元件检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开元件检测装置，其特征在于，包括：加载部，加载装载多个元件的一个以上的托盘；加载缓冲部，通过加载移送工具接收从所述加载部的托盘传达的元件并进行临时装载；测试部，接收从所述加载缓冲部传达的元件来执行测试；卸载缓冲部，以所述测试部为中心，设置于与所述加载缓冲部对向的位置，来接收通过所述测试部完成测试的元件；卸载部，根据所述测试部的测试结果，通过卸载移送工具对装载于所述卸载缓冲部的元件进行分类装载；一个以上的元件加压工具，在所述加载部、所述测试部及所述卸载部之间来用于移送元件。

【技术实现步骤摘要】
元件检测装置
本专利技术涉及元件检测装置，更详细地说是涉及检测对元件的电气特性的元件检测装置。
技术介绍
半导体元件(以下，称之为“元件”)在完成封装工序后，会通过半导体元件检测装置来进行电气特性、对于热或压力的可靠性检测等多种检测。对于元件的检测，会根据记忆元件；如CPU(CentralProcessingUnit)、GPU(GraphicProcessingUnit)等的非记忆元件；LED元件；光电元件等元件的种类来进行在室温环境下执行的试问检测、在高温环境下执行的加热检测等多种检测。另一方面，随着智能手机、智能平板电脑、智能TV等IT元件的种类变得多种多样且大众化，如CPU等的非记忆元件，即，LSI(LargeScaleIntegration)的需求正在剧增。但是，LSI因为其小量多品种的特性，相比于标准化的记忆元件的检测装置，因为检测数量小而存在着很难使用昂贵的检测装置的问题。
技术实现思路
(要解决的技术问题)本专利技术是为了解决如上所述的以往技术问题而提出的，其目的在于提供元件检测装置，可以快速地对小量多品种的LSI元件执行检测，并且可以检测多种种类的LSI元件。此外，本专利技术的另一目的在于提供元件检测装置，可以准确地执行用于选取元件来向测试插口加压的元件加压工具的水平方向的移动及垂直方向的移动。此外，本专利技术的又另一目的在于提供元件检测装置，其构成为容易进行部件的维护，从而缩减维护费用来显著地缩减元件的生产成本。此外，本专利技术的又另一目的在于提供元件检测装置，可以准确地设定及确认用于选取元件来向测试插口加压的元件加压工具的加压位置。(解决问题的手段)为了达成如上所述目的，根据本专利技术的实施例的元件检测装置，可以包括：加载部，加载装载多个元件的一个以上的托盘；加载缓冲部，通过加载移送工具接收从所述加载部的托盘传达的元件并进行临时装载；测试部，接收从所述加载缓冲部传达的元件来执行测试；卸载缓冲部，以所述测试部为中心，设置于与所述加载缓冲部对向的位置，来接收通过所述测试部完成测试的元件；卸载部，根据所述测试部的测试结果，通过卸载移送工具对装载于所述卸载缓冲部的元件进行分类装载；一个以上的元件加压工具，在所述加载部、所述测试部及所述卸载部之间来用于移送元件。此外，根据本专利技术的实施例的元件检测装置，可以包括：加载部，加载装载多个元件的一个以上的托盘；测试部，包括多个测试插口，用于接收从所述加载部传达的元件来对各个元件进行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；一个以上的移送工具，在所述加载部、所述测试部及所述卸载部之间移送元件，所述移送工具包括多个选取器，分别在末端结合有吸附板，所述移送工具中至少有一个的移送工具包括吸附板替换部，自动替换分别结合在所述选取器上的所述吸附板。此外，根据本专利技术的实施例的元件检测装置，可以包括：加载部，加载装载多个元件的一个以上的托盘；测试部，包括多个测试插口，用于接收从所述加载部传达的元件来对各个元件进行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；一个以上的移送工具，在所述加载部、所述测试部及所述卸载部之间移送元件，还可以包括清洁部，设置于所述测试部的一侧，用于通过移动来在覆盖所述测试插口的状态下喷射空气来去除所述测试插口中的异物。此外，根据本专利技术的元件检测装置，可以包括：加载部，加载多个元件；测试部，具备用于对从所述加载部移送过来的元件执行测试的多个测试插口；卸载部，根据测试结果来对在所述测试部完成测试的元件进行分类；一个以上的接送部，将从所述加载部传达的元件移送向所述测试部侧，并将从所述测试部传达的元件移送向所述卸载部侧，所述接送部，可以包括：接送板，用于搭载所述元件；板固定部，所述接送板可拆装卸地结合于此；板装卸部，设置于所述板固定部，来将所述接送板固定于所述板固定部。此外，根据本专利技术的实施例的元件检测装置，可以包括：加载部，加载装载多个元件的一个以上的托盘；测试部，包括多个测试插口，用于接收从所述加载部传达的元件来对各个元件进行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；一个以上的移送工具，在所述加载部、所述测试部及所述卸载部之间移送元件，所述移送工具包括一对元件加压工具，将元件从所述加载部传达到所述测试部或将元件从所述测试部传达到所述卸载部，所述元件加压工具可以包括：支持部，可移动地进行设置；一个以上的选取模块，可装卸地结合于所述支持部，并结合有一个以上的选取器。根据本专利技术的实施例的元件检测装置，可以包括：加载部，加载多个元件；测试部，具备多个测试插口，用于对从所述加载部移送过来的元件执行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；元件加压部，选取所述元件来向所述测试插口加压，所述元件加压部可以包括：一个以上的元件加压工具，选取所述元件并通过线性移动来讲所述元件移动到加压位置来向所述测试插口加压；水平移动装置，与所述元件加压工具连接来将所述元件加压工具移动向所述测试插口；第一垂直移动装置，根据所述凸轮部件，将所述元件加压工具垂直移动向加压位置。此外，根据本专利技术的实施例的元件检测装置，可以包括：加载部，加载多个元件；测试部，具备多个测试插口，用于对从所述加载部移送过来的元件执行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；一个以上的接送部，将从所述加载部传达的元件移送向所述测试部侧，并将从所述测试部传达的元件移送向所述卸载部侧；一个以上的加载移送工具，在所述加载部中选取元件来传达向所述接送部；一个以上的卸载移送工具，在所述接送部中选取元件来传达向所述卸载部；一个以上的元件加压工具，在所述接送部中选取元件来向所述测试插口加压，并将通过想所述测试插口加压来完成测试的元件传达向所述接送部，所述元件加压工具包括：支持部，可移动地进行设置；一个以上的选取模块，可装卸地结合于所述支持部，并结合有一个以上的选取器，所述支持部及所述选取模块的一侧可以具备有紧固所述支持部及所述选取模块的紧固单元，所述支持部及所述选取模块的另一侧，在所述支持部上可以具备有支持所述选取模块的支持单元。此外，根据本专利技术的实施例的元件检测装置，可以包括：加载部，加载多个元件；测试部，具备多个测试插口，用于对从所述加载部移送过来的元件执行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；一个以上的元件加压工具，具备选取所述元件的选取器，选取所述元件来向所述测试插口加压，所述元件加压工具可以具备加热部，来对通过所述选取器选取的所述元件进行加热。此外，根据本专利技术的实施例的元件检测装置，可以包括：加载部，加载多个元件；测试部，具备多个测试插口，用于对从所述加载部移送过来的元件执行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；元件加压部，包括一个以上的元件加压工具及第一垂直移动装置，所述元件加压工具选取所述元件并通过线性移动来讲所述元件移动到加压位置来向所述测试插口加压，所述第一垂直移动装置通过凸轮部件将所述元件加压工具线性移动到加压位置；第二垂直移动装置，使所述元件加压部对于所述测试部进行线性移动；控制部，通过所述第二垂直移动装置来使所述元件本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种元件检测装置，其特征在于，包括：加载部，加载装载多个元件的一个以上的托盘；测试部，包括多个测试插口，用于接收从所述加载部传达的元件来对各个元件进行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；一个以上的移送工具，在所述加载部、所述测试部及所述卸载部之间移送元件;所述移送工具包括：一对元件加压工具，将元件从所述加载部传达到所述测试部或将元件从所述测试部传达到所述卸载部，所述元件加压工具包括：支持部，可移动地进行设置；一个以上的选取模块，可装卸地结合于所述支持部，并结合有一个以上的选取器。

【技术特征摘要】
2012.02.29 KR 10-2012-0021447;2012.06.29 KR 10-201.一种元件检测装置，其特征在于，包括：加载部，加载装载多个元件的一个以上的托盘；测试部，包括多个测试插口，用于接收从所述加载部传达的元件来对各个元件进行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；一个以上的移送工具，在所述加载部、所述测试部及所述卸载部之间移送元件；所述移送工具包括：一对元件加压工具，将元件从所述加载部传达到所述测试部或将元件从所述测试部传达到所述卸载部，所述元件加压工具包括：支持部，可移动地进行设置；一个以上的选取模块，可装卸地结合于所述支持部，并结合有一个以上的选取器；所述选取模块设置有：加热器；温度传感器；一个以上的第一连接器，用于对所述加热器及所述温度传感器进行电源供给及信号传达；所述第一连接器是通过插入结合来与设置在所述支持部的第二连接器进行连接。2.根据权利要求1所述的元件检测装置，其特征在于，所述第一连接器及所述第二连接器，是在所述支持部及所述选取模块结合时一同进行结合。3.根据权利要求2所述的元件检测装置，其特征在于，所述第一连接器及所述第二连接器，设置于所述支持部及所述选取模块结合时相互接触的部分。4.根据权利要求1至3中的任意一项所述的元件检测装置，其特征在于，还包括：加载缓冲部，通过加载移送工具接收从所述加载部的托盘传达的元件并进行临时装载；卸载缓冲部，以所述测试部为中心，设置于与所述加载缓冲部对向的位置，来接收通过所述测试部完成测试的元件。5.根据权利要求4所述的元件检测装置，其特征在于，包括：第一接送部及第二接送部，通过所述一个以上的移送工具，将从所述加载缓冲部接收的元件传达到所述测试部或将从所述测试部接收的元件传达到所述卸载缓冲部。6.根据权利要求5所述的元件检测装置，其特征在于，所述第一接送部及第二接送部是以所述测试部作为中心来进行对向设置，所述第一接送部及第二接送部各自包括：导轨；一个以上的接送板，沿所述导轨进行移动，来在用于从所述加载缓冲部接收传达的元件的第一元件传达位置、与所述测试部的元件替换位置、用于向所述卸载缓冲部传达元件的第二元件传达位置上进行交替移动。7.一种元件检测装置，其特征在于，包括：加载部，加载多个元件；测试部，具备多个测试插口，用于对从所述加载部移送过来的元件执行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；元件加压部，选取所述元件来向所述测试插口加压，所述元件加压部包括：一个以上的元件加压工具，选取所述元件并通过线性移动来将所述元件移动到加压位置来向所述测试插口加压；水平移动装置，与所述元件加压工具连接来将所述元件加压工具移动向所述测试插口；及第一垂直移动装置，根据凸轮部件，将所述元件加压工具垂直移动向加压位置，以使所述元件加压工具向所述测试插口加压所述元件；所述第一垂直移动装置包括：移动块，分别连接为约束从所述元件加压工具沿垂直方向延长的支持轴垂直方向上的移动且使其可在水平方向进行移动；凸轮从动节，连接于所述移动块，插入到形成于所述凸轮部件的凸轮槽，并沿凸轮槽的形状来进行垂直方向的移动；升降导轨，与所述移动块连接，来引导所述移动块的垂直方向上的移动。8.根据权利要求7所述的元件检测装置，其特征在于，所述水平移动装置，包括连接部件，连接为约束从所述元件加压工具沿垂直方向延长的支持轴水平方向上的移动且使其可在垂直方向进行移动；及水平驱动部，沿水平方向移动连接部件。9.根据权利要求8所述的元件检测装置，其特征在于，所述连接部件上形成有贯通孔，形成为以垂直方向贯通来使所述支持轴插入。10.根据权利要求8所述的元件检测装置，其特征在于，所述水平驱动部包括：带，与所述连接部件连接；皮带轮，卷取有所述带；及旋转电机，与所述皮带轮连接。11.根据权利要求7所述的元件检测装置，其特征在于，所述移动块上设置有引导导轨，与所述支持轴的端部连接沿水平方向延长，来引导所述支持轴水平方向上的移动。12.一种元件检测装置，其特征在于，包括：加载部，加载多个元件；测试部，具备多个测试插口，用于对从所述加载部移送过来的元件执行测试；卸载部，根据所述测试部的测试结果，对完成测试的元件进行分类装载；一个以上的接送部，将从所述加载部传达的元件移送向所述测试部侧，并将从所述测试部传达的元件移送向所述卸载部侧；一个以上的加载移送工具，在所述加载部中选取元件来传达向所述接送部；一个以上的卸载移送工具，在所述接送部中选取元件来传达向所述卸载部；及一个以上的元件加压工具，在所述接送部中选取元件来向所述测试插口加压，并将通过向所述测试插口加压来完成测试的元件传达向所述接送部，所述元件加压工具包括：支持部，可移动地进行设置；一个以上的选取模块，可装卸地结合于所述支持部，并结合有一个以上的选取器，所述支持部及所述选取模块的一侧具备有紧固所述支持部及所述选取模块的紧固单元，所述支持部及所述选取模块的另一侧，在所述支持部上具备有支持所述选取模块的支持单元；所述支持部及所述选取模块之间具备有位置决定单元，决定所述支持部及所述选取模块之间的结合位置。13.根据权利要求12所述的元件检测装置，其特征在于，所述紧固单元包括：环，设置于所述选取模块的一侧；环移动部件，使环沿上下方向进行移动；环挂钩部件，设置于所述支持部的一侧来钩住所述环。14.根据权利要求12所述的元件检测装置，其特征在于，所述支持单元包括：凸出片，凸出于所述选取模块的另一侧；凸出片固定部，设置于所述选取模块的另一侧来使所述凸出片插入并固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：柳弘俊，徐龙镇，金旻成，柳泰植，
申请(专利权)人：宰体有限公司，
类型：发明
国别省市：