专利分析方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种专利分析方法，包括：S10，设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；S20，设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；S30，绘制由S10及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自S10及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中，以方便用户的使用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及专利信息处理的相关
，尤其涉及一种专利分析方法及系统。
技术介绍
通常在中国知识产权网(www.cnipr.com)中对应的CNIPR中外专利数据库平台进行专利检索后，可对检索到的相关专利在中外专利信息分析系统中作简单的分析，由此可获取相应的图表分析，供广大需求者进行相关产业或公司专利的分析了解。但是，该系统仅能就使用者每次检索到的所有专利进行相关分析，而不能使使用者对检索到的部分专利，例如经使用者根据专利的重要性、或者产品类别等进行筛选后，再进行分析；或者是使使用者对经过不同关键词的检索后，对所有检索结果进行相关分析，如此不方便使用者的使用。因此，有必要提供一种专利分析方法及系统以克服所述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种专利分析方法。本专利技术的另一目的在于提供一种专利分析系统，所述系统应用在所述专利分析方法。相应地，一种专利分析方法，包括: S10,设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息； S20,设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目； S30，绘制由SlO及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自SlO及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。作为本专利技术的进一步改进，所述SlO步骤中的纵轴属性为用户存储要进行分析的专利的存储地址。作为本专利技术的进一步改进，所述S20步骤中的横轴属性为用户要进行分析的专利项目，该项目为专利著录项目中的专利信息项目。作为本专利技术的进一步改进，所述S30步骤的统计数量与对应的专利信息之间相互关联，以使用户可直接从该统计数量连接到对应的专利信息进行查阅。作为本专利技术的进一步改进，所述方法还包括:在根据S30步骤的统计数量查阅对应的专利信息后，将该统计数量对应的专利复制或移动至具有SlO及S20属性的专利信息存储地址中以对专利进行分类。作为本专利技术的进一步改进，一种专利分析系统，包括: 纵轴属性设置模块，用于设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利息; 横轴属性设置模块，用于设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目； 统计分析模块，用于绘制由纵轴及横轴属性设置模块设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自纵轴及横轴属性设置模块查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。作为本专利技术的进一步改进，所述纵轴属性设置模块设置的纵轴属性为用户存储要进行分析的专利的存储地址。作为本专利技术的进一步改进，所述横轴属性设置模块设置的横轴属性为用户要进行分析的专利项目，该项目为专利著录项目中的专利信息项目。作为本专利技术的进一步改进，所述统计分析模块中的统计数量与对应的专利信息之间相互关联，以使用户可直接从该统计数量连接到对应的专利信息进行查阅。作为本专利技术的进一步改进，在根据统计分析模块中的统计数量查阅对应的专利信息后，将该统计数量对应的专利复制或移动至具有横轴及纵轴属性的专利信息存储地址中以对专利进行分类。本专利技术的有益效果是:当用户按照不同的关键词进行专利检索并进行基本信息的下载后，本专利技术专利分析方法及系统可通过设定进行专利分析的纵轴属性和横轴属性以查找要进行分析的专利信息，进而对用户想要进行分析的部分或全部专利进行相关统计分析，而不受相关网站进行专利分析的限制，方便用户的使用。附图说明图1是本专利技术专利分析方法一具体实施方式的流程 图2是本专利技术一具体实施方式中专利分析选项的示意 图3是图1中SlO至S30步骤的执行示意 图4是图1中S30步骤进行统计分析后的统计数量对应的专利信息显示示意 图5是本专利技术专利分析系统的模块图。具体实施例方式以下将结合附图所示的各实施方式对本专利技术进行详细描述。但这些实施方式并不限制本专利技术，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本专利技术的保护范围内。请参阅图1所示为本专利技术专利分析方法的一具体实施方式。所述专利分析方法包括以下步骤: S10，设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；请结合图2及图3所示，当用户将专利信息下载并存储到不同的存储地址，本专利技术称该存储地址为存储节点或图2专利分析选项下拉栏中的技术树或产品树，该技术树或产品树为存储节点中包含有按照技术或产品进行分类的子节点，该存储节点与子节点即构成技术树或产品树；用户希望对某一节点中的专利信息进行统计分析时，则结合图3中第一选择项目所示，该纵轴属性即设置为用户要进行统计分析的专利的存储节点，从而该SlO步骤仅会根据该存储节点查找其中的专利信息； S20,设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；结合图2，该横轴属性设置为用户要进行分析的专利项目，该项目与专利著录项目相对应；该横轴属性可为专利著录项目中的一项或两项，例如图3中所示的横轴属性项目同时包括申请人及申请年度，即查找专利的申请人信息及申请年度信息；该申请人分析可默认选择所选存储节点中专利申请量在前5名或前10名申请人、或用户手动选择该存储节点中的某些专利申请人进行分析；同时该申请年度也可由用户进行手动选择想要分析的年度区间； S30，绘制由SlO及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自SlO及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。结合图3所示，该表格也可导出到Excel中。所述S30步骤的统计表格中不同表格中的数量与对应的专利信息之间相互关联，结合图3及图4所示，本专利技术中该种关联主要设置为当点击表格中的相关数量时，即可显示如图4中与该数量相对应的专利信息以供用户查阅，即以使用户可直接从该统计数量连接到对应的专利信息进行查阅。此外，所述方法还包括:结合图4所示，在根据S30步骤的统计数量查阅对应的专利信息时，也可根据用户需求将其中的部分或全部专利信息复制或移动到用户自定义的具有SlO及S20属性的专利信息存储地址中以对SlO步骤选择的节点中的所有专利进行分类。请参阅图5所示为本专利技术专利分析系统的一具体实施方式，主要应用在所述专利分析方法，所述系统包括: 纵轴属性设置模块，用于设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；请结合图2及图3所示，当用户将专利信息下载并存储到不同的存储地址，本专利技术称该存储地址为存储节点或图2专利分析选项下拉栏中的技术树或产品树，该技术树或产品树为存储节点中包含有按照技术或产品进行分类的子节点，该存储节点与子节点即构成技术树或产品树；用户希望对某一节点中的专利信息进行统计分析时，则结合图3中第一选择项目所示，该纵轴属性即设置为用户要进行统计分析的专利的存储节点，从而该纵轴属性设置模块仅会根据该存储节点查找其中的专利信息； 横轴属性设置模块，用于设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；结合图2，该横轴属性设置为用户要进行分析的专利项目，该项目与专利著录项目相对应；该横轴属性可为专利著录项目中的一项或两项，例如图3中所示的横轴属性项目同时包括申请人及申请年度，即查找专利的申请人信息及申请年度信息；该申请人分析可默认选择所选存储节点中专利申请量在前5名或前10名申请人、或用户手动选择该存储节点中的某些专利申请人进行分析；同时该申请年度也可由用户本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种专利分析方法，其特征在于，所述方法包括：S10，设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；S20，设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；S30，绘制由S10及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自S10及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。

【技术特征摘要】
1.一种专利分析方法，其特征在于，所述方法包括: SlO,设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息； S20,设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目； S30，绘制由SlO及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自SlO及S20步骤查找到的专利信息交集进行数量统计后输入该表格中。2.根据权利要求1所述的专利分析方法，其特征在于，所述SlO步骤中的纵轴属性为用户存储要进行分析的专利的存储地址。3.根据权利要求1所述的专利分析方法，其特征在于，所述S20步骤中的横轴属性为用户要进行分析的专利项目，该项目为专利著录项目中的专利信息项目。4.根据权利要求1所述的专利分析方法，其特征在于，所述S30步骤的统计数量与对应的专利信息之间相互关联，以使用户可直接从该统计数量连接到对应的专利信息进行查阅。5.根据权利要求4所述的专利分析方法，其特征在于，所述方法还包括:在根据S30步骤的统计数量查阅对应的专利信息后，将该统计数量对应的专利复制或移动至具有SlO及S20属性的专利信息存储地址中以对专利进行分类。6.一种专利分析系统，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗才洋，罗万里，
申请(专利权)人：苏州威世博知识产权服务有限公司，
类型：发明
国别省市：