温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开一种对数据进行查错的方法和装置。该方法可包括：对接收到的数据进行ECC检验，得到检验值；对所述检验值中出错位的位数进行计数；根据计数值判断所述接收数据的出错情况。本发明还提出了对应的装置。本发明提出的对数据进行查错的方法和装置，利...
该专利属于炬力集成电路设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过炬力集成电路设计有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。