存储设备的测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种存储设备的测试方法，首先，利用脚本语句构建性能测试平台；然后，通过所述性能测试平台，选取、设置测试项目，对存储设备进行测试。所述测试项目包括性能测试，在性能测试中，所述性能测试平台上运行的线程的并发数为存储设备中物理盘总数的一半；读写数据量为测试存储缓存的110％～130％；所述性能测试包括每秒读写操作测试和吞吐量测试，在每秒读写操作测试中，按照512Byte大小的数据块传输数据，在吞吐量测试中，按照1024K?Byte大小的数据块传输数据。本发明专利技术还公开了一种存储设备的测试系统。本发明专利技术的存储设备的测试方法及系统，能够对各种存储设备进行全面、有针对性的测试，提高性能测试速度及准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及存储设备
，尤其是涉及一种存储设备的测试方法及系统。
技术介绍
存储设备是用于储存信息的设备，通常是将信息数字化后再以利用电、磁或光学 等方式的媒体加以存储。而随着信息化程度的不断提高以及数据量的飞速增长，存储设备 在网络中的重要性也愈来愈高。用户在选取存储设备之前，需要对所选购的存储设备进行测试，根据测试结果判 断该存储设备是否为适合自身业务需要的合适产品。然而，目前对存储设备的测试方案中，存在不少不足之处。例如，一种测试软件通 常仅针对一种系统环境，测试软件对系统环境具有较强的依赖性，测试方案的通用性较低， 提高了对存储设备测试的难度；并且现有的测试软件通常仅能提供一定条件下产品的测试 结果，如仅能提供具有80块硬盘的产品的测试结果，而对于其他条件下的产品，如具有40 块硬盘的产品，利用该测试软件得到的测试结果的可利用价值很低，测试速度也比较慢。现有各测试方案所测试的具体参数，参差不齐，比较单一，不能有效地对存储设备 进行全面的测试并反映出存储设备的实际性能，无法满足用户的需要。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是，能够对各种存储设备进行全面、有针对性的测试，提 高性能测试速度及准确性。为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种存储设备的测试方法，首先，利用脚本语句构建性能测试平台；然后，通过所述性能测试平台，选取、设置测试项目，对存储设备进行测试。所述测试项目包括性能测试，通过所述性能测试平台选取、设置性能测试项目，对 存储设备进行性能测试；在性能测试中，所述性能测试平台上运行的线程的并发数为存储设备中物理盘总 数的一半；读写数据量为测试存储缓存的110% 130%。所述性能测试包括每秒读写操作测试和吞吐量测试，在每秒读写操作测试中，按 照512Byte大小的数据块传输数据，在吞吐量测试中，按照1024KByte大小的数据块传输数 据。为解决上述技术问题，本专利技术还提供了一种存储设备的测试系统，所述系统包括 测试服务器和存储设备，每个所述测试服务器通过测试网络与至少一台存储设备相连接；所述测试服务器上运行有利用脚本语句构建的性能测试平台；所述测试服务器通过所述性能测试平台通选取、设置测试项目，对存储设备进行 测试。所述测试项目包括性能测试，通过所述性能测试平台选取、设置性能测试项目，对存储设备进行性能测试；在性能测试中，所述性能测试平台上运行的线程的并发数为存储设备中物理盘总 数的一半；读写数据量为测试存储缓存的110% 130%。所述性能测试包括每秒读写操作测试和吞吐量测试，在每秒读写操作测试中，按 照512Byte大小的数据块传输数据，在吞吐量测试中，按照1024KByte大小的数据块传输数 据。本专利技术的存储设备的测试方法，利用脚本语句构建性能测试平台，由于脚本语言 易于修改和掌握，构建的性能测试平台可以让测试人员很方便和快速的根据测试对象修改 已完成测试，从而使性能测试平台能够适用于多种系统环境，降低了测试对系统环境的依 赖性和测试的技术难度，大大增强测试灵活性和效率。本专利技术的存储设备的测试方法，能够适用于多种条件下存储设备的测试，准确反 映存储设备的性能，为用户在采购存储设备时提供专业级的测试数据参考；并且，本专利技术的 存储设备的测试方法，通过测试项目的选取和设置，能够全面反映存储设备的性能、功能、 稳定性、可靠性和兼容性，可以根据需要调整测试项目的测试顺序，或者部分测试项目，能 够对各种存储设备进行全面、有针对性的测试，满足用户的需要。本专利技术的存储设备的测试方法通过对性能测试平台上关键参数的设置，来控制性 能测试中数据的读写，提高了性能测试的效率，加快了测试速度。附图说明下面结合附图和具体实施方式对本专利技术进行进一步详细说明。图1为本专利技术的存储设备的测试方法一实施方式的流程示意图2为本专利技术的存储设备的测试系统一实施方式示意图。具体实施方式本专利技术的存储设备的测试方法一实施方式如图1所示，首先，利用脚本语句构建性能测试平台；然后，通过所述性能测试平台，选取、设置测试项目，对存储设备进行测试；所述测 试项目包括性能测试、功能性测试、稳定性测试和压力测试、可靠性测试、兼容性测试。本专利技术的存储设备的测试方法，利用脚本语句构建性能测试平台，由于脚本语言 易于修改和掌握，构建的性能测试平台可以让测试人员很方便和快速的根据测试对象修改 已完成测试，从而使性能测试平台能够适用于多种系统环境，降低了测试对系统环境的依 赖性和测试的技术难度，大大增强测试灵活性和效率。本专利技术的存储设备的测试方法，能够适用于多种条件下存储设备的测试，准确反 映存储设备的性能，为用户在采购存储设备时提供专业级的测试数据参考；并且，本专利技术的 存储设备的测试方法，通过测试项目的选取和设置，能够全面反映存储设备的性能、功能、 稳定性、可靠性和兼容性，可以根据需要调整测试项目的测试顺序，或者部分测试项目，能 够对各种存储设备进行全面、有针对性的测试，满足用户的需要。第一实施例进行性能测试。在性能测试中，所述平台上运行的线程的并发数为存储设备中物理盘总数的一半(例如当存储设备中的物理盘有8个时，可以同时运行4个线程)；所述性能测试的读写数据量为测试存储缓存的110% 130% (如110%、120%、 130% )；所述性能测试包括每秒读写操作(InputOutput Operations PerSecond, I OPS) 测试和吞吐量测试，在IOPS测试中，按照512 Byte大小的数据块传输数据，在吞吐量测试 中，按照1024K Byte大小的数据块传输数据。在IOPS测试中，对512字节的数据库的读写次数(count)可以为10万，在吞吐量 测试中，对1024K字节数据块的读写次数可以为5000，从而使读写数据量基本为5GB。示例性的，测试IOPS时脚本语句可以表示如下time dd if = /dev/zero of = /testsvct/test, io bs = 512 count = 100ktime dd of = /dev/null if = /testsvct/test, io bs = 512 count = 100k测试吞吐量时脚本语句可以表示如下time dd if = /dev/zero of = /testsvct/test, io bs = 1024k count = 5000time dd of = /dev/null if = /testsvct/test, io bs = 1024k count = 5000通过上述对读写数据量(5GB)、IOPS测试(512Byte)和吞吐量(1024KByte)测试 中关键参数的设置，能够提高测试速度。本专利技术的存储设备的测试方法通过对性能测试平台上关键参数的设置，来控制性 能测试中数据的读写，提高了性能测试的效率，加快了测试速度。由于在性能测试中所述性能测试平台运行的线程的并发数为存储设备中物理盘 总数的一半，增强了其测试的实用性和准确性，由于所述性能测试的读写数据量为测试存 储缓存的110% 130%，从而能得到较高的性能测试速度及准确性；由于通常物理磁盘的最小单位扇区的数据块大小为512Byte，因此本专利技术的存储 设备的测试方法在IOP本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种存储设备的测试方法，其特征在于，首先，利用脚本语句构建性能测试平台；然后，通过所述性能测试平台，选取、设置测试项目，对存储设备进行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：辛旻，王剑虎，王戎，李霞，程玉宝，胡兵，吴劲松，
申请(专利权)人：上海宝信软件股份有限公司，
类型：发明
国别省市：