用于在串联质谱分析中使用可变质量选择窗宽度的系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及用于使用可变质量选择窗宽度来分析样本的系统及方法。使用处理器指令串联质谱仪以不同质量选择窗宽度对样本执行至少两次碎片扫描。所述串联质谱仪包括允许可变质量选择窗宽度的质量分析器。对不同质量选择窗宽度的选择可基于样本化合物的一个或一个以上性质。所述性质可包括样本化合物分子量分布，所述样本化合物分子量分布是根据预期化合物的分子量分布来计算或根据一种或一种以上已知化合物的分子量列表来确定。在指令串联质谱仪对样本执行至少两次碎片扫描之前，还可指令串联质谱仪执行样本分析。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍
定性信息及定量信息都可从串联质谱仪获得。在此仪器中，在第一质量分析器中选择先驱离子，破碎所述先驱离子，且在第二分析器或在所述第一分析器的第二次扫描中对其进行碎片分析。碎片离子频谱可用于识别分子，且一个或一个以上碎片的强度可用于确定样本中存在的化合物的量。单反应监测(SRM)为这方面的熟知实例，其中选择先驱离子、破碎所述先驱离子且将所述先驱离子传递到经设定以发射单个离子的第二分析器。当具有所选质量的先驱破碎以给出具有所选碎片质量的离子时会产生响应，且此输出信号可用于定量操作。所述仪器可经设定以出于证实目的而测量若干碎片离子，或测量若干先驱碎片组合以确定不同化合物的量。分析的灵敏度及专一性受到在第一质量分析步骤中选择的质量窗的宽度的影响。较宽的窗发射更多的离子，从而给出提高的灵敏度，但也可允许具有不同质量的离子通过；如果后者(latter)以与目标化合物相同的质量给出碎片，那么干扰将发生且精确度将被折中。在一些质谱仪中，第二质量分析器可以高分辨率操作，从而允许碎片离子窗为较窄的，使得专一性可在较大程度上得到恢复。这些仪器也可检测所有碎片，使得其正固有地检测不同碎片。使用此仪本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.09.08 US 61/380,9161.一种用于使用可变质量选择窗宽度来分析样本的系统，其包含: 串联质谱仪，其包括允许可变质量选择窗宽度的质量分析器；以及 与所述串联质谱仪通信的处理器，其指令所述串联质谱仪以不同质量选择窗宽度对样本执行至少两次碎片扫描。2.根据权利要求1所述的系统，其中所述处理器进一步指令所述串联质谱仪调整用于每一不同质量选择窗的一个或一个以上不同的采集参数。3.根据权利要求2所述的系统，其中所述采集参数包含积累时间、碰撞能量或碰撞能量散布中的一者或一者以上。4.根据权利要求1所述的系统，其中所述质量选择窗宽度经选择以包含相同数目的质量值。5.根据权利要求1所述的系统，其中所述质量选择窗宽度是基于样本化合物的一个或一个以上性质。6.根据权利要求1所述的系统,其中样本化合物的所述一个或一个以上性质包含样本化合物分子量分布。7.根据权利要求6所述的系统，其中所述处理器根据所述样本中的预期化合物的分子量分布来计算所述样本化合物分子量分布。8.根据权利要求6所述的系统，其中所述处理器根据一种或一种以上已知化合物的分子量列表来确定所述样本化合物分子量分布。9.根据权利要求6所述的系统，其中在所述处理器指令所述串联质谱仪对所述样本执行作为所述样本的后续分析 的一部分的所述至少两次碎片扫描之前，所述处理器指令所述串联质谱仪执行对所述样本的分...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗纳德·邦纳，斯蒂芬·A·泰特，
申请(专利权)人：DH科技发展私人贸易有限公司，
类型：
国别省市：