【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及取样相位校正方法以及使用此取样相位校正方法的储存系统，特别涉 及自储存装置控制器写入数据至储存装置时的取样相位校正方法以及使用此取样相位校 正方法的储存系统。
技术介绍
一般来说，一个SD (Secure Digital)储存装置会包含一 SD卡控制器以及一 SD存 储卡。两者间的主要通信信号有时钟信号(CLK)、命令信号(CMD)和数据信号(DAT)。根 据SD卡的规格，命令信号和数据信号需要在时钟信号(由控制器提供)的同步下发送和接 收。亦即要保证命令信号与数据信号两者与时钟信号间存在一定的相位(Phase)关系，否 则会导致传输不正确，进而造成控制器与SD存储卡通信失败。图1绘示了现有技术中数 据取样的示意图。如图1所示，当接收端的采样点在“10”时的相位是最佳的，而“0”、“1”、 “n-l”、“n”时是最差的并且很可能造成数据取样错误。一般而言，储存装置中会有两个影响数据传输准确度的因素。其中一个是数据传 输速度，当数据传输越快，有效数据采样范围(如图1中的有效数据区域)就越小，也就越 容易造成传输双方取样数据的错误。然而，随着SD存储卡...
【技术保护点】
一种取样相位校正方法，包含：使一储存装置控制器传送一第二命令信号，来读取一储存装置内的一内容；根据所述内容，使所述储存装置控制器传送一第一命令信号及具有一第三取样相位的一第三数据信号给所述储存装置；以及根据所述储存装置相对应所述第一命令信号及所述第三数据信号所响应给所述储存装置控制器的一响应信息，来判断所述储存装置控制器对所述储存装置的数据传输是否有错误，以判断所述第三取样相位是否恰当；其中，所述第二命令信号使用一第二时钟来传送，所述第一命令信号使用一第一时钟来传送，所述第二时钟慢于所述第一时钟。
【技术特征摘要】
1.一种取样相位校正方法,包含 使一储存装置控制器传送一第二命令信号，来读取一储存装置内的一内容； 根据所述内容，使所述储存装置控制器传送一第一命令信号及具有一第三取样相位的一第三数据信号给所述储存装置；以及 根据所述储存装置相对应所述第一命令信号及所述第三数据信号所响应给所述储存装置控制器的一响应信息，来判断所述储存装置控制器对所述储存装置的数据传输是否有错误，以判断所述第三取样相位是否恰当； 其中，所述第二命令信号使用一第二时钟来传送，所述第一命令信号使用一第一时钟来传送，所述第二时钟慢于所述第一时钟。2.根据权利要求1所述的取样相位校正方法，其中，所述响应信息使用一第四时钟来传送，所述第四时钟慢于所述第一时钟。3.根据权利要求1所述的取样相位校正方法，其中，所述储存装置为一SD存储卡，其中，所述第一命令信号为符合SD规范的CMD27命令，所述第二命令信号为符合SD规范的CMD9命令，所述内容储存于一 CSD寄存器中。4.根据权利要求1所述的取样相位校正方法，还包含 使所述储存装置控制器传送一第三命令信号给所述储存装置；以及通过改变所述第三命令信号的高低两位准的时间周期及根据所述储存装置相对应所述第三命令信号对所述储存装置控制器的响应，来选取一命令取样相位； 其中，所述第二命令信号使用所述命令取样相位来传送。5.根据权利要求1所述的取样相位校正方法，还包含 通过改变所述第三数据信号的高低两位准的时间周期及根据所述响应信息，来选取一第三数据取样相位。6.根据权利要求5所述的取样相位校正方法，还包含 若有多个第三取样相位被判断为恰当取样相位，则根据所述恰当取样相位中具有最大连续取样相位的数据取样相位群的中间取样相位来选取所述第三数据取样相位。7.根据权利要求1所述的取样相位校正方法，还包含 使所述储存装置控制器传送一第五命令信号给所述储存装置；以及 经由一命令信号线，所述储存装置响应一响应信息给所述储存装置控制器； 经由一数据线，所述储存装置传送具有一第六取样相位的一第六数据信号给所述储存装置控制器以作为一第六接收数据；以及 根据所述响应信息以及所述第六接收数据来判断所述储存装置控制器是否正确地自所述储存装置接收信号，从而判断所述第六取样相位是否恰当。8.根据权利要求7所述的取样相位校正方法，其中，所述第五命令信号为符合SD规范的ACMD13命令。9.根据权利要求7所述的取样...
【专利技术属性】
技术研发人员：林能贤，蒋国兵，
申请(专利权)人：瑞昱半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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