当前位置: 首页 > 专利查询>东南大学专利>正文

一种用于DNA检测的多电极纳米孔装置及其制造方法制造方法及图纸

技术编号:8902236 阅读:282 留言:0更新日期:2013-07-10 22:44
本发明专利技术公开了一种用于DNA检测的多电极纳米孔装置及其制造方法,该纳米孔装置包括第一SiO2绝缘层、Si基底、SiO2掩膜层、Pt门电极、第二SiO2绝缘层、微米Pt径向电极、第三SiO2绝缘层、腐蚀槽、纳米通孔、电子束诱导沉积SiO2栅极绝缘层、电子束诱导沉积纳米Pt径向电极、Ag/AgCl电极、第一电流表、第一可调电压源、第二电流表、第二可调电压源、第三可调电压源。该纳米孔装置制造方法,首先采用传统MEMS工艺加工微米级基片,再使用双束系统中的气体注入系统和聚焦离子束系统,进行纳米级精度加工,制得多电极纳米孔装置。本发明专利技术通过门电极控制DNA分子穿过纳米孔时的速度,采集阻塞电流、遂穿电流信号,得到高分辨率待测DNA分子结构信息,完成DNA测序。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于DNA检测的多电极纳米孔装置,其特征在于:包括第一SiO2绝缘层(1)、Si基底(2)、SiO2掩膜层(3)、Pt门电极(4)、第二SiO2绝缘层(5)、微米Pt径向电极(6)、第三SiO2绝缘层(7)、腐蚀槽(8)、纳米通孔(9)、电子束诱导沉积SiO2栅极绝缘层(10)、电子束诱导沉积纳米Pt径向电极(11)、Ag/AgCl电极(12)、第一电流表(13)、第一可调电压源(14)、第二电流表(15)、第二可调电压源(16)和第三可调电压源(17);所述Si基底(2)下方设有SiO2掩膜层(3),上方设有第一SiO2绝缘层(1);所述第一SiO2绝缘层(1)上方设有Pt门电极(4);...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:陈云飞章寅刘磊沙菁袁志山倪中华易红
申请(专利权)人:东南大学
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1