【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半导体控制
，涉及一种温度控制装置，具体是一种半导体制冷器温控装置。
技术介绍
温度特性是考量许多光电器件及装置性能的一项极其重要的指标，尤其在某些特定应用场合，对于一些温度敏感的器件及装置，温度性能成为制约其应用的最重要因素之一。例如，在航空环境、军事应用等恶劣条件下，一些精密光学测量单元，如光纤陀螺，即对环境温度极为敏感。极端的温度环境使光纤陀螺内部的光电器件性能恶化，从而导致陀螺稳定性和可靠性下降，甚至不能工作。因此，对温度敏感的光电器件和设备进行大范围温度性能测试是考究系统稳定性和可靠性的重要环节。当然，除了考察光电器件大范围温度稳定性和可靠性之外，往往还需考虑系统承受温度冲击的能力。在测试器件和设备的抗温度冲击能力时，需要测试系统能够极其快速的温变。同时，诸如陀螺及其类似光电器件或者系统，对振动也异常敏感，在进行温度相关性能测试时，期望测试设备不引入振动。因此，对于光纤陀螺及其类似光电器件或者系统的温度性能测试来说，对测试系统提出了三个最基本的要求:有较大的温变范围；可控的温变速率，能够快速温变；不引入振动。同时，还希望温控装置结构...
【技术保护点】
一种半导体制冷器温控装置，包括一个主控板电路、三个结构相同的驱动电路、五个结构相同的半导体制冷器；其特征在于：五个半导体制冷器中的四个半导体制冷器在同一水平面上，构成矩形状，四个半导体制冷器以两个为一组，每组的两个半导体制冷器串联，且每组的两个半导体制冷器由一个驱动电路驱动；另一个半导体制冷器设置在四个半导体制冷器之上，且位于其他四个半导体制冷器构成的矩形状正中心，该半导体制冷器通过导热硅酯与下层的四个半导体制冷器固定，由第三个驱动电路驱动；所述的主控板电路包括主控电路和串口电路；主控电路包括主控芯片U1、第一晶振CY1、第一电阻R1、第一电容C1和第二电容C2，主控芯片U...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：罗明，施申蕾，庞斌，贺青，黄河，郭文正，黄腾超，胡慧珠，舒晓武，刘承，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：
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