快闪存储器及快闪存储器失效存储单元检测方法技术

本发明专利技术提供了一种快闪存储器，包括：存储阵列和与存储阵列连接的失效检测模块；所述失效检测模块检测存储阵列中是否存在失效存储单元，并选取冗余存储单元替换失效存储单元。本发明专利技术还提供了一种快闪存储器失效存储单元检测方法。本发明专利技术的快闪存储器及快闪存储器失效存储单元检测方法，对快闪存储器失效存储单元检测结果精度高，可以准确地检测出失效存储单元的问题。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及集成电路
，特别是涉及一种。
技术介绍
为了验证存储器产品的正确性，在产品出厂前会对存储器进行一连串的测试流程来判断存储器是否正常工作。随着存储器的存储容量的逐渐增加和工艺尺寸的减少，其中每个存储阵列的容量和存储器的密度也相应的增加，这就使存储器中更容易出现失效存储单元。当出现失效存储单元后，则无法对其进行正常的读写操作，因此通常的做法是，在存储器中增加若干冗余存储单元，在出厂检测时，若检测到有失效存储单元出现时，则选取冗余存储单元来替换失效存储单元，从而保证存储器的正常使用。目前，对于存储器中是否存在失效存储单元通常是在存储器出厂检测时专门设置的失效存储单元检测过程中来进行。此种方法可以检测出一定数量的失效存储单元，但是随着存储器工艺的不断更新，存储单元失效模式也变得越来越复杂，引起存储单元失效的原因也随之增加并变得复杂，有些原因导致的存储单元失效需要经过多次的读写循环之后才能被发现。采用前述的失效存储单元检测方法往往无法检测出需要经过多次的读写循环才能发现的失效存储单元，无法得到精确的检测结果。
技术实现思路
本申请所要解决的技术问题是提供一种，能够解决目前的快闪存储器失效存储单元检测结果精度低、无法准确的检测出失效存储单元的问题。为了解决上述问题，本申请公开了一种快闪存储器，包括:存储阵列和与存储阵列连接的失效检测模块；所述失效检测模块检测存储阵列中是否存在失效存储单元，并选取冗余存储单元替换失效存储单元。进一步地，所述失效检测模块包括:短路检测单元，用于检测存储单元的控制栅与漏极之间是否出现短路和/或存储单元相邻位线之间是否出现短路。进一步地，所述快闪存储器还包括:与失效检测模块连接的启动触发模块，用于触发失效检测模块的启动。进一步地，所述快闪存储器还包括:信息存储模块，用于接收并存储失效检测模块发送的失效存储单元的信息；逻辑控制模块，用于从信息存储模块中读取失效存储单元的信息；和 修复模块，用于接收并存储失效检测模块发送的替换信息，并在接收到逻辑控制模块发送的触发信号后将替换信息传递给存储阵列。进一步地，所述触发信号为标志位信号，所述标志位信号至少包括失效存储单元的地址和一个标志位。进一步地，所述失效存储单元的信息包括失效存储单元的地址；所述替换信息包括用于替换失效存储单元的冗余存储单元的地址。进一步地，所述逻辑控制模块还包括:屏蔽单元，用于屏蔽失效存储单元的位线或字线。为了解决上述问题，本申请还公开了一种快闪存储器失效存储单元检测方法，包括以下步骤:启动失效检测模块；失效检测模块检测快闪存储器中是否有失效存储单元，若是，则进行下一步骤，反之，则结束检测；选取冗余存储单元替换所述失效存储单元；将该失效存储单元信息写入信息存储模块，将替换信息写入修复模块，在后续读写操作时，修复模块根据替换信息将针对失效存储单元的读写操作映射到与之对应的冗余存储单兀。 进一步地，所述失效检测模块检测快闪存储器中是否有失效存储单元包括:检测存储单元的控制栅与漏极之间是否出现短路，和/或相邻存储单元的位线之间是否出现短路。进一步地，所述修复模块根据替换信息将针对失效存储单元的读写操作映射到与之对应的冗余存储单元包括:修复模块将读写操作输入的失效存储单元地址映射为与替换信息中与该失效存储单元对应的冗余存储单元的地址。进一步地,所述方法还包括:屏蔽失效存储单元的位线或字线。与现有技术相比，本申请包括以下优点:本申请的通过内置于快闪存储器中的失效检测模块对快闪存储器的实时检测来发现是否存在失效存储单元，可以在快闪存储器的读写操作完成之后检测，从而能够及时发现失效的存储单元并选取冗余存储单元来替换失效存储单元，特别是可以及时发现对于多次读写操作之后才出现失效的存储单元，提高检测结果的准确性同时实现快闪存储器的自修复。另外，因为失效检测模块除了可以在出厂检测之前实现失效存储单元的自动检测，还可以在快闪存储器的后续使用中实现失效存储单元的自动检测，具有较好的实用性。另外，通过在快闪存储器中设置修复模块，当检测到失效存储单元时，可以及时选取替换该失效存储单元的冗余存储单元，并通过存储失效单元信息以及替换信息来实现快闪存储器的自动修复，当后续出现针对失效存储单元的读写操作时，逻辑控制模块能够依据存储的失效单元信息实现自动判断，并通过修复模块获取到替换的冗余存储单元，从而将读写操作自动映射到该冗余存储单元上，实现快闪存储器的自动修复以及后续读写操作的准确定位。进一步地，当检测到失效存储单元时，还可以对其进行屏蔽操作，从而避免造成漏电或其他错误操作，保证快闪存储器的正常工作。当然，实施本申请的任一产品不一定需要同时达到以上所述的所有优点。附图说明图1是本申请的快闪存储器实施例一的结构示意图；图2是本申请的快闪存储器实施例二的结构示意图；图3是本申请的快闪存储器实施例三的结构示意图；图4是本申请的快闪存储器失效存储单元检测方法的流程图。具体实施方 式为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细的说明。参照图1，示出本申请的一种快闪存储器实施例一，包括存储阵列10和失效检测模块20。其中，失效检测模块20与存储阵列10连接，用于检测存储阵列10中是否存在失效存储单元，并选取冗余存储单元来替换失效存储单元。失效检测模块20监测快闪存储器中的存储阵列的工作情况，判断是否出现会导致存储单元失效的情况。例如，失效检测模块20包括短路检测单元，用于检测控制栅(CG)与漏极之间是否出现短路(即存储单元的字线与位线是否出现短路)、相邻存储单元的位线之间是否出现短路等等，若发现短路，则认为这些存储单元为失效存储单元，则选取冗余存储单元来替换失效存储单元，保证快闪存储器的正常工作。一般来说，某些存储单元失效会发生在多次读写之后，失效检测模块20内置于存储器中，可以在存储阵列的存储单元读写完成之后便进行实时检查，从而能及时发现失效的存储单元，提高检测的准确度。特别的，除了在出厂检测时可以实现失效存储单元的检测，在存储器后续使用过程中，也可以实现失效存储单元的检测，从而及时的发现存储器的问题所在。可以理解，失效检测模块20可以在对存储器进行读写操作时或者在存储器通电时自动启动。优选地，参照图2，示出本申请的快闪存储器实施例二，为了避免失效检测模块20的启动影响存储器的读写速度和降低功耗，其还可以包括启动触发模块70，用于触发失效检测模块20，通过设置启动触发模块的触发条件来改变失效检测模块20的启动时间，例如设置为接收到某些指令时才触发失效检测模块20的启动或者设置为在存储器通电后预定时间之后再触发失效检测模块20的启动等等，本申请对此并不限制。参照图3，示出本申请的快闪存储器实施例三，在实施例一和/或实施例二的基础上，其还包括信息存储模块30、逻辑控制模块40和修复模块50。其中，信息存储模块30同时与失效检测模块20和逻辑控制模块40连接，修复模块50同时与失效检测模块20和存储阵列10连接。失效检测模块20在检测到失效存储单兀后，会将失效存储单兀彳目息写入彳目息存储模块30，并同时从存储阵列10的冗余存储单元中选取一个存储单元来替代失效的存储单元，然后将替换信息写入修复模块5本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种快闪存储器，其特征在于，包括：存储阵列和与存储阵列连接的失效检测模块；所述失效检测模块检测存储阵列中是否存在失效存储单元，并选取冗余存储单元替换失效存储单元。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王林凯，
申请(专利权)人：北京兆易创新科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：