【技术实现步骤摘要】
本专利技术系有关于初始化测试模式功能，尤指一种测试模式多工处理机制，其可用来减少频道绕线。
技术介绍
现代半导体装置的主要考量在于减少管芯(die)的大小以做到更小的装置。半导体存储器通常包含有一个测试模式电路，在此
中，当存储器被初始化时，会进入测试模式，而测试模式涉及传送来自各种电熔丝(efuse)的测试模式信号至地址码组(address block)，以检验所有电路是否都正常运作。在所有区块都检查完以后，测试模式信号与电熔丝就不会再被用到了。请参阅第I图，第I图显示一个传统管芯100的电路布局设计。管芯100包含有具有多个电熔丝的一电熔丝区块110，其提供了多个测试模式信号，该多个测试模式信号分别通过绕线而传送至多个解码器121、123、125、127与锁存器(latch) 122、124、126、128。解码器与锁存器组成一测试模式区块120，其被设置于管芯100上靠近电熔丝区块110处。测试模式区块120接着将这些锁存的信号通过绕线传送至正确的个别地址码组130、140、150、160，而这些信号将会被用来测试每一地址码组的运作。当测试模式区块1...
【技术保护点】
一种用来执行一测试模式操作的管芯，其特征是，包含有：多个电熔丝，分别用来于该管芯的一启动操作期间产生多个测试模式信号；一控制单元，耦接于一第一控制信号，用来产生一连串的多个控制位元；一多工器，耦接于该多个测试模式信号与该控制单元，用来根据该多个控制位元对该多个测试模式信号进行多工处理，以致该多个测试模式信号可依序地前后串连输出；至少一地址码组，用来接收一特定测试模式信号；以及至少一区域测试模式区块，耦接于该地址码组，用来根据该多个控制位元解码与锁存该特定测试模式信号，并且用来根据一地址信号释放该特定测试模式信号至该地址码组。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：赫尔曼·文柯，
申请(专利权)人：南亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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