一种低成本的单一多晶架构的非挥发性记忆体制造技术

本实用新型专利技术涉及一种低成本的单一多晶架构的非挥发性记忆体，其包括半导体基板及记忆体细胞，记忆体细胞包括PMOS晶体管、控制电容；半导体基板的表面上淀积有栅介质层，栅介质层上设有浮栅电极，浮栅电极覆盖并贯穿PMOS晶体管和控制电容上方对应的栅介质层，浮栅电极的两侧淀积有侧面保护层；PMOS晶体管包括第一N型区域及P型源极区与P型漏极区，控制电容包括第二P型区域及第一P型掺杂区域与第二P型掺杂区域。本实用新型专利技术结构紧凑，能与CMOS工艺兼容，降低芯片成本，提高存储的安全可靠性。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种低成本的单一多晶架构的非挥发性记忆体，包括半导体基板；其特征是：所述半导体基板内的上部设有若干用于存储的记忆体细胞（200），所述记忆体细胞（200）中没有深井NWELL(Deep?NWELL),?所述记忆体细胞（200）包括PMOS晶体管（210）和控制电容（220）；所述PMOS晶体管（210）、控制电容（220）间通过半导体基板内的领域介质区域（214）相互隔离；半导体基板的表面上淀积有栅介质层（215），所述栅介质层（215）上设有浮栅电极（216），所述浮栅电极（216）覆盖并贯穿PMOS晶体管（210）和控制电容（220）上方对应的栅介质层（215），浮栅电极（216）的两侧淀积有侧面保护层（217），侧面保护层（217）覆盖浮栅电极（216）的侧壁；PMOS晶体管（210）包括第一N型区域（202）及位于所述第一N型区域（202）内上部的P型源极区（213）与P型漏极区（221），控制电容（220）包括跟半导体基板相连的第二P型区域（205）及位于所述第二P型区域（205）内上部的第一P型掺杂区域（206）与第二P型掺杂区域（209）与上方的浮栅电极（216）相对应，并分别与相应的栅介质层（215）及领域介质区域（214）相接触。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：方英娇，方明，
申请(专利权)人：无锡来燕微电子有限公司，
类型：实用新型
国别省市：