一种获得超材料折射率分布的方法及其装置制造方法及图纸

技术编号:8764150 阅读:201 留言:0更新日期:2013-06-07 18:18
本发明专利技术公开了一种获得超材料折射率分布的方法及其装置,所述方法包括:采用仿真方式使电磁波透过所述超材料;获取用以描述和衡量所述超材料对电磁波响应的数据,包括所述超材料相对于电磁波传输方向的后表面的实验相位分布数据;获取实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息;若所述相位分布数据之间的差距信息未达阈值时,改变所述超材料的折射率分布,并返回采用仿真方式使电磁波透过所述超材料的步骤,并循环,直至所述相位分布数据之间的差距信息达到阈值。通过上述方式,本发明专利技术采用仿真方式,能够节省大量的人力物力财力,可以比较有针对性地、较快地设计出满足要求的目标超材料。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种获得超材料折射率分布的方法,其特征在于,包括:采用仿真方式使电磁波透过所述超材料;获取用以描述和衡量所述超材料对电磁波响应的数据,包括所述超材料相对于电磁波传输方向的后表面的实验相位分布数据;获取实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息;若所述实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息未达阈值时,改变所述超材料的折射率分布,并返回采用仿真方式使电磁波透过所述超材料的步骤,并循环,直至所述实验相位分布数据与目标相位分布数据之间的差距信息达到阈值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘若鹏季春霖岳玉涛李勇祥
申请(专利权)人:深圳光启高等理工研究院
类型:发明
国别省市:

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