质量分析方法技术

本发明专利技术提供一种质量分析方法，其对空间电荷的影响进行修正，兼顾灵敏度和动态范围。根据在各离子排出时积蓄在离子阱内的离子量，对质量谱的质量轴进行修正。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及质量分析装置和使用它的。
技术介绍
在专利文件I中揭示了以下方法，即在使用离子阱进行质量分析的情况下，首先测量从离子阱排出的总离子量，根据该信息对导入到离子阱的离子量进行控制，在空间电荷的影响小的条件下进行质量分析。在专利文件2中揭示了以下方法，即在进行MS/MS分析时，通过使用对在前体离子的选择(isolation)、离解时所使用的共振频率修正了因空间电荷造成的共振频率的偏移所得的频率，来高效地进行MS/MS分析。在该方法中，根据将离子导入到离子阱的时间来推测捕获的离子量，根据该离子量来计算出因空间电荷造成的共振频率的偏移。 在专利文件3中揭示了求出质量谱的总离子量来修正因空间电荷造成的质量的偏移的方法。专利文件I :US5, 572，022专利文件2 US6, 884, 996专利文件3 US2006/028974
技术实现思路
本专利技术所要解决的课题是在通过离子阱进行质量分析的情况下，对空间电荷的影响进行修正，兼顾灵敏度和动态范围。在专利文件I的方法中有以下这样的课题，即由于将导入到离子阱的离子量控制为空间电荷的影响小的量，所以灵敏度会降低。特别是在离子量非常多的离子种类和离子量少的离子种类混合存在的情况下，为了避免离子量非常多的离子种类的空间电荷的影响，将导入到离子阱的离子量控制得低，难以测定离子量少的离子种类。另外，在供给到离子阱中的离子量随着时间变动的情况下，测量总离子量的时刻的离子供给量与进行质量分析的时刻的离子供给量不同，因此有时无法避免空间电荷的影响。专利文件2的方法只揭示了在进行MS/MS测量时为了使离子离解而使用的交流电压的频率，而没有记载对质量谱的空间电荷的偏移进行修正的方法。另外，在供给离子阱的离子量随着时间变动的情况下，测量总离子量的时刻的离子供给量与进行质量分析的时刻的离子供给量不同，因此，有时无法避免空间电荷的影响。在专利文件3的方法中，根据总离子量对质量谱的全部峰值同样地进行修正。因此，由于在测量质量谱的期间依次排出离子，因此无法对离子量发生变化的影响进行修正，对空间电荷的影响进行修正的精度低。根据在各离子排出时积蓄在离子阱内的离子量来修正质量谱的质量轴。在通过离子阱进行质量分析的情况下，能够对空间电荷的影响进行修正，兼顾灵敏度和动态范围。附图说明图I是质量分析装置的一个例子。图2是测量时序。图3是q与β的关系图。图4是质量谱的示意图。图5是流程图。图6是各数据点的离子信号强度。图7是q值的偏移与所捕获的离子数的关系。图8是测量时序。 图9是a值与q值的关系图。图10是测量时序。图11是流程图。图12是C (j)的一个例子。图13是流程图。图14是测量对象的离子的m/z和阈值的离子信号强度的列表。图15是测量时序。图16是质量分析装置的一个例子。符号说明I :离子化室；2 :毛细管；3 :阀门前排气区域；4 :阀门；5 :分析室；6 :检测器；7 :线性离子讲的4极棒电极；8 :检测器；10 :排气泵；11 :排气泵；14 :试样气化部；15 :排气方向；16 :排气方向；18 :辅助交流电压；19 :阱高频电压；21 :控制部；22 :控制电源；23 :阀门控制电源；40 :势鱼放电用闻频电压；41 :电介体；42 :电极；43 :电极；60 :显不部；80 :稳定区域；101 :离子源；102 :第一细孔；103 :第二细孔；104 :第三细孔；105 :第一差动排气部；106 :第二差动排气部；107 :高真空室；131 :离子导向器；132 :线性离子阱；140 :泵；141 泵；142 :泵；110 :离子导向器的4极棒电极；200 :数据点i ;201 :质量谱的终端的数据点具体实施例方式实施例I图I是质量分析装置的一个例子。通过由加热器、喷雾器等构成的气化部14将试样的一部分气化，再通过毛细管2导入到阀门前排气区域3。阀门前排气区域3通过排气泵10被排气(将该排气泵的排气方向表不为15)。气化了的试样被导入到阀门前排气区域3，在阀门4打开时，与周围气体一起被导入到由玻璃、陶瓷、塑料等电介体构成的电介体毛细管41。在电介体外侧配置电极42和电极43，在电极43与电极42之间通过电源40施加频率flOOkHz、电压2飞kV左右的电压，由此进行电介体势垒放电。通过将气化了的分子导入到该放电区域中来生成试样分子的离子。作为阀门4的结构，可以列举如夹管阀、滑阀那样能够间歇地控制气体的导入、非导入的结构。在电介体毛细管41中生成的离子被导入到配置有质量分析部7和检测器8的分析室5。分析室5通过涡轮分子泵、离子吸气泵等排气泵11被排气(将该排气泵的排气方向表示为16)。另外，在图I中，表示了用毛细管将阀门4与气化部14之间、阀门4与分析室5之间连接起来的例子，但也可以使用节流孔来代替毛细管。将导入到分析室5的离子导入到质量分析部7。在实施例I中，为了说明测量时序而以线性离子阱质量分析仪为例进行说明。线性离子阱由多极、例如4个4极棒电极(7a、7b、7c、7d)构成。对于4极棒电极7，以在相对的棒之间(7a、7b之间、7c、7d之间)成为同相，在相邻的棒之间成为反相的方式施加阱高频电压19。已知阱高频电压19根据电极尺寸、测量质量范围而最佳值不同，典型的是使用振幅(T5kV ((T峰值)、频率500kHf 5MHz左右的电压。另外，在向4极棒电极7施加阱高频电压19来测量正离子的情况下可以施加正的偏移电压，在测量负的离子的情况下可以施加负的偏移电压。如果施加该阱高频电压19贝U形成伪电势，在4极棒电极7内部的空间中捕获离子。另外，向相对的一对棒电极之间(7a、7b之间)施加辅助交流电压18。作为辅助交流电压18，典型的是使用振幅(T50V ((T峰值)、频率5kHz 2MHz左右的单一频率及其多个频率分量的重叠波形。通过施加该辅助交流电压18，针对在4极棒电极7内部捕获的 离子，能够进行只选择特定质量数的离子而排除其他离子，或者使特定质量数的离子离解，或者根据质量选择性地排出离子的质量扫描。作为质量扫描的方法，在此列举向一对电极之间施加辅助交流电压18的例子，但除此以外，还有向一对棒电极之间(7a、7b之间)施加相同相位的辅助交流电压的方法等。根据质量选择性地排出的离子(将排出方向表示为50)被由电子倍增管、多通道板等构成的检测器8变换为电信号，并发送到控制部21。在控制部21中，针对每一定的采样周期(典型的是I μ s 1000 μ S)，通过模拟-数字变换器(ADC)JjC冲计数单元将来自检测器8的输出信号变换为数字数据并存储在控制部内的存储部中。在控制部21内除了存储部以外还包含谱修正所需要的数据处理部。存储部由存储器、硬盘等构成，除了质量谱的数据以外，还可以预先存储进行修正所需要的数值、关系式、测量时序等信息。数据处理部具有运算功能和用于临时保存在运算中所需的数值的存储器。另外，数据处理部除了对这些信息进行存储、变换以外还具有以下功能对控制各电极等的控制电源22、阀门电源23等进行控制的功能；在显示部60上显示信息的功能。显示部60具有以下功能通过显示器、打印机等显示质量谱自身、质量谱的峰值的m/z和强度、测量对象物质的有无等信息。分析室的压本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种质量分析方法，其特征在于，具有：通过离子源对试样进行离子化的工序；将离子积蓄到离子阱中的工序；以及从上述离子阱中根据质量选择性地排出离子并用检测器检测，取得质量谱的工序，根据各离子排出时积蓄在上述离子阱内的离子量，对上述质量谱的质量轴进行修正。

【技术特征摘要】
2011.06.24 JP 2011-1400891.一种质量分析方法，其特征在于，具有 通过离子源对试样进行离子化的エ序； 将离子积蓄到离子阱中的エ序；以及 从上述离子阱中根据质量选择性地排出离子并用检测器检测，取得质量谱的エ序， 根据各离子排出时积蓄在上述离子阱内的离子量，对上述质量谱的质量轴进行修正。2.根据权利要求I所述的质量分析方法，其特征在干， 具有间歇地向上述离子阱导入离子的阀门，通过上述阀门的开闭来间歇地向上述离子阱导入离子。3.根据权利要求I所述的质量分析方法，其特征在干， 在上述积蓄离子的エ序与上述取得质量谱的エ序之间，具有排除上述离子阱内的一部分离子的エ序。4.根据权利要求I所述的质量分析方法，其特征在干， 在上述取得质量谱的エ序中，通过施加到上述离子阱的交流电压对离子进行共振...

【专利技术属性】
技术研发人员：杉山益之，桥本雄一郎，熊野峻，川口洋平，诸熊秀俊，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：发明
国别省市：