【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体
,尤其涉及一种极紫外光发生装置。
技术介绍
由于半导体行业对集成电路(IC, Integrated Circuits)的集成度要求越来越高,传统的可见光或者近紫外光刻机已无法满足行业发展需求,市场需要性能更为优良的光刻设备来维持整个产业的高速发展势头。众所周知,光刻分辨率与投影物镜的数值孔径成反t匕,与曝光波长成正比。因此,为了提高光刻分辨率,下一代光刻机将采用波长更短的EUV(Extreme Ultraviolet,极紫外,尤其指波长为13. x nm或6. x nm的极紫外)光来取代现有的可见光、近紫外光及深紫外光,以进一步提高光刻分辨率和IC的集成度。产生EUV光的主要途径是将高能量注入靶材,将其转化成激发态的等离子体,并向外辐射EUV光。目前,靶材的激发方法主要有两种“激光激发等离子体”(Laser ProducedPlasma, LPP)和“放电激发等离子体”(Discharge Produced Plasma, DPP)。LPP 技术主要采用大功率的脉冲激光束轰击靶材来产生EUV光,该技术已趋于成熟,最为人们所看好。但本专 ...
【技术保护点】
一种靶源预整形增强的极紫外光发生装置,其特征在于,所述极紫外光发生装置包括:?一真空腔,所述真空腔用于维持极紫外光传输路径上的真空环境,以减少所述极紫外光在传输路径上的光能吸收损失;?一靶源发生器,所述靶源发生器部分或全部位于所述真空腔内,用于向外输出靶源;?一靶源预整形增强器,所述靶源预整形增强器部分或全部位于所述真空腔内,用于接收所述靶源并对所述靶源进行预整形增强及空间位置调整;?一高能发生器,所述高能发生器部分或全部位于所述真空腔外,用于产生持续时间短、能量密度高的能量;?一能量注入器,所述能量注入器部分或全部位于所述真空腔外,用于将所述高能发生器产生的所述能量注入靶 ...
【技术特征摘要】
1.一种靶源预整形增强的极紫外光发生装置,其特征在于,所述极紫外光发生装置包括: 一真空腔,所述真空腔用于维持极紫外光传输路径上的真空环境,以减少所述极紫外光在传输路径上的光能吸收损失; 一靶源发生器,所述靶源发生器部分或全部位于所述真空腔内,用于向外输出靶源;一靶源预整形增强器,所述靶源预整形增强器部分或全部位于所述真空腔内,用于接收所述靶源并对所述靶源进行预整形增强及空间位置调整; 一高能发生器,所述高能发生器部分或全部位于所述真空腔外,用于产生持续时间短、能量密度高的能量; 一能量注入器,所述能量注入器部分或全部位于所述真空腔外,用于将所述高能发生器产生的所述能量注入靶源内,使所述靶源转化受激态等离子体,并向外辐射极紫外光;一极紫外光收集器,所述极紫外光收集器位于所述真空腔内,用于收集所述极紫外光; 一残余靶材收集器,所述残余靶材收集器部分或全部位于所述真空腔室内,用于收集和储存未被激发的靶材粒子和/或经激发后残留的靶材离子。2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述靶源预整形增强器还包括: 一靶源运动轨迹控制器,所述靶源运动轨迹控制器位于所述真空腔内,用于接收所述靶源并控制和稳定所述靶源的运动轨迹; 一靶源整形器,所述靶源整形器位于所述真空腔内,用于对所述靶源进行整形增强及空间位置调整; 一靶源探测器,所述靶源探测器部分或全部位于所述真空腔内,用于动态监测所述靶源的物理特征信息,所述靶源的物理特征信息包括所述靶源的位置信息和/或形状信息;一极紫外光和/或等离子体探测器,所述极紫外光和/或等离子体探测器部分或全部位于所述真空腔内,用于动态监测所述极紫外光和/或等离子体的物理特征信息,所述极紫外光和/或等离子体的物理特征信息包括所述等离子体的形态信息和/或所述极紫外光的能量信息。3....
【专利技术属性】
技术研发人员:宗明成,黄有为,陈浩,李世光,盖洪峰,
申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所,
类型:发明
国别省市:
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