【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微电子器件
,涉及参数的提取方法,尤其涉及一种,可用于集成电路的设计。
技术介绍
InP HBT是指磷化铟异质结双极型晶体管,这种器件具有频率特性好、击穿电压高等特点,近年来得到了深入的研究,器件特性得到了很大的提高。由于InP HBT优越的特性,在高速数字电路,微波毫米波电路和数模混合电路中有着广泛的应用。随着InP HBT应用的不断开拓,建立精确的小信号模型以及快速精确的参数提取方法,对InP HBT的电路设计具有十分重要的意义。同时,HBT小信号模型也是建立大信号模型的基础。小信号模型参数由InP HBT小信号模型的拓扑结构决定的,而InP HBT的拓扑结构表征了器件本身的物理特性,也就是每一个小信号模型参数都具有物理意义,这些参数包括寄生参数、本征参数和外部电阻参数。其中,寄生参数包括:基极寄生电阻Rbpad,集电极寄生电阻R(;pa(i,发射极寄生电阻R(;pad,基极寄生电感Lbpad,集电极寄生电感Lepad,发射极寄生电感Lepad,集-射结寄生电容CPM,基-射结寄生电容Cpbe,基-集结寄生电容Cpb。;本征参数包括:基-射结电容Cbe,基-集结内电容Cbcd,基-集结外电容Cbc;x,基极内电阻Rbi,基-射结动态电阻Rbe,基-集结动态电阻Rb。;互导gm(l,延迟时间τ ;外部电阻参数包括:发射极电阻R6,基极外电阻Rb,集电极电阻R。。所述的寄生参数和外部电阻参数均与偏置无关,而本征参数与偏置有关。目前,已有不少有关InPHBT小信号模型参数提取方法的报道。这些提取方法归纳起来大致可以分为数值优化法和直接提 ...
【技术保护点】
(1)采用开路结构和短路结构提取寄生参数:(1a)分别测量InP?HBT器件在开路焊点结构下的散射参数SO和在短路焊点结构下的散射参数SS,其中SO=SO11SO12SO21SO22,SS=SS11SS12SS21SS22;(1b)利用散射参数计算器件的寄生参数:(1b1)通过网络参数变换公式对开路焊点结构下测量出的散射参数SO进行变换,得到开路焊点结构下的导纳参数:YO=YO11YO12YO21YO22;对YO的元素进行加减运算并取虚部,计算出InP?HBT器件的集?射结寄生电容Cpce,基?射结寄生电容Cpbe和基?集结寄生电容Cpbc;(1b2)利用短路焊点结构下的散射参数SS,通过网络参数变换公式将其变换得到短路焊点结构下的导纳参数:YS=YS11YS12YS21YS22,用短路焊点结构下的导纳参数YS减去开路结构焊点下的导纳参数YO,得到新的导纳参数:YSO=YSO11YSO12YSO21YSO22,通过网络参数变换公式将新的导纳参数YSO变换得到新的阻抗参数:ZSO=ZSO11ZSO12ZSO21ZSO22,对ZSO的元素进行加减运算并取实部或取虚部,计算出InP?HBT器 ...
【技术特征摘要】
1.(I)采用开路结构和短路结构提取寄生参数: (Ia)分别测量InP HBT器件在开路焊点结构下的散射参数Stj和在短路焊点结构下的散射参数Ss,其中2.根据权利要求1所述的InPHBT小信号模型的参数提取方法,其特征在于步骤(Ibl)所述的通过网络参数变换公式对开路焊点结构下测量出的散射参数Stj进行变换,得到开路焊点结构下的导纳参数:3.根据权利要求1所述的InPHBT小信号模型的参数提取方法,其特征在于步骤(Ibl)所述的计算出InP HBT器件的集-射结寄生电容Cpm,基-射结寄生电容Cpbe和基-集结寄生电容Cpb。,按如下步骤进行: 首先,由InP HBT器件开路焊点结构下的等效电路,得到开路焊点结构下的导纳参数Y’ 0的矩阵式为:4.根据权利要求1所述的InPHBT小信号模型的参数提取方法,其特征在于所述步骤(lb2)中的通过网络参数变换公式对短路焊点结构下测量出的散射参数Ss进行变换,得到短路焊点结构下的导纳参数Ys,通过网络参数变换公式将新的导纳参数Ym变换得到新的阻抗参数ZS(),按如下步骤进行: (lb21)根据焊点结构下测量出的散射参数Ss,通过如下网络参数变换公式求出导纳参数矩阵式Ys中每个元素,即:5.根据权利要求1所述的InPHBT小信号模型的参数提取方法,其特征在于步骤(lb2)所述的计算出InP HBT器件的基极寄生电阻Rbpad,集电极寄生电阻Rciad,发射极寄生电阻Repiid,及基极寄生电感Lbpad,集电极寄生电感Lepad,发射极寄生电感Lepad,按如下步骤进行: (lb23)由InP HBT器件开路焊点结构下的等效电路和短路焊点结构下的等效电路,得到阻抗参数z’ SQ的矩阵式为:6.根据权利要求1所述的InPHBT小信号模型的参数提取方法,其特征在于步骤(2)所述的去除步骤(I)中...
【专利技术属性】
技术研发人员:吕红亮,周威,张金灿,张玉明,张义门,刘一峰,
申请(专利权)人:西安电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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