【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及自动化控制领域，更具体地说，涉及一种测序控制系统。
技术介绍
目前测序行业出现了百家争鸣的景象，不同的公司有不同的测序原理，比如:大规模平行签名测序(Massively Parallel Signature Sequencing, MPSS)、聚合酶克隆(Polony Sequencing)、454 焦憐酸测序(4δ4 pyrosequencing)、Illumina (Solexa)sequencing、ABI SOLiD sequencing、离子半导体测序(1n semiconductor sequencing)、DNA纳米球测序(DNA nanoball sequencing)等。虽然测序原理不同,但测序的过程基本相同，首先，将样品固定于固相载体上；然后，将固相载体安装在测序系统中的测序反应平台上，形成测序反应小室或者测序芯片，并将测序试剂导入到测序反应小室或测序芯片上，与固相载体上的样品发生测序反应；而后，利用激发光源照射固相载体表面，并利用探测器检测、收集固相载体表面的信号；最后，对收集到的信号进行处理，得到样品的序列信息。现有技术中，...
【技术保护点】
一种测序控制系统，其特征在于，所述系统包括第一测序反应单元、第一采图单元、第二测序反应单元、第二采图单元和控制单元；所述第一测序反应单元，用于控制第一测序反应小室的测序反应；所述第一采图单元，用于控制采图组件对第一测序反应小室进行信号检测与收集，得信号数据；所述第二测序反应单元，用于控制第二测序反应小室的测序反应；所述第二采图单元，用于控制采图组件对第二测序反应小室进行信号检测与收集，得信号数据；所述控制单元用于控制第一测序反应单元与第一采图单元进行多次循环工作，并用于控制第二测序反应单元与第二采图单元进行多次循环工作；所述第一采图单元与第二测序反应单元在同一时间段内进行工...
【技术特征摘要】
1.一种测序控制系统，其特征在于，所述系统包括第一测序反应单元、第一采图单元、第二测序反应单元、第二采图单元和控制单元； 所述第一测序反应单元，用于控制第一测序反应小室的测序反应； 所述第一采图单元，用于控制采图组件对第一测序反应小室进行信号检测与收集，得信号数据； 所述第二测序反应单元，用于控制第二测序反应小室的测序反应； 所述第二采图单元，用于控制采图组件对第二测序反应小室进行信号检测与收集，得信号数据； 所述控制单元用于控制第一测序反应单元与第一采图单元进行多次循环工作，并用于控制第二测序反应单元与第二采图单元进行多次循环工作； 所述第一采图单元与第二测序反应单元在同一时间段内进行工作，且具有最长的共同工作时间。2.根据权利要求1所述的测序控制系统，其特征在于，所述第一测序反应单元用于控制试剂传输组件将试剂传输到第一测序反应小室，并用于控制温控装置对第一测序反应小室进行加热或制冷； 所述第二测序反应单元用于控制试剂传输组件将试剂传输到第二测序反应小室，并用于控制温控装置对第二测...
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