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本发明提供一种专利分析方法，包括：S10，设定进行专利分析的纵轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息；S20，设定进行专利分析的横轴属性，并根据该属性查找相应的专利信息项目；S30，绘制由S10及S20设定的纵轴及横轴组成的表格，同时将自S...
该专利属于苏州威世博知识产权服务有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州威世博知识产权服务有限公司授权不得商用。

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