涨紧式检验芯轴结构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种涨紧式检验芯轴结构，属于带阶梯内孔的轴类跳动检测技术领域。技术方案是：包含压套（1）、涨套（2）和芯轴（3），压套为中空结构，涨套内穿有芯轴，芯轴与涨套一起设置在压套内。试验样件穿入涨套，偏摆仪顶尖顶压套，使压套压紧试验样件端面，试验样件挤压涨套端面，涨套的锥面在与芯轴的锥面相互作用下涨开，涨紧试验样件。本实用新型专利技术的积极效果：可以实现带阶梯内孔的轴类跳动精确检测，消除了由于变换检测基准所产生的检测误差，也降低了由于变换检测基准而增加的后续加工成本，从而大大提高加工生产效率。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种涨紧式检验芯轴结构，属于带阶梯内孔的轴类跳动检测

技术介绍
带阶梯内孔的轴类跳动检测是机械加工中常见的检测内容，检测是否精确直接影响工件精度和加工工艺性。
技术介绍
检测通常采用锥度芯轴，以工件小径定位，偏摆仪两顶尖顶住锥度芯轴，用百分表检测工件外圆跳动。但是，此种方法具有以下缺点:锥度芯轴以工件小径定位与要求定位基准不一致，需要转换定位基准，从而需要在加工中提高工件大径与小径的同轴度要求，增加加工成本；即使再精确的加工也不可能使大小径完全同轴，为保证精度要求，还需要压缩外圆跳动公差要求，增加加工难度，进一步增加加工成本。
技术实现思路
本技术目的是提供一种涨紧式检验芯轴结构，实现带阶梯内孔的轴类以内孔大径为基准，检测外圆跳动的精确检测，降低加工成本，解决
技术介绍
存在的上述问题。本技术的技术方案是:涨紧式检验芯轴结构，包含压套、涨套和芯轴，压套为中空结构，涨套内穿有芯轴，芯轴与涨套一起设置在压套内。所述涨套为内锥结构，与芯轴的锥面接触。试验样件穿入涨套，偏摆仪顶尖顶压套，使压套压紧试验样件端面，试验样件挤压涨套端面，涨套的锥面在与芯轴的锥面相互作用下涨开，涨紧试验样件。本技术 的积极效果:采用本技术，可以实现带阶梯内孔的轴类跳动精确检测，消除了由于变换检测基准所产生的检测误差，也降低了由于变换检测基准而增加的后续加工成本，从而大大提高加工生产效率。附图说明图1为本技术实施例结构示意图；图中:压套1、涨套2、芯轴3、试验样件4。具体实施方式以下结合附图，通过实施例对本技术做进一步说明。涨紧式检验芯轴结构，包含压套1、涨套2和芯轴3，压套为中空结构，涨套内穿有芯轴，芯轴与涨套一起设置在压套内。所述涨套为内锥结构，与芯轴的锥面接触。试验样件4穿入涨套，偏摆仪顶尖顶压套，使压套压紧试验样件端面，试验样件挤压涨套端面，涨套的锥面在与芯轴的锥面相互作用下涨开，涨紧试验样件。本技术的工作过程:在检测过程中，偏摆仪一端顶尖顶在芯轴上，另一端顶尖顶在压套上，顶在芯轴上的顶尖为固定顶尖，顶在压套上的顶尖为可伸缩的活顶尖。偏摆仪活顶尖压压套，压套受力挤压试验样件，试验样件挤压涨套，涨套在试验样件和芯轴锥面的共同作用下涨开，涨紧试验样件。利用偏摆仪上的百分表检测外圆跳动。检测完成后，偏摆仪顶尖缩回，涨套收 缩松开试验样件。取下压套，取下试验样件；等待下一次检测。权利要求1.一种涨紧式检验芯轴结构，其特征在于:包含压套(I)、涨套(2)和芯轴(3)，压套为中空结构，涨套内穿有芯轴，芯轴与涨套一起设置在压套内。2.根据权利要求1所述的涨紧式检验芯轴结构，其特征在于:所述涨套为内锥结构，与芯轴的锥面接触。·专利摘要本技术涉及一种涨紧式检验芯轴结构，属于带阶梯内孔的轴类跳动检测
技术方案是包含压套(1)、涨套(2)和芯轴(3)，压套为中空结构，涨套内穿有芯轴，芯轴与涨套一起设置在压套内。试验样件穿入涨套，偏摆仪顶尖顶压套，使压套压紧试验样件端面，试验样件挤压涨套端面，涨套的锥面在与芯轴的锥面相互作用下涨开，涨紧试验样件。本技术的积极效果可以实现带阶梯内孔的轴类跳动精确检测，消除了由于变换检测基准所产生的检测误差，也降低了由于变换检测基准而增加的后续加工成本，从而大大提高加工生产效率。文档编号G01B5/00GK203100629SQ201320127960公开日2013年7月31日 申请日期2013年3月20日 优先权日2013年3月20日专利技术者彭华 申请人:唐山通力齿轮有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种涨紧式检验芯轴结构，其特征在于：包含压套（1）、涨套（2）和芯轴（3），压套为中空结构，涨套内穿有芯轴，芯轴与涨套一起设置在压套内。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：彭华，
申请(专利权)人：唐山通力齿轮有限公司，
类型：实用新型
国别省市：