一种光纤陀螺前放板频率特性的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种光纤陀螺前放板频率特性的测试方法。预设每个测试频率点对应的频率控制字，使用直接数字频率合成方法获得余弦扫频测试数字信号和余弦扫频测试数字信号90?相移的参考数字信号，将余弦扫频测试数字信号转换为余弦扫频测试模拟信号后输入到光纤陀螺前放板中，将光纤陀螺前放板输出信号进行模拟数字转换，获得光纤陀螺前放板输出信号的采样序列；进行相关运算获得两路相关系数；重复所有测试频率点获得两路相关系数序列，发送至上位机；计算获得幅频特性和相频特性以及光纤陀螺前放板频率特性的参数。本发明专利技术可以对光纤陀螺前放板的频率特性进行快速和准确测量，具有结构简单、成本低、测量速度快、测量频率范围大、精度高等特点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光纤陀螺前放板频率特性的测试方法，其特征在于步骤如下：1）待测试的光纤陀螺前放板频率特性的测试频率点为fi，其中i＝1,2,...,N，N为待测试的频率点数，预设每一个测试频率点fi对应的一个频率控制字Ki，根据频率控制字Ki使用直接数字频率合成方法获得频率为fi的余弦扫频测试数字信号和余弦扫频测试数字信号90°相移的参考数字信号；2）将余弦扫频测试数字信号先后通过数字模拟转换、信号驱动转换为余弦扫频测试模拟信号，将余弦扫频测试模拟信号输入到光纤陀螺前放板中，得到每个测试频率点fi下光纤陀螺前放板输出信号；3）将对步骤2）中得到的每个测试频率点fi下光纤陀螺前放板输出信号进行模拟数字转换，获得光纤陀螺前放板输出信号的采样序列，并通过获取数字量得到余弦扫频测试数字信号序列与余弦扫频测试数字信号90°相移的参考数字信号序列；4）将光纤陀螺前放板输出信号的采样序列分别与余弦扫频测试数字信号序列、余弦扫频测试数字信号90°相移的参考数字信号序列进行相关运算，获得两路相关系数Ri1和Ri2；5）重复步骤1）至步骤4）对所有测试频率点f1,f2,...,fN进行扫频测试后，获得测试频率点f1,f2,...,fN下对应的两路相关系数序列R11,R21,...,RN1和R12,R22,...,RN2，将两路相关系数序列发送至上位机；6）上位机对步骤5）得到的两路相关系数序列R11,R21,...,RN1和R12,R22,...,RN2进行计算获得对应测试频率点f1,f2,...,fN下光纤陀螺前放板的幅频特性和相频特性7）由步骤6）得到的幅频特性和相频特性获得光纤陀螺前放板频率特性的参数，包括低通截止频率、高通截止频率和通带增益。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李阳，刘承，陈杏藩，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：