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本发明提供一种具有缩短硬盘耐用性测试时间的电子装置及方法，该电子装置包括有存储单元及处理单元，该存储单元中存储有一配置表，该配置表中记录了不同容量的硬盘对应的多个逻辑地址选项，该多个逻辑地址选项包括一默认的逻辑地址选项，该处理单元包括有：读...该专利属于鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司授权不得商用。