【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及质量分析装置和使用它的。
技术介绍
在专利文件I中揭示了以下方法，即在使用离子阱进行质量分析的情况下，首先测量从离子阱排出的总离子量，根据该信息对导入到离子阱的离子量进行控制，在空间电荷的影响小的条件下进行质量分析。在专利文件2中揭示了以下方法，即在进行MS/MS分析时，通过使用对在前体离子的选择(isolation)、离解时所使用的共振频率修正了因空间电荷造成的共振频率的偏移所得的频率，来高效地进行MS/MS分析。在该方法中，根据将离子导入到离子阱的时间来推测捕获的离子量，根据该离子量来计算出因空间电荷造成的共振频率的偏移。 在专利文件3中揭示了求出质量谱的总离子量来修正因空间电荷造成的质量的偏移的方法。专利文件I :US5, 572，022专利文件2 US6, 884, 996专利文件3 US2006/028974
技术实现思路
本专利技术所要解决的课题是在通过离子阱进行质量分析的情况下，对空间电荷的影响进行修正，兼顾灵敏度和动态范围。在专利文件I的方法中有以下这样的课题，即由于将导入到离子阱的离子量控制为空间电荷的影响小的量，所以灵敏度会降低。特...
【技术保护点】
一种质量分析方法，其特征在于，具有：通过离子源对试样进行离子化的工序；将离子积蓄到离子阱中的工序；以及从上述离子阱中根据质量选择性地排出离子并用检测器检测，取得质量谱的工序，根据各离子排出时积蓄在上述离子阱内的离子量，对上述质量谱的质量轴进行修正。
【技术特征摘要】
2011.06.24 JP 2011-1400891.一种质量分析方法，其特征在于，具有 通过离子源对试样进行离子化的エ序； 将离子积蓄到离子阱中的エ序；以及 从上述离子阱中根据质量选择性地排出离子并用检测器检测，取得质量谱的エ序， 根据各离子排出时积蓄在上述离子阱内的离子量，对上述质量谱的质量轴进行修正。2.根据权利要求I所述的质量分析方法，其特征在干， 具有间歇地向上述离子阱导入离子的阀门，通过上述阀门的开闭来间歇地向上述离子阱导入离子。3.根据权利要求I所述的质量分析方法，其特征在干， 在上述积蓄离子的エ序与上述取得质量谱的エ序之间，具有排除上述离子阱内的一部分离子的エ序。4.根据权利要求I所述的质量分析方法，其特征在干， 在上述取得质量谱的エ序中，通过施加到上述离子阱的交流电压对离子进行共振...
【专利技术属性】
技术研发人员：杉山益之，桥本雄一郎，熊野峻，川口洋平，诸熊秀俊，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：发明
国别省市：
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