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本发明涉及一种自动相位校正方法，首先针对校正好谱图的基线最为平滑的特性，提出了一种新的基于基线连续性的自动校正方法，这种方法可以适应于所有谱图，其适应性非常强但有时不能达到准确的校正效果。为此，在第一步校正后的谱图基础上，利用正峰范围内不存...
该专利属于中国科学院武汉物理与数学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院武汉物理与数学研究所授权不得商用。

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