钨丝绳绕制机CCD取像放大显示方法及其检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术目的是提供一种钨丝绳绕制机CCD取像放大显示方法及其检测装置，以解决钨丝绳绕制过程中的监控问题。钨丝绳绕制机CCD取像放大显示方法，其特征是在钨丝绳绞捻中将将被监控工作件成像，并用精密显微镜放大，其影像被投放在CCD芯片上，通过CCD将图像处理成电信息输送到显示处理系统，并放大、显示在显示器图面中。实现所述的钨丝绳绕制机CCD取像放大显示方法的检测装置，其特征是CCD取像放大显示检测装置通过显微镜底座与钨丝绳绕制机上的特定座固定连接在一起；显微镜底座上部设有直接照在钨丝绳上的光源，显微镜上部具有CCD，CCD的芯片上与显示器相连。本发明专利技术优点是：本身很微细的丝、股、绳被放大，使观察、监控更方便，更直接，更清楚。有助于发现钨丝、股、绳生产过程中的瑕疵，增强了钨丝绳产品质量的保证和监控水平的提高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于晶体生长装备配套设备
、微细丝绳绕制设备制造领域。
技术介绍
钨丝绳是用微细钨丝绕制而成，在绕制过程中需要随时观察、监控钨丝、股、绳的工作状态，由于比较细，所以肉眼观察困难。在合股过程中，出现断丝或不符合要求的情况下，无法及时监控发现，会造成钨丝绳质量瑕疵。
技术实现思路
本专利技术目的是提供一种钨丝绳绕制机CXD取像放大显示方法及其检测装置，以解决钨丝绳绕制过程中的监控问题。钨丝绳绕制机CXD取像放大显示方法，其特征是在钨丝绳绞捻中，将被监控工作件成像，并用精密显微镜放大，其影像被投放在CXD芯片上，通过CXD将图像处理成电信息输送到显示处理系统，并放大、显示在显示器图面中。实现所述的钨丝绳绕制机CXD取像放大显示方法的检测装置，其特征是CXD取像放大显示检测装置通过显微镜底座与钨丝绳绕制机上特定位置固定连接在一起；显微镜底座上部设有直接照在钨丝绳上的光源，显微镜上部具有(XD，CXD的芯片上与显示器相连。本专利技术优点是本身很微细的丝、股、绳被放大，使观察更方便，更直接，更清楚。有助于发现钨丝、股、绳生产过程中的瑕疵，增强了钨丝绳产品质量的保证和监控水平的提闻。附图说明图为本专利技术原理示意图。图号说明1-(XD，2-显微镜，3-光源，4-钨丝绳，5-显微镜底座，6_座，7_显不器,8_设备外壳。具体实施例方式本专利技术为了更好的观察及检验精细钨丝绳(或股)的绕制状态，在钨丝绳绕制机设备采用了 C⑶取像放大显示检测装置。其原理是将被监控工作件成像，并用精密显微镜放大，其影像被投放在C⑶芯片上，CXD将图像处理成电信息输送到显示处理系统，并放大、显示在显示器图面中。如图所示，CXD取像放大显示检测装置通过显微镜底座5与钨丝绳绕制机上的座6固定连接在一起。光源3直接照在钨丝绳4上，使摄像更加清晰。显微镜2取像放大钨丝绳4，其影像被投放在CXDl芯片上，将图像处理成电信息输送到显示处理系统，并放大、显示在显示器7的图面中，便于观察及检验钨丝绳(或股)的形状和运行状态。本文档来自技高网...

【技术保护点】
钨丝绳绕制机CCD取像放大显示方法，其特征是在钨丝绳绞捻中将被监控工作件成像，并用精密显微镜放大，其影像被投放在CCD芯片上，通过CCD将图像处理成电信息输送到显示处理系统，并放大、显示在显示器图面中。

【技术特征摘要】
1.钨丝绳绕制机CCD取像放大显示方法，其特征是在钨丝绳绞捻中将被监控工作件成像，并用精密显微镜放大，其影像被投放在CXD芯片上，通过CXD将图像处理成电信息输送到显示处理系统，并放大、显示在显示器图面中。2.实现如权利要求1所述的钨丝绳绕制机CCD取像放大...

【专利技术属性】
技术研发人员：符云舒，
申请(专利权)人：符云舒，
类型：发明
国别省市：