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本发明公开了一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，包括：常温校准机构，所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度，用于校准辐射计的初值；和高温校准机构，所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。与...
该专利属于清华大学;同方威视技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学;同方威视技术股份有限公司授权不得商用。

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