【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及陶瓷电子元件的制造方法,特别是涉及具备为了防止水分浸入到陶瓷电子元件的内部,而对元件主体赋予疏水性的工序的陶瓷电子元件的制造方法。
技术介绍
在陶瓷电子元件中,如果其空隙部分浸入了水分,就会造成电绝缘性及寿命特性的恶化。这种水分的浸入,容易发生在例如为了形成外部端子电极所实施的电镀处理的时候,或者在高湿度环境下使用的时候。特别是,在具备有层叠构造的元件主体的层叠型陶瓷电子元件的情况下,水分很容易通过在内部电极和陶瓷层的界面所形成的缝隙而浸入。这种情况下,为了与内部电极电连接,在元件主体的外表面上形成有外部端子电极,即便是在内部电极和陶瓷层的界面被外部端子电极覆盖的状态下,水分也可由各种空隙或缝隙浸入。特别是,在外部端子电极仅通过电镀而形成的情况下,水分就更容易浸入。作为防止如上述那样的水分浸入的方法,在很多专利文献中都提到赋予疏水处理剂(也可称为“防水处理剂”)的方法。例如,在日本专利第3304798号公报(专利文献I)及日本专利第3444291号公报(专利文献2)所记载的技术中,在外部电极上实施电镀处理之前,通过在陶瓷素体表面、夕卜部电极表面形成 ...
【技术保护点】
一种陶瓷电子元件,其特征在于,包括:由陶瓷构成的元件主体;对所述元件主体的外表面赋予的疏水处理剂;和在所述疏水处理剂上形成的外部端子电极。
【技术特征摘要】
2010.05.19 JP 2010-1149231.一种陶瓷电子元件,其特征在于,包括:由陶瓷构成的元件主体;对所述元件主体的外表面赋予的疏水处理剂;和在所述疏水处理剂上形成的外部端子电极。2.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员:齐藤顺一,小林敏彦,小川诚,元木章博,川崎健一,国司多通夫,
申请(专利权)人:株式会社村田制作所,
类型:发明
国别省市:
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