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本发明提供了一种基于X射线线扫的元器件自动计数方法，包括：（1）料盘进入射线室；（2）料盘触发红外传感器，开始线阵CCD采集；（3）线阵CCD接收；（4）料盘触发红外传感器，停止采集；（5）线阵CCD将接收的信号转换为数字信号并通过控制盒传...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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