【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及仪器校准领域，特别是涉及一种晶体管筛选仪校准装置。
技术介绍
随着电子技术的发展，晶体管在电路中的应用十分广泛。在使用晶体管时通常要知道晶体管是否可用以及晶体管的各种特征参数，所以使用前一般会使用晶体管筛选仪对晶体管进行筛选。晶体管筛选仪使用时，要保证其本身的测试精度的准确性，所以一般在晶体管筛选仪使用一段时间后需要对其进行校准。因晶体管筛选仪是非标准仪器，法定的计量机构目前无法检定或校准，一般使用一定数量几种不同类型的标准晶体管作为标准对晶体管筛选仪手工进行测量和记录。对晶体管筛选仪进行手工校准比较耗时间，效率低，平均每个测量参数测试时间在I分钟以上；手工进行校准的测量精度较低，由于是人工进行测量，多人进行测量时的个体差异较大，重复性差。
技术实现思路
基于此，有必要针对手工进行校准时好事、效率低、个体差异大等问题，提供一种效率高、速度快且精度高的晶体管筛选仪校准装置。一种晶体管筛选仪校准装置，用于对晶体管筛选仪进行校准，包括标准晶体管载体，连接有第一数量不同规格的标准晶体管，且具有一一对应每一个标准晶体管的基极和发射极的触点；第一选择开关，包括通过...
【技术保护点】
一种晶体管筛选仪校准装置，用于对晶体管筛选仪进行校准，其特征在于，包括：标准晶体管载体，连接有第一数量不同规格的标准晶体管，且具有一一对应每一个标准晶体管的基极和发射极的触点；第一选择开关，包括通过总线与所述基极触点连接的基极开关选择组及对应的基极选择键，和通过总线与所述发射极触点连接的发射极开关选择组及对应的发射极选择键；三个接线柱，分别为与所述基极选择键连接的基极接线柱、与所述发射极选择键连接的发射极接线柱以及与所有标准晶体管的集电极连接的集电极接线柱；所述基极接线柱、发射极接线柱以及集电极接线柱用于分别连接所述晶体管校准仪的三个检测探针。
【技术特征摘要】
1.一种晶体管筛选仪校准装置，用于对晶体管筛选仪进行校准，其特征在于，包括 标准晶体管载体，连接有第一数量不同规格的标准晶体管，且具有一一对应每一个标准晶体管的基极和发射极的触点； 第一选择开关，包括通过总线与所述基极触点连接的基极开关选择组及对应的基极选择键，和通过总线与所述发射极触点连接的发射极开关选择组及对应的发射极选择键； 三个接线柱，分别为与所述基极选择键连接的基极接线柱、与所述发射极选择键连接的发射极接线柱以及与所有标准晶体管的集电极连接的集电极接线柱；所述基极接线柱、发射极接线柱以及集电极接线柱用于分别连接所述晶体管校准仪的三个检测探针。2.根据权利要求1所述的晶体管筛选仪校准装置，其特征在于， 所述基极开关选择组包括第一数量基极选择级，每个基极选择级分别对应所述第一数量不同规格的标准晶体管的基极触点； 所述发射极开关选择组包括第一数量发射极选择级，每个发射极选择级分别对应所述第一数量不同规格的标准晶体管的发射极触点。3.根据权利要求2所述的晶体管筛选仪校准装置，其特征在于，所述基极开关选择组与所述发射极开关选择组同级选择，所述基极选择键接通所述一种规格的标准晶体管的基极引脚时，所述发射极选择键接通相应标准晶体管的发射极引脚。4.根据权利要求1所述的晶体管筛选仪校准装置，其特征在于，所述第一数量为6-10。5.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：王荣，
申请(专利权)人：深圳深爱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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