非易失性随机访问存储器测试系统及方法技术方案

一种非易失性随机访问存储器测试方法，该方法包括：设置诊断模式的测试参数及压力模式的测试参数；初始化所设置的测试参数以得到诊断模式及压力模式；在诊断模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；在压力模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；生成诊断模式下进行测试的日志文件及压力模式下进行测试的日志文件。本发明专利技术还提供一种非易失性随机访问存储器测试系统。利用本发明专利技术测试人员可以不用停留在测试机台旁边，完全摆脱测试人员手动测试，程序自动侦测对BIOS中NVRAM的读写的开始和结束时间，指定保存文件后，相关的日志文件自动保存，方便测试人员查看。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种。
技术介绍
随着产品的更新换代，主板上搭载的基本输入输出系统(Basic Input andOutput System, BIOS)主要是统一可扩展固件接口(Unified Extensible FirmwareInterface, UEFI) BIOS0储存UEFI BIOS数据的ROM有一块区域为非易失性随机访问存储器(Non-Volatile Random Access Memory,NVRAM),作用在于保存 BIOS SETUP 内的所有设置值，系统正常工作的情况下，由电源系统供给NVRAM需要的工作电压，实时刷新数据，保 证数据不丢失，在系统不加电的情况下，由系统自带的电池供电，以保证此区域的设置值得以保存。目前对NVRAM测试主要通过手动方式进行，第一，频繁进入BIOS SETUP修改相关Option的设置值，然后再进入BIOS SETUP检测修改值是否被保存；其次，就是利用可以读写NVRAM值的工具，保存几个不同的设置，读取几个NVRAM设置值的只读文件，再写入到NVRAM，然后手动重启系统进入BIOS SETUP进行检测以判断相关信息是否被保存。以上的测试存在很大的局限性，第一，所有的操作需要手动完成；第二，需要人工记录进行了多少次NVRAM 100的读写操作，来判定NVRAM的稳定性；第三，使用读写NVRAM的工具无法自动保存测试的结果，无法提供相关数据依据；第四，需要测试人员自己通过反复操作判定是否出现不能保存的问题，这就需要测试人员长时间的呆在测试机台旁，大大浪费了人力，拉长了正常的测试周期；第五，上述技术方法不适合用于产品处在量产阶段的稳定性验证。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种非易失性随机访问存储器测试系统，测试人员可以不用停留在测试机台旁边，完全摆脱测试人员手动测试，程序自动侦测对BIOS中非易失性随机访问存储器的读写的开始和结束时间，指定保存文件后，相关的日志文件自动保存，方便测试人员查看。鉴于以上内容，还有必要提供一种非易失性随机访问存储器测试方法，测试人员可以不用停留在测试机台旁边，完全摆脱测试人员手动测试，程序自动侦测对BIOS中非易失性随机访问存储器的读写的开始和结束时间，指定保存文件后，相关的日志文件自动保存，方便测试人员查看。—种非易失性随机访问存储器测试系统，该系统包括设置模块，用于设置诊断模式的测试参数及压力模式的测试参数；初始化模块，用于初始化所设置的测试参数以得到诊断模式及压力模式；诊断模式测试模块，用于在诊断模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；压力模式测试模块，用于在压力模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；生成模块，用于生成诊断模式下进行测试的日志文件及压力模式下进行测试的日志文件。一种非易失性随机访问存储器测试方法，该方法包括设置诊断模式的测试参数及压力模式的测试参数；初始化所设置的测试参数以得到诊断模式及压力模式；在诊断模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；在压力模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；生成诊断模式下进行测试的日志文件及压力模式下进行测试的日志文件。相较于现有技术，利用所述的，首先，测试人员可以不用停留在测试机台旁边，节省了人力和工时投入；其次，可以完全摆脱测试人员手动测试，程序自动执行；第三，程序自动侦测对BIOS中非易失性随机访问存储器的测试的开始和结束时间；第四，指定保存文件后，相关的日志自动保存，方便测试人员查看。附图说明 图I是本专利技术非易失性随机访问存储器测试系统较佳实施例的应用环境图。图2是本专利技术图I中非易失性随机访问存储器测试系统较佳实施例的功能模块图。图3是本专利技术非易失性随机访问存储器测试方法较佳实施例的流程图。图4是图3中步骤S30的具体作业流程图，即在诊断模式下对BIOS中的NVRAM进行测试的细化流程图。图5是图3中步骤S40的具体作业流程图，即在压力模式下对BIOS中的NVRAM进行测试的细化流程图。主要元件符号说明主板IBIOS10~NVRAM100计算机2^非易失性随机访问存储器测试系统20~存储器22~设置模块2I0-初始化模块220~诊断模式测试模块230压力模式测试模块240生成模块250如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施例方式如图I所示，是本专利技术非易失性随机访问存储器测试系统较佳实施例的应用环境图。其中，该非易失性随机访问存储器测试系统20运行在计算机2上，该计算机2包括存储器22，该存储器22上存储有一个或一个以上的只读文件，所述只读文件包含有基本输入输出系统(basic input and output system, BIOS) 10 (以下简称为 BI0S10)的设置(SETTING)信息。该计算机2与BIOS 10的主板I相连接， 以便将存储器22保存的只读文件中的信息写到BIOS 10中。在本较佳实施例中，所述计算机2将只读文件中的信息写到BIOS 10的非易失性随机访问存储器(Non-Volatile Random Access Memory, NVRAM) 100 (以下简称为NVRAM 100)中，再从NVRAM 100读取信息，通过判断读取的信息与写入的信息是否一致，来测试NVRAM 100的性能。所述BIOS 10为统一可扩展固件接口(Unified ExtensibleFirmware Interface, UEFI)BIOS0所述非易失性随机访问存储器测试系统20的功能将在图2及图3中做详细描述。此外，所述主板I上还包括主板I在启动过程中所用到的必备部件,例如，CPU、内存(图中未标示)等，所述必备部件使该主板I能够正常运行。如图2所示，是本专利技术图I中非易失性随机访问存储器测试系统20较佳实施例的功能模块图。该非易失性随机访问存储器测试系统20包括设置模块210、初始化模块220、诊断模式测试模块230、压力模式测试模块240及生成模块250。本专利技术所称的模块是完成一特定功能的计算机程序段，比程序更适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此在本专利技术以下对软件描述中都以模块描述。所述设置模块210用于设置诊断模式(Diagnose Mode)的测试参数及压力模式(Stress Mode)的测试参数。所述诊断模式的测试参数包括BIOS 10的版本号、关键字、延迟时间、开始时间、结束时间及测试结束后所生成的日志文件保存路径信息。所述压力模式的测试参数包括BIOS 10的版本号、关键字、延迟时间、测试总次数及测试结束后所生成的日志文件保存路径信息。其中，若用户通过所述诊断模式对NVRAM 100进行测试，只要出现一次读写操作出错，则测试结束。所述关键字是指一个固定位置的字段或者数值，该关键字用于判断写入到NVRAM 100的信息与从NVRAM 100读取的信息是否一致。具体而言，用户先将信息写入到NVRAM 100中，再从NVRAM 100中读取信息，通过关键字进行比较，以判断写入到NVRAM 100的固定位置的字段(或者数值)与从NVRAM 100读取的该固定位置的字段(或者数值)是否一致，从而判断NVRAM 100的性能。所述延迟时间是指相邻两次对NVRAM 10本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非易失性随机访问存储器测试方法，其特征在于，该方法包括：设置诊断模式的测试参数及压力模式的测试参数；初始化所设置的测试参数以得到诊断模式及压力模式；在诊断模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；在压力模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；及生成诊断模式下进行测试的日志文件及压力模式下进行测试的日志文件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李明，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：