基于X射线线扫的元器件计数方法及其计数装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种基于X射线线扫的元器件自动计数方法，包括：（1）料盘进入射线室；（2）料盘触发红外传感器，开始线阵CCD采集；（3）线阵CCD接收；（4）料盘触发红外传感器，停止采集；（5）线阵CCD将接收的信号转换为数字信号并通过控制盒传输到计算机，计算机将数字信号转换为X射线图像；（6）分析X射线图像，自动计算出元器件个数，显示计数结果。本发明专利技术还提供了实现上述方法的基于X射线线扫的元器件自动计数装置，包括料盘传送带、射线屏蔽室、X射线发生器、线阵CCD图像传感器、红外对射传感器、控制计算机、线阵传感器控制盒。具有可对生产线上的元器件进行自动计数，准确、稳定、快速等优点。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
基于X射线线扫的元器件计数方法，其特征在于，包括如下步骤：（1）将元器件料盘平放于匀速运转的传送带上，进入射线屏蔽室；（2）料盘触发红外对射传感器，开始线阵CCD图像传感器的采集；（3）射线发生器发射的X射线穿透料盘后由线阵CCD图像传感器接收；（4）料盘触发红外对射传感器，停止线阵CCD图像传感器的采集；（5）线阵CCD图像传感器将接收的信号转换为数字信号并通过线阵传感器控制盒传输到计算机，计算机将数字信号转换为X射线图像；（6）对X射线图像进行分析，自动计算出元器件个数，并显示计数结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吴元，黄茜，
申请(专利权)人：华南理工大学，
类型：发明
国别省市：