【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及晶体硅光伏组件的制造领域，特别涉及一种避免或降低晶体硅光伏组件电位诱发衰减的方法和结构。
技术介绍
PID现象是指组件在使用过程中，尤其是在高温多湿环境下，晶体硅光伏组件中的电路与其接地金属边框之间的高电压流经太阳能电池单元，出现的组件光伏性能持续衰减的现象，这是太阳能电池组件特有的现象。造成此类衰减的机理是多方面的，例如在高电压的作用下，组件电池的封装材料、组件上表面层及下表面层的材料中出现离子迁移现象；电池中出现的热载流子现象；电荷的再分离消减了电池的活性层的性能；相关的电路被腐蚀坐寸ο根据实验室和电站实地考察，发生PID效应的主要影响因子有:①组件环境湿度，湿度越大，PID效应越明显；②系统电压，系统电压越大，PID越明显；③环境温度，温度越高，PID效应越明显；④封装材料； 组件使用时间；⑥组件表面的状况，例如导电性。PID效应会导致组件功率衰减，性能降低，进而影响整个系统的发电能力和总输出功率。在电站实际运行中发现，光伏发电系统的系统电压对组件有持续的PID作用，严重时会导致功率衰减50%以上，直接影响电站的实际发电量和投资者的收益。目前...
【技术保护点】
一种避免或降低晶体硅光伏组件电位诱发衰减的方法，用于光伏系统，所述光伏系统包括由所述晶体硅光伏组件组成的光伏组件阵列、汇流箱和逆变器，每个光伏组件阵列均与一个汇流箱连接，所述各汇流箱的正极输出端并接后与所述逆变器的正极输入端连接，各汇流箱的负极输出端并接后与所述逆变器的负极输入端连接，其特征在于：当光伏系统正常工作时，将所述光伏系统的正、负极开路；需对光伏组件进行功率衰减恢复时，将所述光伏系统的正、负极短接。
【技术特征摘要】
1.一种避免或降低晶体硅光伏组件电位诱发衰减的方法，用于光伏系统，所述光伏系统包括由所述晶体硅光伏组件组成的光伏组件阵列、汇流箱和逆变器，每个光伏组件阵列均与一个汇流箱连接，所述各汇流箱的正极输出端并接后与所述逆变器的正极输入端连接，各汇流箱的负极输出端并接后与所述逆变器的负极输入端连接，其特征在于:当光伏系统正常工作时，将所述光伏系统的正、负极开路；需对光伏组件进行功率衰减恢复时，将所述光伏系统的正、负极短接。2.如权利要求1所述的避免或降低晶体硅光伏组件电位诱发衰减的方法，其特征在于:当光伏系统正常工作时，将所述光伏系统的正、负极开路；当光伏系统无电输出时，将所述光伏系统的正、负极短接。3.如权利要求1或2所述的避免或降低晶体硅光伏组件电位诱...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏慎金，陈小梅，
申请(专利权)人：常州亿晶光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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