光伏组件光衰减的测试方法技术

本发明专利技术公开了一种光伏组件光衰减的测试方法，包括以下步骤：步骤一，选取光伏组件并进行初始测试，在标准测试条件下测出光伏组件的短路电流Isc；步骤二，开启环境箱，预热全光谱的氙灯使得辐照度稳定。步骤三，将步骤一中的光伏组件放进环境箱，并测得光伏组件入箱的瞬时短路电流I瞬时sc，同时，根据公式计算出光伏组件的即时辐照度，并根据即时辐照度得出所需测试的周期；步骤四，待步骤三测试结束后取出光伏组件并进行功率输出测试和EL测试。本发明专利技术中光伏组件测量光辐射后光伏组件的功率衰减来评估光辐射对光伏组件衰减的影响，从而评估光伏组件的性能。

【技术实现步骤摘要】
光伏组件光衰减的测试方法
本专利技术属于光伏组件测试领域，具体涉及一种光伏组件光衰减的测试方法。
技术介绍
光致衰减(Light-induceddegradation，LID)是指太阳电池或光伏组件在使用初期输出功率大幅度下降后趋于稳定的现象。通过各项实验证实：晶体硅中硼和间隙氧是引起掺硼Cz-Si太阳能电池光衰减的主要因素。在当前传统的Cz单晶硅中，氧是晶体硅中主要的杂质，原子氧在硅体中处于填隙位置。掺硼Cz-Si太阳能电池经过光照或电流注入，硅体中的硼和氧形成硼氧复合体，从而使少子寿命下降，导致了电池效率及电性能下降，但经过退火处理，硼氧复合体分开，少子寿命可恢复。在国内，光伏电池的主流产品是以掺硼的P型晶硅太阳能电池为主，因此光致衰减现象无法避免。早期的硅片由于其使用的多晶硅料质量差，硅片生产工艺、设备落后，导致太阳能电池光衰很大，将近10％左右。近些年随着技术不断进步，客户的要求越来越高，硅片生产通过降低硼、氧以及金属杂质的浓度，后续太阳能电池扩散工艺优化、电极接触浆料匹配，不仅使得掺硼的P型晶硅太阳能电池转换效率得到提升，而且光致衰减现象得到明显的控制。目前主流的多晶硅太阳能电池光衰率可控制在1％以内，经过光致衰减后，光伏组件的电性能可能会存在很大差异，从而引起光伏组件输出曲线异常和热斑现象，甚至有可能导致光伏组件的早期失效，故而光伏组件光衰减成为评价光伏组件质量好坏的重要项目之一。因此，亟需开发一种光伏组件光衰减的测试方法。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种光伏组件光衰减的测试方法。为了达到上述目的，本专利技术的技术方案如下：本专利技术提供一种光伏组件光衰减的测试方法，包括以下步骤：步骤一，选取光伏组件并进行初始测试，初始测试包括光伏组件的外观、功率输出测试和EL测试，功率输出测试在标准测试条件下测出光伏组件的短路电流ISC；步骤二，开启环境箱，预热全光谱的氙灯使得辐照度稳定，预热时间为30～60min。步骤三，将步骤一中的光伏组件放进环境箱，并测得光伏组件入箱的瞬时短路电流I瞬时sc，同时，根据如下公式计算出光伏组件的即时辐照度，并根据即时辐照度得出所需测试的周期：E＝(I瞬时sc/ISC)×1000W/m2；步骤四，待步骤三测试结束后取出光伏组件并进行功率输出测试和EL测试。本专利技术中光伏组件测量光辐射后光伏组件的功率衰减来评估光辐射对光伏组件衰减的影响，从而评估光伏组件的性能。本专利技术中上述的步骤三中利用万用表测试光伏组件的瞬时短路电流。在上述技术方案的基础上，还可做如下改进：作为优选的方案，上述的步骤三在光伏组件的标准测试条件下，每隔5kWh/m2测试光伏组件的功率。采用上述优选的方案，光辐射后，每隔5kWh/m2测试光伏组件的功率，得出光伏组件的功率衰减，若功率衰减不大于2％，则说明光伏组件的质量较好。作为优选的方案，上述的步骤三在光伏组件的标准测试条件下，先隔20kWh/m2测试光伏组件的功率，然后每隔5kWh/m2测试光伏组件的功率，直至前后两次光伏组件功率衰减在0.5％之内。采用上述优选的方案，光辐射后，每隔5kWh/m2测试光伏组件的功率，直至前后两次光伏组件功率衰减在0.5％之内，用来评估光伏组件在光辐射下衰减并趋于稳定的程度。作为优选的方案，上述的步骤三中还设置温度传感器，温度传感器与光伏组件的背面连接。采用上述优选的方案，温度传感器得出光辐射后光伏组件的温度变化。具体实施方式下面详细说明本专利技术的优选实施方式。为了达到本专利技术的目的，在本专利技术的其中一种实施方式中提供一种光伏组件光衰减的测试方法，包括以下步骤：步骤一，选取光伏组件并进行初始测试，初始测试包括光伏组件的外观、功率输出测试和EL测试，功率输出测试在标准测试条件下测出光伏组件的短路电流ISC；步骤二，开启环境箱，预热全光谱的氙灯使得辐照度稳定，预热时间为30～60min。步骤三，将步骤一中的光伏组件放进环境箱，并测得光伏组件入箱的瞬时短路电流I瞬时sc，同时，根据如下公式计算出光伏组件的即时辐照度，并根据即时辐照度得出所需测试的周期：E＝(I瞬时sc/ISC)×1000W/m2；步骤四，待步骤三测试结束后取出光伏组件并进行功率输出测试和EL测试。本实施方式中光伏组件测量光辐射后光伏组件的功率衰减来评估光辐射对光伏组件衰减的影响，从而评估光伏组件的性能。本实施方式中上述的步骤三中利用万用表测试光伏组件的瞬时短路电流。为了进一步地优化本专利技术的实施效果，在本专利技术的另一种实施方式中，在前述内容的基础上，上述的步骤三在光伏组件的标准测试条件下，每隔5kWh/m2测试光伏组件的功率。采用上述优选的方案，光辐射后，每隔5kWh/m2测试光伏组件的功率，得出光伏组件的功率衰减，若功率衰减不大于2％，则说明光伏组件的质量较好。为了进一步地优化本专利技术的实施效果，在本专利技术的另一种实施方式中，在前述内容的基础上，上述的步骤三在光伏组件的标准测试条件下，先隔20kWh/m2测试光伏组件的功率，然后每隔5kWh/m2测试光伏组件的功率，直至前后两次光伏组件功率衰减在0.5％之内。采用上述优选的方案，光辐射后，每隔5kWh/m2测试光伏组件的功率，直至前后两次光伏组件功率衰减在0.5％之内，用来评估光伏组件在光辐射下衰减并趋于稳定的程度。为了进一步地优化本专利技术的实施效果，在本专利技术的另一种实施方式中，在前述内容的基础上，上述的步骤三中还设置温度传感器，温度传感器与光伏组件的背面连接。采用上述优选的方案，温度传感器得出光辐射后光伏组件的温度变化。以上所述的仅是本专利技术的优选实施方式，应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术创造构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
光伏组件光衰减的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，选取光伏组件并进行初始测试，所述初始测试包括光伏组件的外观、功率输出测试和EL测试，功率输出测试在标准测试条件下测出光伏组件的短路电流ISC；步骤二，开启环境箱，预热全光谱的氙灯使得辐照度稳定，预热时间为30～60min。步骤三，将步骤一中的光伏组件放进环境箱，并测得光伏组件入箱的瞬时短路电流I瞬时sc，同时，根据如下公式计算出光伏组件的即时辐照度，并根据即时辐照度得出所需测试的周期：E＝(I瞬时sc/ISC)×1000W/m2；步骤四，待步骤三测试结束后取出光伏组件并进行功率输出测试和EL测试。

【技术特征摘要】
1.光伏组件光衰减的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，选取光伏组件并进行初始测试，所述初始测试包括光伏组件的外观、功率输出测试和EL测试，功率输出测试在标准测试条件下测出光伏组件的短路电流ISC；步骤二，开启环境箱，预热全光谱的氙灯使得辐照度稳定，预热时间为30～60min；步骤三，将步骤一中的光伏组件放进环境箱，并测得光伏组件入箱的瞬时短路电流I瞬时sc，同时，根据如下公式计算出光伏组件的即时辐照度，并根据即时辐照度得出所需测试的周期：E＝(I瞬时sc/ISC)×1000W/m2；步骤四，待步骤三测试结束后取出光伏组件并进行功率输出测试和EL测试。2.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：张飞飞，陈沁，梅晓俊，
申请(专利权)人：苏州晟思奇检测技术服务有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32