本发明专利技术提供一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法，该电子装置包括有存储单元及处理单元，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有：读取模块，读取插入电子装置接口的硬盘的容量；选项获取模块，根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项；容量读取模块，根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及测试模块，测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。采用本发明专利技术的电子装置及方法，帮助用户缩短测试时间。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
现有技术下，硬盘耐用性的测试是指验证硬盘反复擦写的能力，即P/E cycle的次数。但是硬盘耐用性的测试时间一般比较长，比如，容量为100G的硬盘，其耐用性的测试时间一般为一年之久，对于企业来讲，即使不考虑测试的费用，但是测试时间也是耗不起的。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种，其可以通过逻辑地址改变需测试的硬盘的实际所需容量来缩短硬盘耐用性的测试时间，以此解决上述的问题。本专利技术提供一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置，该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元及一处理单元，该接口用于供硬盘插入至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有:一读取模块，用于读取插入电子装置接口的硬盘的容量；一选项获取模块，用于根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项；一容量读取模块，用于根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及一测试模块，用于测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。本专利技术还提供一种电子装置缩短硬盘耐用性测试时间的方法，该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元，该接口用于供硬盘插入至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该方法包括以下步骤:读取插入电子装置接口的硬盘的容量；根据所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量的默认逻辑地址选项；根据确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。本专利技术的，通过改变逻辑地址来改变测试时所读取的硬盘的实际测试容量，从而当实际测试的硬盘的容量减少了，那么对应的测试时间也就缩短了，为用户节省了一定的测试时间。附图说明图1为一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置的硬件结构图。图2为一种缩短硬盘耐用性测试时间的方法流程图。主要元件符号说明电子装置 Iioo权利要求1.一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置，其特征在于:该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元及一处理单元，该接口用于供硬盘插入至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有: 一读取模块，用于读取插入电子装置接口的硬盘的容量； 一选项获取模块，用于根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项； 一容量读取模块，用于根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及 一测试模块，用于测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。2.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于:该电子装置还包括一显示单元，该处理单元还包括一显示模块及一选择模块，该选项获取模块还用于根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量对应的多个逻辑地址选项；该显示模块用于显示选项获取模块所确定的多个逻辑地址选项于显示单元；该选择模块，根据输入单元接收到的操作，从显示单元上显示的多个逻辑地址选项中选择其中一个逻辑地址选项。3.如权利要求2所述的电子装置，其特征在于:该处理单元还包括有一识别模块，该识别模块用于识别读取模块所读取的硬盘的容量是否在配置表中存在对应的多个逻辑地址选项； 其中，该选项获取模块是为当读取模块所读取的硬盘容量在配置表中存在对应的多个逻辑地址选项，根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量对应的多个逻辑地址选项。4.如权利要求3所述的电子装置，其特征在于:该处理单元还包括一设置模块及一存储模块，该设置模块用于当读取模块所读取的硬盘容量在配置表中不存在对应的逻辑地址选项时，根据用户的输入对所读取的硬盘容量设置对应的逻辑地址选项，该存储模块用于将设置模块针对所读取的硬盘容量设置的逻辑地址选项存储至配置表中。5.如权利要求2所述的电子装置，其特征在于:该处理单元还包括一重设模块，该重设模块用于根据用户通过输入单元的操作重设设置存储单元中的配置表。6.一种电子装置缩短硬盘耐用性测试时间的方法，其特征在于:该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元，该接口用于供硬盘插入至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该方法包括以下步骤: 读取插入电子装置接口的硬盘的容量； 根据所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量的默认逻辑地址选项； 根据确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及 测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。7.如权利要求6所述的方法，其特征在于:该方法包括以下步骤: 根据所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量对应的多个逻辑地址选项；显示所确定的多个逻辑地址选项；及 根据输入单元接收到的操作，从显示的多个逻辑地址选项中选择其中一个逻辑地址选项。8.如权利要求7所述的方法，其特征在于:该方法包括以下步骤: 识别所读取的硬盘的容量是否在配置表中存在对应的多个逻辑地址选项；及其中，当所读取的硬盘的容量在配置表中存在对应的多个逻辑地址选项，根据所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量对应的多个逻辑地址选项。9.如权利要求8所述的方法，其特征在于:该方法包括以下步骤: 当所读取的硬盘容量在配置表中不存在对应的多个逻辑地址选项时，根据用户的输入对所读取的硬盘容量设置对应的逻辑地址选项；及 存储对所读取的硬盘容量设置的逻辑地址选项至配置表中。10.如权利要求7所述的方法，其特征在于:该方法包括以下步骤: 根据用户通过输入单元的操 作重设设置存储单元中的配置表。全文摘要本专利技术提供一种，该电子装置包括有存储单元及处理单元，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有读取模块，读取插入电子装置接口的硬盘的容量；选项获取模块，根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项；容量读取模块，根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及测试模块，测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。采用本专利技术的电子装置及方法，帮助用户缩短测试时间。文档编号G11C29/08GK103187099SQ20111045194公开日2013年7月3日 申请日期2011年12月30日 优先权日2011年12月30日专利技术者谭敏 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置，其特征在于：该电子装置包括有一接口、一存储单元、一输入单元及一处理单元，该接口用于供硬盘插入至电子装置，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有：一读取模块，用于读取插入电子装置接口的硬盘的容量；一选项获取模块，用于根据读取模块所读取硬盘的容量及存储单元中的配置表确定该硬盘容量默认的逻辑地址选项；一容量读取模块，用于根据选择模块确定的默认逻辑地址选项读取该逻辑地址对应的该硬盘实际需要测试的容量；及一测试模块，用于测试该硬盘实际需要测试的容量的耐用性所耗费的测试时间。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谭敏，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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