一种回转体转动时的角位移监测控制方法技术

一种回转体转动时的角位移监测控制方法，回转体(4)上分别粘贴磁栅刻度条(3)、控制磁条(2)，磁栅刻度条分别标记长刻度线、短刻度线，长刻度传感器(1)监测长刻度线，短刻度传感器(6)监测短刻度线，磁条传感器(5)监测控制磁条，反馈信号线与中央处理器(7)联接后再与监测屏(8)联接，监测屏即时显示回转体转动前的角度和分度以及转动后的角度和分度，回转体转动前的所述角度与转动后的所述角度之差能在监测屏上显示，而回转体转动前的所述分度与转动后的所述分度之差也能在监测屏上显示，磁条传感器通过中央处理器控制回转体的转动角位移量，并将转动角位移量进行显示，控制方法新颖独特，保证了回转体的转动角位移量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于角位移监测
，尤其是。
技术介绍
有些大型回转体在其转动时的角位移控制要求很高，比如天文望远镜的角位移转动角度要求在1°区间细分到“分”，这就需要对大型回转体实施角位移的监测和控制，虽然对大型回转体的角位移监测和控制方式很多，但或多或少总会存在这样或那样的问题。
技术实现思路
为实时监测和控制回转体的角位移状况，本专利技术提供了，该方法可以实时监测和控制回转体的角位移量，具有监测控制方法新颖独特之特点。为实现上述专利技术目的，本专利技术采用如下技术方案: ，在回转体的外径端面分别粘贴有一圈磁栅刻度条以及控制磁条，磁栅刻度条不与控制磁条相接触，磁栅刻度条按360°角度划分且每1°线处均标记有长刻度线，每1°区间内按百进制分度划分且每五分线处均标记有短刻度线，本专利技术的特征是: 对应圈磁栅刻度条处分别配置有用于所述长刻度线监测的长刻度传感器以及用于所述短刻度线监测的短刻度传感器，在短刻度传感器处配置有用于回转体转动控制的磁条传感器，磁条传感器对应于控制磁条，分别将长刻度传感器、短刻度传感器以及磁条传感器的反馈信号线联接在中央处理器的输入端，中央处理器的输出端与监测本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种回转体转动时的角位移监测控制方法，在回转体(4)的外径端面分别粘贴有一圈磁栅刻度条(3)以及控制磁条(2)，磁栅刻度条(3)不与控制磁条相接触，磁栅刻度条(3)按360°角度划分且每1°线处均标记有长刻度线，每1°区间内按百进制分度划分且每五分线处均标记有短刻度线，其特征是：对应圈磁栅刻度条(3)处分别配置有用于所述长刻度线监测的长刻度传感器(1)以及用于所述短刻度线监测的短刻度传感器(6)，在短刻度传感器(6)处配置有用于回转体(4)转动控制的磁条传感器(5)，磁条传感器(5)对应于控制磁条(2)，分别将长刻度传感器(1)、短刻度传感器(6)以及磁条传感器(5)的反馈信号线联接在中央处理...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：范雨晴，李国斌，姜韶峰，马莹，
申请(专利权)人：洛阳轴研科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：