【技术实现步骤摘要】
毫米波检查设备的辐射计温度校准装置及其校准方法
本专利技术涉及一种用于毫米波检查设备的辐射计温度校准装置及其校准方法。
技术介绍
所公知的是,毫米波检查设备的辐射计容易受到温度变化的影响,一种是工作环境的温度变化,例如早晨的工作环境温度与中午的工作环境温度可能不同,另一种是辐射计自身的温度变化,例如长时间工作后辐射计自身的温度会升高。这些温度变化对辐射计的测量精度影响很大,会造成辐射计初值的漂移和增益的变化。但是,遗憾的是,在现有的毫米波检查设备中,没有为辐射计设计任何温度校准装置,导致辐射计的检测精度不高。
技术实现思路
本专利技术的目的旨在解决现有技术中存在的上述问题和缺陷的至少一个方面。相应地,本专利技术的目的之一在于提供一种能够提高辐射计检测精度的辐射计温度校准装置。本专利技术的另一个目的在于提供一种结构简单的辐射计温度校准装置。本专利技术的再一个目的在于提供一种结构紧凑且体积小的辐射计温度校准装置。根据本专利技术的一方面,其提供一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,包括:常温校准机构,所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度,用于校准辐射计的初值;和高温校准机构,所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度,用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。根据本专利技术的一个优选实施例,所述常温校准机构包括:可转动的常温校准镂空转筒组件;和第一驱动电机,所述第一驱动电机安装在支架上,用于驱动常温校准镂空转筒组件围绕所述辐射计连续转动。根据本专利技术的另一个优选实施例,所述高温校准机构包括:高温校准半圆板组件;和第二驱动电机,所述第二驱动电机安装在支架上,用 ...
【技术保护点】
一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,包括:常温校准机构,所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度,用于校准辐射计的初值;和高温校准机构,所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度,用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。
【技术特征摘要】
1.一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,包括:常温校准机构,所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度,用于校准辐射计的初值;和高温校准机构,所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度,用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益;所述常温校准机构包括:可转动的常温校准镂空转筒组件(111);和第一驱动电机(118),所述第一驱动电机(118)安装在支架(129)上,用于驱动常温校准镂空转筒组件(111)围绕所述辐射计连续转动;所述高温校准机构包括:高温校准半圆板组件(130);和第二驱动电机(142),所述第二驱动电机(142)安装在支架(129)上,用于驱动高温校准半圆板组件(130)围绕所述辐射计摆动;其中,所述常温校准镂空转筒组件(111)的一端与转轴(116)连接,所述转轴(116)与所述第一驱动电机(118)的输出轴连接;其中,所述高温校准半圆板组件(130)的一端通过扇形支架(137)固定在第一同步齿形带轮(138)上,所述第一同步齿形带轮(138)通过轴承转动地支撑在所述转轴(116)上,所述第一同步齿形带轮(138)通过同步齿形带(140)与第二驱动电机(142)的输出轴上的第二同步齿形带轮(141)相联。2.根据权利要求1所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,其中,所述常温校准镂空转筒组件(111)和所述高温校准半圆板组件(130)绕同一轴线运动。3.根据权利要求2所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,其中,所述支架(129)为U形支架,其具有前壁(129a)和与前壁(129a)相对的后壁(129b)。4.根据权利要求1所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,其中,所述转轴(116)的轴端钻有带键的轴孔,所述第一驱动电机(118)的输出轴插入所述转轴(116)的轴孔中,从而实现两者之间的直接对接。5.根据权利要求4所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,其中,所述支架(129)的前壁(129a)上形成有轴承座(128),所述转轴(116)通过轴承(117)转动地支撑在轴承座(128)的通孔(119)中。6.根据权利要求5所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,其中,所述支架(129)的后壁(129b)上分别形成有:用于安装第一驱动电机(118)的第一电机定位孔(127a);和用于安装第二驱动电机(142)的第二电机定位孔(127b)。7.根据权利要求6所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,其中,所述第一电机定位孔(127a)与所述轴承座(128)的通孔(119)同心。8.根据权利要求7所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,其中,所述常温校准机构还包括温度传感器(120),用于检测所述常温校准镂空转筒组件(111)的温度。9.根据权利要求7所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,其中,所述常温校准机构还包括位置传感器(121),用于检测所述常温校准镂空转筒组件(111)的初始位置。10.根据权利要求9所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置,其中,所述位置传感器(121)为接近开关,并安装在支架(129)上;并且在所述常温校准镂空转筒组件(111)上设置有与所述位置传感器(121)相对应的凸起(119),当所述...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈志强,李元景,赵自然,刘以农,吴万龙,张丽,林东,沈宗俊,罗希雷,郑志敏,桑斌,曹硕,金颖康,
申请(专利权)人:清华大学,同方威视技术股份有限公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。