一种连续变温偏光显微镜装置制造方法及图纸

一种连续变温偏光显微镜装置，单反数码相机通过可调节镜筒固定于目镜座之上，单反数码相机通过数据传输线与计算机相连；显微镜底座上设置有竖直的调节支架，调节支架上设置有X/Y平移台，ω旋转平台设置于X/Y平移台之上，变温平台设置于ω旋转平台之上，变温平台自带有一个X’/Y’平移台；变温实验前放置样品时，可进行合轴调节；变温测试过程中，可以通过X’/Y’平移台调节样品观测区域，又可以通过旋转ω旋转平台实现该观测区域的原位旋转；商用单反数码相机与可调节镜筒将获得高质量数码影像传输给计算机；本发明专利技术实现了厘米尺度样品、连续变温、高倍偏光、原位旋转、大范围直接观察及高质量图像采集。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及偏光显微镜变温测试
，特别是连续变温条件下，可使厘米尺度样品原位旋转观测的偏光显微镜装置。
技术介绍
偏光显微是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜，被广泛地应用在矿物、化学、材料等领域，在生物学和植物学也有应用。在连续变温条件下进行微观结构偏光显微观察，可以为结构相变研究提供重要的直接实验证据，对于研究材料的微观结构与性能之间的影响关系具有重要的理论价值和实验指导意义。但是，具有连续变温功能的偏光显微镜结构复杂，且受正交偏光条件下连续变温部件体积和结构限制，一般只能对较小的毫米尺度样品进行观察，制样难度很高，且不易获得理想的观察区域，观测过程中无法实现样品的原位旋转。·
技术实现思路
为了克服上述现有技术的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种连续变温偏光显微镜装置，在连续变温条件下，可使厘米尺度样品原位旋转观测，实现了厘米尺度样品、连续变温(-190 600°C)、高倍偏光(X 1000)、原位旋转、大范围直接观察及高质量图像采集(1200万像素)。为了达到上述目的，本专利技术采用的技术方案为一种连续变温偏光显微镜装置，包括显微镜底座18及与其相配置的偏光显微镜系统本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种连续变温偏光显微镜装置，包括显微镜底座（18）及与其相配置的偏光显微镜系统，其特征在于，显微镜底座（18）上设置有竖直的调节支架（17），调节支架（17）上设置有X/Y平移台（12），ω旋转平台（11）设置于X/Y平移台（12）之上，变温平台（10）设置于ω旋转平台（11）之上，变温平台（10）自带有一个X’/Y’平移台。

【技术特征摘要】
1.一种连续变温偏光显微镜装置，包括显微镜底座(18)及与其相配置的偏光显微镜系统，其特征在于，显微镜底座(18)上设置有竖直的调节支架(17)，调节支架(17)上设置有X/Y平移台(12)，ω旋转平台(11)设置于Χ/Υ平移台(12)之上，变温平台(10)设置于ω旋转平台(11)之上，变温平台(10)自带有一...

【专利技术属性】
技术研发人员：席小庆，李强，李缘缘，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：