垫物〕所承受的支撑カ增加，压缩量变大，在这种情况下，如果面板受外力拍打或敲击，会引起PS发生位置偏移，由于PS受カ较大，PS回复时的阻カ同时増大，从而导致PS无法迅速有效的回复到原始位置，最终产生漏光，出现白光不良现象。另ー方面，当液晶量趋近于或略高于填充量上限时，液晶对基板的支撑作用相对较大，从而使PS所承受的支撑カ减小，压缩量变小，PS所承受回复阻カ减小。然而，当液晶面板放置一段时间后，由于液晶自身的重力因素和液晶的流动，使得部分区域出现液晶过多的状态，从而产生重力Mura〔斑痕〕的不良现象。无论是漏光现象还是重力Mura现象都会严重影响显示器件的显示效果。因此，在液晶填充量可允许的范围内，需要对液晶量进行检测并对液晶填充量进行微控，从而能够避免各种不良现象的产生。现有的对液晶填充量的控制方法为手动调节法或者采用对液晶量进行LC〔liquidcrystal，液晶〕滴注实验，然后将实验结果应用到生产加工中。这样ー来就会耗费大量的人力物力，从而降低生产线的稼动率，提高生产成本，降低生产效率。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供，可以实现对液晶量的实时检测与滴注控制，从而提高产品质量及生产效率，降低生产成本。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案:本专利技术实施例的一方面，提供了一种检测装置，用于对液晶面板的液晶量进行检测，包括:采集单元，用于采集入射光透过所述液晶面板形成的寻常光与非常光，以得到所述寻常光与所述非常光出光点之间的距离，所述入射光与所述液晶面板中的液晶分子的光轴具有预设夹角；处理单元，用于根据所述出光点之间的距离以及所述预设夹角得到所述液晶面板中液晶的厚度，并将所述厚度与预设定的液晶级差数据进行比对得到所述液晶面板中液晶的量。本专利技术实施例的另一方面，提供了ー种液晶滴注系统，包括:滴注机以及滴注检测设备；所述滴注机，用于向对盒成型的阵列基板和彩膜基板之间滴注液晶，所述阵列基板和所述彩膜基板之间具有隔垫物；所述滴注检测设备，用于检测所述阵列基板和所述彩膜基板之间已注入液晶的量，以便根据所述已注入液晶的量调节液晶滴注；其中，所述滴注检测设备包括上述的检测装置。本专利技术实施例的又一方面，提供了ー种液晶滴注控制方法，包括:滴注机向对盒成型的阵列基板和彩膜基板之间滴注液晶，所述阵列基板和所述彩月旲基板之间具有隔塾物；滴注检测设备检测所述阵列基板和所述彩膜基板之间已注入液晶的量，以便根据所述已注入液晶的量调节液晶滴注；本专利技术实施例提供，该液晶滴注系统包括滴注机以及滴注检测设备，滴注机向对盒成型的阵列基板和彩膜基板之间滴注液晶；滴注检测设备检测阵列基板和彩膜基板之间已注入液晶的量，以便根据已注入液晶的量调节下一批对盒成型的阵列基板和彩膜基板之间的液晶滴注。这样ー来，可以实现对液晶量的实时检测与滴注控制，从而提高产品质量及生产效率，降低生产成本。【专利附图】【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种检测装置示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种检测装置的详细结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的液晶双折射原理图；图4为本专利技术实施例提供的一种加压装置的加压原理示意图；图5为本专利技术实施例提供的ー种液晶滴注系统结构示意图；图6为本专利技术实施例提供的ー种液晶面板结构示意图；图7为本专利技术实施例提供的ー种液晶滴注系统的详细结构示意图；图8为本专利技术实施例提供的ー种柱高计算原理图；图9为本专利技术实施例提供ー种液晶滴注控制方法流程示意图；图10为本专利技术实施例提供一种检测装置的检测过程示意图；图11为本专利技术实施例提供的ー种液晶滴注系统滴注流程示意图；图12为本专利技术实施例提供的一种滴注机滴注流程示意图。【具体实施方式】下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供一种检测装置10，用于对液晶面板的液晶量进行检测，如图1所示，可以包括:采集单元101，如图2和图3所示，用于采集入射光L透过液晶面板20形成的寻常光0与非常光E，以得到寻常光0与非常光E的出光点之间的距离d，入射光L与液晶面板20中的液晶分子的光轴X具有预设夹角0。处理单元102，用于根据出光点之间的距离d以及预设夹角0得到液晶面板20中液晶的厚度T，并将T厚度与预设定的液晶级差数据进行比对得到液晶面板中液晶201的量。需要说明的是，该检测装置10是利用液晶的双折射原理对液晶面板20中已注入的液晶的厚度进行测量。具体的，如图3所示，双折射原理是指，当入射光L与液晶分子的光轴X成一定的角度e，由于液晶分子为各向异性，可以使得入射光L分解为一束遵循折射定量的寻常光0和一束不遵循折射定律的非常光E，这两束光线通过液晶面板20中的液晶201会产生出光点之间的距离d。处理单元102，可以通过如下公式将该出光点之间的距离d换算为液晶201的厚度T:其中，寻常光0在液晶201内的折射率设为n。；非常光E在液晶201内的折射率设为 ne，。需要说明的是，采集单元101如图2所示，包括偏光片1021、扩散板1022、LED背光灯组1023，用于对液晶面板20提供光源。除此之外，该采集単元101还包括用于实现采集功能的CCD (Charge Coupled Device,电荷稱合装置)相机或红外摄像管(图中未示出)。具体的，CXD相机可以将被检测的目标转换成图像信号，再传送至处理单元，该处理单元根据像素分布和亮本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测装置，用于对液晶面板的液晶量进行检测，其特征在于，包括：采集单元，用于采集入射光透过所述液晶面板形成的寻常光与非常光，以得到所述寻常光与所述非常光出光点之间的距离，所述入射光与所述液晶面板中的液晶分子的光轴具有预设夹角；处理单元，用于根据所述出光点之间的距离以及所述预设夹角得到所述液晶面板中液晶的厚度，并将所述厚度与预设定的液晶级差数据进行比对得到所述液晶面板中液晶的量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：井杨坤，
申请(专利权)人：合肥京东方光电科技有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：