一种自动相位校正方法技术

本发明专利技术涉及一种自动相位校正方法，首先针对校正好谱图的基线最为平滑的特性，提出了一种新的基于基线连续性的自动校正方法，这种方法可以适应于所有谱图，其适应性非常强但有时不能达到准确的校正效果。为此，在第一步校正后的谱图基础上，利用正峰范围内不存在负数和负峰范围内不存在正数的特性，提出了一种新的基于负值抑制函数的相位校正方法。因此，本发明专利技术具有如下优点：可以适应于没有两个独立的单峰信号的谱图；可以适应于数字分辨率和信噪比较差的谱图；可以适用于存在畸变谱峰的压水实验数据和既存在正峰又存在负峰的DEPT-135谱图；相位校正结果精确，自动相位校正的结果和手动相位校正结果只有0.5?以内的偏差。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种图像处理方法，尤其是涉及。适用于适应于没有两个独立的单峰信号、数字分辨率和信噪比较差的谱图的校正。
技术介绍
理想情况下，分析仪器如核磁共振波谱仪采集到的时域数据经过Rmrier变换得到的会是纯吸收线形谱和纯色散线形谱，但实际上一般得到都是具有相位偏差的谱图数据。造成这种相位偏差的原因有很多，主要有发射机相位和接收机相位不一致引起的零阶相位，发射和接收之间死时间引起的一阶相位。由于纯的吸收线形谱相比于绝对值谱和具有混合相位的谱图有更高的分辨率，所以目前谱图分析都是基于吸收线形谱。而为了得到纯吸收线形谱，必须经过相位校正，所以相位校正是谱图后期处理的一个必须步骤。相位校正过程是指将Rmrier变换后的数据逐点利用如下的公式进行调整，以达到纯吸收线形和纯色散线形R1 = R° * cos(^sin(^ )I1 = R- * sin(^ ) + cos(^)(丄)其中戎=尸M) +尸Μ*丄、η上式中氏和Ii分别表示相位校正后谱图第i个点的实部和虚部，而<和分别代表校正前谱图第i点的实部和虚部。Φ i代表加在第i个点的相位。η表示谱图数据点数。 通常来说，Φ为频率的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘朝阳，鲍庆嘉，陈方，冯继文，
申请(专利权)人：中国科学院武汉物理与数学研究所，
类型：发明
国别省市：