一种对数据进行查错的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种对数据进行查错的方法和装置。该方法可包括：对接收到的数据进行ECC检验，得到检验值；对所述检验值中出错位的位数进行计数；根据计数值判断所述接收数据的出错情况。本发明专利技术还提出了对应的装置。本发明专利技术提出的对数据进行查错的方法和装置，利用检验值中出错位的位数判断输入数据的出错情况，并进行纠错，相比现有的查找ECC纠错表更节省电路面积。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及到数据校验
，特别涉及到一种对数据进行查错的方法和装置。
技术介绍
ECC(Error Correcting Code,错误检查和纠正)是一种实现数据错误检查和纠正的技术，广泛使用于数据传输。目前常用的纠错码查错或纠错方法是，根据移动产业处理器接口提供的纠错解码表(如表I所示)，采用查找解码表的方法完成纠错码的查错和纠错，其过程如附图说明图1所示:表I纠错解码表权利要求1.一种对数据进行查错的方法，其特征在于，包括: 对接收到的数据进行错误检查和纠正ECC检验，得到检验值； 对所述检验值中出错位的位数进行计数； 根据计数值判断所述接收数据的出错情况。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述接收数据的位宽为24位，所述检验值的位宽为6位。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据计数值判断接收数据的出错情况包括: 当计数值为O时，判定所述24位数据正确； 当计数值为3或5时，判定所述24位数据出现I位错误； 当计数值非0、3和5时，判定所述24位数据出现2位错误。4.如权利要求3所述的方 法，其特征在于，在执行所述判定24位数据出现I位错误之后,还包括: 对所述24位数据进行I位纠错。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对24位数据进行I位纠错包括: 当计数值为3时，对所述24位数据的前20位进行纠错，后4位不变； 当计数值为5时，对所述24位数据的后4位进行纠错，前20位不变。6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对24位数据进行I位纠错具体包括: 通过与运算定位所述24位数据的出错位置； 对所述出错位置的数据进行求反运算，得到正确的数据。7.—种对数据进行查错的装置，其特征在于，包括: 检验模块，用于对接收到的数据进行ECC检验，得到检验值； 计数模块，用于对所述检验值中出错位的位数进行计数； 判断模块，用于根据计数值判断所述接收数据的出错情况。8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述接收数据的位宽为24位，所述检验值的位宽为6位。9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述判断模块包括: 第一判定单元，用于当计数值为O时，判定所述24位数据正确； 第二判定单元，用于当计数值为3或5时，判定所述24位数据出现I位错误； 第三判定单元，用于当计数值非0、3和5时，判定所述24位数据出现2位错误。10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，还包括: 纠错模块，用于对所述24位数据进行I位纠错。11.如权利要求10所述的装置，其特征在于，所述纠错模块包括: 第一纠错单元，用于当计数值为3时，对所述24位数据的前20位进行纠错，后4位不变； 第二纠错单元，用于当计数值为5时，对所述24位数据的后4位进行纠错，前20位不变。12.如权利要求11所述的装置，其特征在于，所述第一纠错单元包括: 第一定位子单元，用于通过与运算定位所述24位数据的前20位的出错位置；第一校正子单元，用于对所述出错位置的数据进行求反运算，得到正确的数据；所述第二纠错单元包括:第二定位子单元，用于通过与运算定位所述24位数据的后4位的出错位置；第二校正子单元，用于对所述出错位 置的数据进行求反运算，得到正确的数据。全文摘要本专利技术公开一种对数据进行查错的方法和装置。该方法可包括对接收到的数据进行ECC检验，得到检验值；对所述检验值中出错位的位数进行计数；根据计数值判断所述接收数据的出错情况。本专利技术还提出了对应的装置。本专利技术提出的对数据进行查错的方法和装置，利用检验值中出错位的位数判断输入数据的出错情况，并进行纠错，相比现有的查找ECC纠错表更节省电路面积。文档编号G06F11/10GK103197984SQ201210006428公开日2013年7月10日 申请日期2012年1月10日 优先权日2012年1月10日专利技术者郑观东 申请人:炬力集成电路设计有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对数据进行查错的方法，其特征在于，包括：对接收到的数据进行错误检查和纠正ECC检验，得到检验值；对所述检验值中出错位的位数进行计数；根据计数值判断所述接收数据的出错情况。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑观东，
申请(专利权)人：炬力集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：